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公开(公告)号：CN113176285B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202110441350.1
申请日：2021-04-23
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/207 , G01L5/00
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，X射线源和探测器分布在样品的两侧，光路为透射式，在测量时，通过转动欧拉环以改变Ψ角，测试不同Ψ角下的衍射角2θ，通过拟合衍射角2θ‑sin2Ψ值计算得到测试样品内部的残余应力，测试时试样转动平面与探测器转动平面相互垂直。(56)对比文件肖勇;郑林;窦世涛;何长光;彭正坤;张津;张鹏程;计鹏飞.短波长特征X射线衍射法无损测定孔挤压强化A100钢内部径向残余应力分布.理化检验(物理分册).2016,(08),第548-566页.
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公开(公告)号：CN113310611B
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202110784497.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN114247762B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202111642017.3
申请日：2021-12-30
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供了基于预拉伸铝板内部织构分布均匀性的板框件精加工方法，解决现有多晶材料板框件加工废品率高、成本高的问题。该方法主要通过无损检测待加工预拉伸铝板不同部位的内部织构及其分布、标识引起变形超差的风险区域、设计多个加工包络面加工路径、按切削规划的不同加工路径和顺序切削板材后测量、对比得出其中最小变形量及其加工路径、评价是否变形超差等步骤，实现优化切削加工工艺。采用测试+理论分析+实测加工变形量的方法，用于上述难题的解决，可以极大地降低人工、财力、时间等试错成本，具有良好的经济效益。
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公开(公告)号：CN115598157B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202110709363.2
申请日：2021-06-25
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。
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公开(公告)号：CN115598157A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110709363.2
申请日：2021-06-25
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所(CN)
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113740366A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202010459120.3
申请日：2020-05-27
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置，方法步骤包括：采用透射的短波长特征X射线衍射，无损测定样品内部某一方向（h1k1l1）晶面的晶体取向角（ϑ1，κ1），并判定该样品晶面取向角是否超差；在该晶面的（ϑ1，κ1）方向上，平移样品扫描测量被测样品各部位的（h1k1l1）晶面衍射强度及其分布，根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明，解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。
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公开(公告)号：CN113310611A
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202110784497.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN114186729A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111482518.X
申请日：2021-12-07
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于内部残余应力无损测定的多晶材料板框件精加工方法，解决现有多晶材料板框件加工中存在的变形超差难题。该方法主要通过无损检测待加工金属板材内部不同部位的残余应力及其分布、标识引起变形超差的残余应力风险区、设计加工包络面、以计算所得最小变形量的包络面切削规划加工路径和顺序切削板材、测量评价是否变形超差等步骤，实现优化切削加工工艺。采用测试+理论分析+实测加工变形量的方法，用于上述难题的解决，可以极大地降低人工、财力、时间等方面的成本，具有良好的经济效益。
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公开(公告)号：CN113740366B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202010459120.3
申请日：2020-05-27
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置，方法步骤包括：采用透射的短波长特征X射线衍射，无损测定样品内部某一方向（h1k1l1）晶面的晶体取向角（ϑ1，κ）1 ，并判定该样品晶面取向角是否超差；在该晶面的（ϑ1，κ1）方向上，平移样品扫描测量被测样品各部位的（h1k1l）1 晶面衍射强度及其分布，根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明，解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。(56)对比文件EP 1865095 A2,2007.12.12US 6600538 B1,2003.07.29郑林 等，.短波长X 射线衍射技术及在环境工程中的应用展望《.装备环境工程》.2017,第14卷(第6期),第43-48页.李红军 等，.铝酸钇晶体中的生长小面《.硅酸盐学报》.2008,第36卷(第5期),第672-677页.Pengfei Ji et，.Comparison of residualstress determination using differentcrystal planes by short-wavelength X-raydiffraction in a friction-stir-weldedaluminum alloy plate《.J Mater Sci》.2017,第2017卷第12834–12847页.
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公开(公告)号：CN115524350A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202110709697.X
申请日：2021-06-25
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明公开了一种用于衍射测量装置的接收准直器，包括准直器本体和设置在准直器本体上的通光孔和定位孔，通光孔具有相对于准直器本体轴线斜向布置的内轮廓和外轮廓，由内轮廓和外轮廓共同围合成呈锥台形结构的衍射光子通道或衍射线通道；定位孔是内含了X射线及其X射线吸收器，是入射光子通道或入射线通道。采用带有本发明接收准直器的衍射装置能够实现样品内部的一个部位物质衍射的多方向同时成像，实现样品内部的一个部位物质衍射的德拜环或衍射花样的同时成像，能够基于同时成像的德拜环或衍射花样进行样品的一个部位物质的物相、织构、应力等的快速无损检测分析。
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