无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置

    公开(公告)号:CN113740366B

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202010459120.3

    申请日:2020-05-27

    Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置,方法步骤包括:采用透射的短波长特征X射线衍射,无损测定样品内部某一方向(h1k1l1)晶面的晶体取向角(ϑ1,κ)1 ,并判定该样品晶面取向角是否超差;在该晶面的(ϑ1,κ1)方向上,平移样品扫描测量被测样品各部位的(h1k1l)1 晶面衍射强度及其分布,根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明,解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。(56)对比文件EP 1865095 A2,2007.12.12US 6600538 B1,2003.07.29郑林 等,.短波长X 射线衍射技术及在环境工程中的应用展望《.装备环境工程》.2017,第14卷(第6期),第43-48页.李红军 等,.铝酸钇晶体中的生长小面《.硅酸盐学报》.2008,第36卷(第5期),第672-677页.Pengfei Ji et,.Comparison of residualstress determination using differentcrystal planes by short-wavelength X-raydiffraction in a friction-stir-weldedaluminum alloy plate《.J Mater Sci》.2017,第2017卷第12834–12847页.

    一种基于图像识别的金属腐蚀损伤定量评价方法

    公开(公告)号:CN113298766A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110547289.9

    申请日:2021-05-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像识别的金属腐蚀损伤定量评价方法,其包括步骤有:采集金属所在载体的腐蚀图像;获取腐蚀图像中包括损伤类型A、损伤面积B、损伤程度C的图像特征并数字化;利用BP神经网络及数据统计反向分析对该损伤类型A、损伤面积B、损伤程度C进行分析,得出腐蚀损伤对力学性能影响D并数字化;以损伤类型A、损伤面积B、损伤程度C、腐蚀损伤对力学性能影响D作为评价指标,采用专家咨询法获取每个评价指标的权重值ωA、ωB、ωC、ωD,根据公式W=AωA+BωB+CωC+DωD计算金属腐蚀损伤综合量值W,确定金属损伤综合等级。根据图像识别对不同腐蚀损伤进行综合评估,能有效帮助工程人员确定设备或产品的健康状态,消除检测结果的人为误差和降低检测人员的工作强度。

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