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公开(公告)号：CN111380880A
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201811621809.0
申请日：2018-12-28
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明公开了一种衍射装置和无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法，装置包括X射线照射系统，其对被测样品的测量部位照射X射线；X射线探测系统，其同时对X射线由被测样品的多个部位衍射而形成的多条衍射X射线进行探测，来测量被测样品的X射线衍射强度分布；探测的X射线为短波长特征X射线；X射线探测系统为阵列探测系统；方法步骤包括：选短波长特征X射线，对待测样品进行织构分析，确定待测衍射矢量Q；获取被测样品相应部位的X射线衍射强度。本发明可以快速无损地检测厘米级厚度工件在其整个厚度方向的内部晶体取向均匀性，可以在生产线上实现厘米级厚度工件在其运动轨迹的整个厚度方向的内部晶体取向均匀性的在线检测与表征。
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公开(公告)号：CN109374659A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811546826.2
申请日：2018-12-18
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008 , G01N23/20025
CPC classification number: G01N23/20 , G01N23/20008 , G01N23/20025
Abstract: 本发明提供了一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，步骤包括：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；选取测试样品某一测试部位作为基准点；采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS、Z轴坐标ZS和X轴坐标XS；很据坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系，计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标，通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标，从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。本发明解决了单层平板样品、空心等壁厚样品、空心不等壁厚样品内部测试部位的定位问题，能够实现对各种测试样品测试部位的精确定位。
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公开(公告)号：CN113176285A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110441350.1
申请日：2021-04-23
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/207 , G01L5/00
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，X射线源和探测器分布在样品的两侧，光路为透射式，在测量时，通过转动欧拉环以改变Ψ角，测试不同Ψ角下的衍射角2θ，通过拟合衍射角2θ‑sin2Ψ值计算得到测试样品内部的残余应力，测试时试样转动平面与探测器转动平面相互垂直。
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公开(公告)号：CN109540940A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811487680.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种准直器快速更换装置，包括用于位置可调的设于短波长X射线衍射仪器设备的调节基座和若干个用于与调节基座可拆卸连接的准直器，调节基座设有用于定位准直器的定位部，准直器设有用于与定位部配合定位的待定位部和用于使X射线穿过的通孔，各准直器的待定位部和通孔之间具有相同的相对位置。相比于现有技术采用具有调节结构的准直器整体，每次更换时均需再次重新调整更换后的准直器整体的光路，该准直器快速更换装置能够节省大量的准直器更换时所耗费的时间，可实现准直器的快速准确更换，给准直器的更换带来诸多便利。本发明还公开了一种包括上述准直器快速更换装置的短波长X射线衍射仪器设备。
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公开(公告)号：CN113310611A
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202110784497.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109540940B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201811487680.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20008 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种准直器快速更换装置，包括用于位置可调的设于短波长X射线衍射仪器设备的调节基座和若干个用于与调节基座可拆卸连接的准直器，调节基座设有用于定位准直器的定位部，准直器设有用于与定位部配合定位的待定位部和用于使X射线穿过的通孔，各准直器的待定位部和通孔之间具有相同的相对位置。相比于现有技术采用具有调节结构的准直器整体，每次更换时均需再次重新调整更换后的准直器整体的光路，该准直器快速更换装置能够节省大量的准直器更换时所耗费的时间，可实现准直器的快速准确更换，给准直器的更换带来诸多便利。本发明还公开了一种包括上述准直器快速更换装置的短波长X射线衍射仪器设备。
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公开(公告)号：CN113310611B
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202110784497.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN109374659B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201811546826.2
申请日：2018-12-18
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/207 , G01N23/20008 , G01N23/20025
Abstract: 本发明提供了一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法，步骤包括：将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上；选取测试样品某一测试部位作为基准点；采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS、Z轴坐标ZS和X轴坐标XS；很据坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系，计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标，通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标，从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。本发明解决了单层平板样品、空心等壁厚样品、空心不等壁厚样品内部测试部位的定位问题，能够实现对各种测试样品测试部位的精确定位。
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公开(公告)号：CN113176285B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202110441350.1
申请日：2021-04-23
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/207 , G01L5/00
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，X射线源和探测器分布在样品的两侧，光路为透射式，在测量时，通过转动欧拉环以改变Ψ角，测试不同Ψ角下的衍射角2θ，通过拟合衍射角2θ‑sin2Ψ值计算得到测试样品内部的残余应力，测试时试样转动平面与探测器转动平面相互垂直。(56)对比文件肖勇;郑林;窦世涛;何长光;彭正坤;张津;张鹏程;计鹏飞.短波长特征X射线衍射法无损测定孔挤压强化A100钢内部径向残余应力分布.理化检验(物理分册).2016,(08),第548-566页.
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公开(公告)号：CN111380880B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201811621809.0
申请日：2018-12-28
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明公开了一种衍射装置和无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法，装置包括X射线照射系统，其对被测样品的测量部位照射X射线；X射线探测系统，其同时对X射线由被测样品的多个部位衍射而形成的多条衍射X射线进行探测，来测量被测样品的X射线衍射强度分布；探测的X射线为短波长特征X射线；X射线探测系统为阵列探测系统；方法步骤包括：选短波长特征X射线，对待测样品进行织构分析，确定待测衍射矢量Q；获取被测样品相应部位的X射线衍射强度。本发明可以快速无损地检测厘米级厚度工件在其整个厚度方向的内部晶体取向均匀性，可以在生产线上实现厘米级厚度工件在其运动轨迹的整个厚度方向的内部晶体取向均匀性的在线检测与表征。
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