公开(公告)号：CN115598157A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202110709363.2

申请日：2021-06-25

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所(CN)

Inventor： 郑林 ,  窦世涛 ,  陈新 ,  张伦武 ,  张津 ,  伍太宾 ,  车路长 ,  王成章 ,  周堃 ,  赵方超 ,  何长光 ,  封先河

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。