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公开(公告)号：CN114941988A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210618809.5
申请日：2022-06-01
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种用于校准三维光学测量系统的便携式球杆组合装置，包括支撑结构、多个第二夹具和多个校准球杆；支撑结构为三角支撑，包括支架以及安装在支架顶部的第一夹具，其中一校准球杆竖直安装在第一夹具内，其沿长度方向设置有多个第二夹具，剩余的校准球杆通过第二夹具安装在竖直安装的校准球杆上。本发明的便携式球杆组合装置装拆方便，可以提高便携式球杆组合装置的安装效率；并且将其中一校准球杆作为其余校准球杆的支撑，可以提供不同距离的校准尺寸，增加了校准的灵活性，测量光线不受遮挡，提高了测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN114370817A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202210033918.0
申请日：2022-01-12
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于校准球杆仪的装置及方法，能够减小了测量误差，提高校准的数据样本空间量，实现多种不同长度球杆仪的精确校准。该装置包括：基准平台，以及在基准平台顶面沿着第一方向依次设置的激光干涉仪、第一镜组、导轨、移动平台、第二镜组、控制箱、第一安装组、第二安装组；第一镜组和第二安装组在第一方向上相对于基准平台固定设置；第二镜组和第一安装组在第一方向上相对于移动平台固定设置；第一镜组、第二镜组、第一安装组和第二安装组均设置为可以沿着第二方向移动并在移动到设定位置后固定，以使得第一安装杯、第二安装杯、第一镜组的分光镜、以及第二镜组的反射镜位于激光干涉仪发出激光的同一直线光路上。
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公开(公告)号：CN114815012B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202210618816.5
申请日：2022-06-01
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于数字微透镜器件的多聚焦透镜阵列制作方法，涉及光刻技术领域；制作过程包括以下步骤，步骤一：准备制作多聚焦透镜阵列的灰度图，并将灰度图写入到DMD中；步骤二：根据写入到DMD中的多聚焦透镜阵列灰度图，对硅片曝光，将多聚焦透镜阵列写入到硅片上，并且将曝光后的光刻胶显影；步骤三：将写入到硅片上的微透镜阵列烘烤定型；步骤四：采用PDMS膜在硅片上倒模；步骤五：将倒模后的多聚焦透镜阵列烘烤成型；步骤六：对制作的多聚焦透镜阵列进行光学分析，判断其是否合格。本发明的多聚焦透镜阵列制作方法的制作工艺简单、效率高、成本低，采用数字编码灰度掩膜，避免了掩膜的对准误差，提高了多聚焦透镜阵列的
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公开(公告)号：CN115406831A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202211048385.X
申请日：2022-08-30
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种快速结构光数字全息测量系统及方法，涉及微纳检测技术领域；本发明采用经过偏振调制的结构光照射待测物体后成为物光，物光与参考光合束后入射到偏振分光元件中，经偏振分光元件后形成多幅结构光数字全息图，结构光数字全息图由光电探测器采集，光电探测器单次曝光就可实现两幅带有固定相移的结构光全息图的同步采集；本发明的测量方法在测量过程中引入了空间相移，消除了时间相移步骤，使整体采集效率提升一倍，提高了测量的实时性。
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公开(公告)号：CN108051236A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201810092675.1
申请日：2018-01-31
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开一种大长度基线，包括地基、导轨平台和直线导轨，若干个导轨平台沿直线拼接并通过设置在导轨平台底部的升降支撑安装在地基上，导轨平台在其拼接方向的左右侧壁上设置了凸起的定位块，地基上在导轨平台拼接方向的左右侧设置了定位板，定位板上开设了供定位块插入的定位槽，在定位槽的沿导轨平台拼接方向的两侧壁、竖直方向的顶侧壁以及沿横向并垂直于导轨平台拼接方向的壁面上开设了定位螺孔，若干根直线导轨沿着导轨平台的拼接方向拼接铺设在导轨平台的顶面。本发明采用导轨系统取代传统的观察墩，有效提高测量效率，可实现全程自动化测量，降低测量过程劳动强度，通过干涉仪测定标准值，有效提高检定、校准的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115127480B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202210410243.7
申请日：2022-04-19
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种空间相移的结构光超分辨成像系统及方法，该系统通过将两束偏振方向相互正交的线偏振光束相干叠加，形成结构光照明待测物体，结构光被非偏振分光棱镜分光后，通过不同角度的第一偏振片、第二偏振片和第三偏振片分别被对应的第一图像传感器、第二图像传感器和第三图像传感器接收；该系统利用相干光的偏振特性产生空间相移，通过三个图像传感器同时采集到三幅图像信息，极大地压缩了系统图像采集的时间，为提升结构光超分辨系统的成像效率和处理速度提供了新的解决思路。
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公开(公告)号：CN117392371A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311298460.2
申请日：2023-10-09
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种轨底坡检测方法及检测系统，涉及轨底坡检测技术领域，依据降雨量的不同，在电子地图上将轨道区域分割为若干个监测区域；在监测区域内设置若干个监测点，在获取监测结果后建立轨道安全信息集，生成轨道风险系数，将对应的监测区域标记为风险区域；结合位置信息规划出巡检路径，对检测点处进行检测，以检测结果建立坡面风险系数，依据坡面风险系数的值判断风险区域是否高危；若坡面风险系数及其预测值均超过第二风险阈值，依据坡面风险系数与轨道风险系数，获取坡面安全系数，选择治理方案并输出。对部分被标记的高危区域的安全性进行评价，选择对应的治理方案，在有限的条件下，优先的对其进行治理和改善。
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公开(公告)号：CN114815012A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210618816.5
申请日：2022-06-01
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于数字微透镜器件的多聚焦透镜阵列制作方法，涉及光刻技术领域；制作过程包括以下步骤，步骤一：准备制作多聚焦透镜阵列的灰度图，并将灰度图写入到DMD中；步骤二：根据写入到DMD中的多聚焦透镜阵列灰度图，对硅片曝光，将多聚焦透镜阵列写入到硅片上，并且将曝光后的光刻胶显影；步骤三：将写入到硅片上的微透镜阵列烘烤定型；步骤四：采用PDMS膜在硅片上倒模；步骤五：将倒模后的多聚焦透镜阵列烘烤成型；步骤六：对制作的多聚焦透镜阵列进行光学分析，判断其是否合格。本发明的多聚焦透镜阵列制作方法的制作工艺简单、效率高、成本低，采用数字编码灰度掩膜，避免了掩膜的对准误差，提高了多聚焦透镜阵列的制作质量。
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公开(公告)号：CN114623784A
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202210270915.9
申请日：2022-03-18
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于大长度导轨直线度测量的方法和系统，涉及几何误差测量技术领域。测量系统包括导轨、固定台架、运动平台、第一激光干涉仪、第一干涉镜组、第一反射镜组、第二激光干涉仪、第二干涉镜组和第二反射镜组，第一干涉镜组设置在第一激光干涉仪和第一反射镜组之间，第二干涉镜组设置在第二激光干涉仪和第二反射镜组之间，第一反射镜组和第二反射镜组设置在运动平台上，第一激光干涉仪和第二激光干涉仪设置在固定台架上；通过沿导轨长度方向移动运动平台，即可测得反射镜组移动的位移，从而测得导轨的直线度。采用本发明的测量方法测量可同时测量导轨x、y或x、z方向的位移，简化了测量步骤，减小了测量误差。
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公开(公告)号：CN108051236B
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201810092675.1
申请日：2018-01-31
Applicant: 中国测试技术研究院机械研究所
Abstract: 本发明公开一种大长度基线，包括地基、导轨平台和直线导轨，若干个导轨平台沿直线拼接并通过设置在导轨平台底部的升降支撑安装在地基上，导轨平台在其拼接方向的左右侧壁上设置了凸起的定位块，地基上在导轨平台拼接方向的左右侧设置了定位板，定位板上开设了供定位块插入的定位槽，在定位槽的沿导轨平台拼接方向的两侧壁、竖直方向的顶侧壁以及沿横向并垂直于导轨平台拼接方向的壁面上开设了定位螺孔，若干根直线导轨沿着导轨平台的拼接方向拼接铺设在导轨平台的顶面。本发明采用导轨系统取代传统的观察墩，有效提高测量效率，可实现全程自动化测量，降低测量过程劳动强度，通过干涉仪测定标准值，有效提高检定、校准的精度。
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