一种二维柱面整形系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115718371A

    公开(公告)日:2023-02-28

    申请号:CN202211423228.2

    申请日:2022-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种二维柱面整形系统,包括Y方向扩束单元和X方向缩束单元,所述Y方向扩束单元包括若干平凹柱面镜和/或平凸柱面镜,所述X方向缩束单元包括若干平凹柱面镜和/或平凸柱面镜;所述Y方向扩束单元和X方向缩束单元基于各方向的扩束倍率或缩束倍率以及二维柱面整形系统的相差指标完成Y方向扩束单元和X方向缩束单元内各镜体的曲率半径、厚度及光学间隔设置;所述X方向缩束单元嵌套于Y方向扩束单元各镜体间,完成输入平行光束Y方向的扩束及X方向的缩束;或者完成输入平行光束X方向的扩束及Y方向的缩束。通过本二维柱面整形系统的结构设置,完成了平型光又扩又缩的整形目的。

    一种对开式连续变密度衰减器装置及其工作方法

    公开(公告)号:CN113741024A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202110916198.8

    申请日:2021-08-11

    Abstract: 本发明提供一种对开式连续变密度衰减器装置及其工作方法,所述装置包括:基础框架、线性导轨一、线性导轨二、衰减镜及镜框一、衰减镜及镜框二、齿条一、齿条二、输入齿轮、输出齿轮和电机;线性导轨一和线性导轨二与基础框架下部分固定连接;衰减镜及镜框一和衰减镜及镜框二中设有矩形衰减片并且衰减镜及镜框一和衰减镜及镜框二的下端分别与线性导轨一和线性导轨二滑移连接;齿条一和齿条二分别与衰减镜及镜框一和衰减镜及镜框二的上端固定连接;输入齿轮的轴心与电机的转轴固定连接,并与输出齿轮的上端齿面啮合;输出齿轮的下端齿面分别与齿条一和齿条二啮合。本发明在衰减过程不引入额外转动惯量,并具备高可靠性、低成本、集成化程度等优势。

    一种光纤端棒输出光束位置测试装置

    公开(公告)号:CN110686866A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201910999713.6

    申请日:2019-10-21

    Abstract: 本发明公开了一种光纤端棒输出光束位置测试装置,所述测试装置至少包括光纤激光器、光纤端棒、LED白光台灯和光纤端棒测试平台,其中,所述光纤端棒测试平台包括平台底座以及设置于所述平台底座上的端棒夹持器、散射屏和相机;所述光纤端棒与所述光纤激光器的尾纤熔接,且所述光纤端棒固定于所述端棒夹持器之上;所述LED白光台灯设置于所述光纤端棒测试平台侧方;所述相机置于所述光纤端棒前表面的前方;所述散射屏置于所述光纤端棒与所述相机之间。通过本发明装置结构设计,使得测试人员能够准确快速测得输出光束与端棒前表面的中心偏差,从而对光纤端棒的熔接效果进行判定,筛选不良产品。

    一种多路光纤激光高占空比一维拼接装置及方法

    公开(公告)号:CN109346909A

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201811413928.7

    申请日:2018-11-26

    Abstract: 本发明公开了一种多路光纤激光高占空比一维拼接装置及方法,所述装置包括:底板,后面板,前面板,调节装置以及封装外壳;所述后面板上设置有多个光纤出口;所述前面板上设有出光口;每个所述光纤出口间隔相同,且中心高度与所述出光口的中心高度相同;所述调节装置上安装有多个准直光学元件;所述准直光学元件包括:尾纤和准直端;所述尾纤远离准直端的一端穿过所述光纤出口;所述准直端远离尾纤的一端的端面正对所述出光口;所述调节装置用于调节所述准直光学元件的空间位置,使所述准直端的中心轴与所述出光口和光纤出口的中心高度一致,且每个所述准直端的端面间隔相同。本发明通过将准直光学元件进行整齐排列,可以实现多路光的组束输出。

    一种大跨距收发轴校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN116719015A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202310583287.4

    申请日:2023-05-23

    Abstract: 本发明公开了一种大跨距收发轴校准装置及校准方法,涉及光电探测技术领域,对多孔径光电探测系统进行轴系校准,包括远场消色差物镜组、分光棱镜、远场探测器、小孔光阑、聚焦透镜、卤钨灯和角锥线阵,所述远场消色差物镜组、分光棱镜、小孔光阑、聚焦透镜、卤钨灯组成对外发射单元,产生探测光束,为待校准多孔径光电探测系统中的探测所需的模拟目标;远场消色差物镜组、分光棱镜、远场探测器组成对外接收单元,对待校准多孔径光电探测系统中的发射光轴进行探测。本发明可实现对大跨距多孔径光电探测系统各探测或发射单元的轴系校准,满足光电探测系统各类现场轴系校准的需要。

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