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公开(公告)号：CN113381779B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202110662180.X
申请日：2021-06-15
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种超宽带接收机，包括：射频巴伦，将单端射频信号转换为差分射频信号；超宽带变频组件，基于预设频段的本振信号对差分射频信号进行变频并输出差分中频信号；中频巴伦，连接于超宽带变频组件的输出端，将差分中频信号转化为单端中频信号；中频信号处理模块，连接于中频巴伦的输出端，对单端中频信号进行信号处理。本发明可以有效的减小跨频段宽带接收机的体积，减小了搭建宽带接收机的设备量，减小宽带接收机的链路损耗以及功耗，且通过自动增益补偿的形式，大大提高了长期工作时的功率稳定度，从而具备了直接用于系统集成的特点，有效克服了现有技术的缺点。
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公开(公告)号：CN102323531A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110139533.4
申请日：2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种毫米波功率放大器的参数自动测试方法与测试系统，该系统包括：待测件毫米波激励信号功率控制单元与待测件毫米波激励信号发生单元相连，待测件毫米波激励信号检测单元与待测件毫米波激励信号功率控制单元相连，待测件的输入端与待测件毫米波激励信号检测单元相连，输出端与待测件输出信号检测单元相连；待测件直流信号供给单元与待测件相连，测试系统控制单元分别与待测件毫米波激励信号发生单元、待测件毫米波激励信号检测单元、待测件直流信号供给单元、和待测件输出信号检测单元控制相连。本发明实现了多个毫米波功率参数自动测试，克服了测试设备缺乏的困难，避免了手工测试效率低、精确度低、不确定因素多等缺点。
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公开(公告)号：CN102307070A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201110139551.2
申请日：2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法，该方法包括：初始化毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统；校准毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统，完成无待测件情况下的空间传输特性测试，获得校准状态下的测试信息；完成有待测件情况下的传输特性测试，获得测试状态下的测试信息；获得发射端与接收端在每一个频率值下对应的功率信息；将测试状态下获得的功率信息减去校准状态下获得的功率信息，显示出待测件传输特性的测试曲线。本发明实现了76GHz～77GHz传输特性参数的自动测试，克服了毫米波测试手段与测试设备缺乏的困难，避免了测试设备成本昂贵，体积庞大，不易实现自动控制等缺点。
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公开(公告)号：CN113358946A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110667258.7
申请日：2021-06-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法，包括：N倍频器，输出毫米波太赫兹信号；毫米波/太赫兹双定向耦合器，耦合输出参考信号及测试信号；第一毫米波/太赫兹谐波混频器，对参考信号下变频为中频参考信号；第二毫米波/太赫兹谐波混频器，对测试信号下变频为中频测试信号；毫米波/太赫兹定向耦合器，耦合输出噪声功率；M倍频器；毫米波/太赫兹二次谐波混频器，将噪声功率下变频为中频噪声信号；射频/微波开关，切换测试通道。本发明解决了毫米波/太赫兹频段放大器芯片单次连接同时测量噪声系数和S参数的难题，并将测试参考面校准至探针尖处，真正实现了单次连接，单次校准，测试精度高。
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公开(公告)号：CN112530825A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011348038.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明提供一种在片多参数测量装置，包括：毫米波测试系统；合路器，两个输入端分别连接毫米波测试系统的两个测试输出端，将多频段的测试信号施加至探针台；探针台；BDC组件，射频输入端连接探针台的输出端，射频输出端连接毫米波测试系统的测试输入端，噪声输出端连接所述毫米波测试系统的噪声输入端，通过开关切换使实现在片多参数测量。本发明适用于高达110GHz的晶圆级电性能参数的测试；减小由测试连接线缆等造成的测试误差；采用开关切换的方法提升了测试测量的执行效率，保证BDC组件的组成器件不受损坏；同时支持常温测试以及高低温测试；同时支持无源参数测试以及有源参数测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102307070B
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201110139551.2
申请日：2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法，该方法包括：初始化毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统；校准毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统，完成无待测件情况下的空间传输特性测试，获得校准状态下的测试信息；完成有待测件情况下的传输特性测试，获得测试状态下的测试信息；获得发射端与接收端在每一个频率值下对应的功率信息；将测试状态下获得的功率信息减去校准状态下获得的功率信息，显示出待测件传输特性的测试曲线。本发明实现了76GHz～77GHz传输特性参数的自动测试，克服了毫米波测试手段与测试设备缺乏的困难，避免了测试设备成本昂贵，体积庞大，不易实现自动控制等缺点。
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公开(公告)号：CN102324929A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110103138.0
申请日：2011-04-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03L7/18
Abstract: 本发明涉及一种用于毫米波全息成像系统前端的跳频频率合成器。它由多路锁相环回路，单刀多掷开关，倍频器和单片机组成。单片机控制多路锁相环回路的跳频及单刀多掷开关的打开或关闭。所述的多路锁相环路包括N个单路锁相环回路，N路数越多则整个跳频源的频率转换时间越短，N路锁相环回路的跳频时间缩短为单路环回路跳频时间的N分之一。所述单路锁相环回路包括：晶体振荡器、鉴频鉴相器、滤波器、压控振荡器和功分器，其中，鉴频鉴相器输入与晶体振荡器和从压控振荡器提供的反馈信号相连，输出与滤波器相连，所述功分器让所述压控振荡器的输出分为两路，一路输出到所述单刀多掷开关，另一路反馈到鉴频鉴相器本发明跳频频率合成器输出24GHz-36GHz的宽频带毫米波信号。
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公开(公告)号：CN113358946B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202110667258.7
申请日：2021-06-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法，包括：N倍频器，输出毫米波太赫兹信号；毫米波/太赫兹双定向耦合器，耦合输出参考信号及测试信号；第一毫米波/太赫兹谐波混频器，对参考信号下变频为中频参考信号；第二毫米波/太赫兹谐波混频器，对测试信号下变频为中频测试信号；毫米波/太赫兹定向耦合器，耦合输出噪声功率；M倍频器；毫米波/太赫兹二次谐波混频器，将噪声功率下变频为中频噪声信号；射频/微波开关，切换测试通道。本发明解决了毫米波/太赫兹频段放大器芯片单次连接同时测量噪声系数和S参数的难题，并将测试参考面校准至探针尖处，真正实现了单次连接，单次校准，测试精度高。
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公开(公告)号：CN112636843A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011520529.8
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块及在片测试系统，包括：微波开关，将激励信号发送至第一或第二倍频器；放大器，对第二倍频信号进行放大；定向耦合器，将信号传输至双定向耦合器；双定向耦合器，将定向耦合器的输出信号的一部分直通输出，另一部分耦合输出作为参考信号，并将测试件的反馈信号通过另一耦合支路耦合输出；衰减器，对第一倍频信号进行衰减得到线性参数，将第二倍频信号直接输出得到非线性参数；第一混频器，产生参考中频信号；第二混频器，产生测试中频信号。本发明采用微波开关切换的方式获得小信号和大信号，同时设置在片高低温探针台，进而在高低温环境下完成毫米波太赫兹放大器芯片的线性和非线性参数幅相误差校准及连续频率扫描测试。
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公开(公告)号：CN112530825B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202011348038.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明提供一种在片多参数测量装置，包括：毫米波测试系统；合路器，两个输入端分别连接毫米波测试系统的两个测试输出端，将多频段的测试信号施加至探针台；探针台；BDC组件，射频输入端连接探针台的输出端，射频输出端连接毫米波测试系统的测试输入端，噪声输出端连接所述毫米波测试系统的噪声输入端，通过开关切换使实现在片多参数测量。本发明适用于高达110GHz的晶圆级电性能参数的测试；减小由测试连接线缆等造成的测试误差；采用开关切换的方法提升了测试测量的执行效率，保证BDC组件的组成器件不受损坏；同时支持常温测试以及高低温测试；同时支持无源参数测试以及有源参数测试。
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