衍射装置及无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法

    公开(公告)号:CN111380880B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201811621809.0

    申请日:2018-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种衍射装置和无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法,装置包括X射线照射系统,其对被测样品的测量部位照射X射线;X射线探测系统,其同时对X射线由被测样品的多个部位衍射而形成的多条衍射X射线进行探测,来测量被测样品的X射线衍射强度分布;探测的X射线为短波长特征X射线;X射线探测系统为阵列探测系统;方法步骤包括:选短波长特征X射线,对待测样品进行织构分析,确定待测衍射矢量Q;获取被测样品相应部位的X射线衍射强度。本发明可以快速无损地检测厘米级厚度工件在其整个厚度方向的内部晶体取向均匀性,可以在生产线上实现厘米级厚度工件在其运动轨迹的整个厚度方向的内部晶体取向均匀性的在线检测与表征。

    一种海洋气候环境-摩擦载荷耦合试验设备及试验方法

    公开(公告)号:CN104237038A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410444561.0

    申请日:2014-09-03

    Abstract: 本发明为海洋气候环境-摩擦载荷耦合试验设备及试验方法,有电控部分、机械部分及恒温恒湿保持系统组成,电控部分包含电机伺服控制和数据采集系统。机械部分包含上主轴驱动组件、下试样运动组件、下主轴压力及力矩测量组件、弹簧加载组件、摩擦副专用夹具组件。恒温恒湿保持系统主要由工业空调及机箱组成。该试验装置及其方法能真实表征材料或涂层材料在湿热海洋大气环境中的耐腐蚀磨损性能,为应用于海洋气候环境中的装备与器械的设计选材提供更准确、更可靠的试验依据,以提高装备与器械的性能与寿命。

    一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置及方法

    公开(公告)号:CN113310611B

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202110784497.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置,包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等;各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接,各个探测器与接收准直器一一对应,由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动;各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口,接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置,使多个探测器与样品之间具有不同的角度,从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面,从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试,提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法,同样具有上述有益效果。

    一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法

    公开(公告)号:CN109374659B

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN201811546826.2

    申请日:2018-12-18

    Abstract: 本发明提供了一种短波长X射线衍射测试样品的定位方法,步骤包括:将测试样品固定安装于短波长X射线衍射装置的样品台上;选取测试样品某一测试部位作为基准点;采用激光束照射或者采用测试穿透样品基准点的X射线透射强度分布的方法获取测试样品基准点的Y轴坐标YS、Z轴坐标ZS和X轴坐标XS;很据坐标XS、YS、ZS和测试样品的尺寸坐标关系,计算确定测试样品其它待测部位的三维坐标,通过将样品台的X、Y、Z轴运动到计算确定的待测部位坐标,从而将测试样品待测部位定位于短波长X射线衍射仪圆的圆心。本发明解决了单层平板样品、空心等壁厚样品、空心不等壁厚样品内部测试部位的定位问题,能够实现对各种测试样品测试部位的精确定位。

    一种火箭发动机喷管的制备方法以及其专用设备

    公开(公告)号:CN101733614A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200810233086.7

    申请日:2008-11-20

    Abstract: 本发明提供一种火箭发动机喷管的制备方法,它包括以下步骤:(1)制备所述火箭发动机喷管的毛坯和制备所述毛坯的芯棒;(2)在所述芯棒表面喷涂涂层后,对芯棒的表面进行磨削加工,并将磨削后的芯棒与所述毛坯进行配车;(3)将磨削后的芯棒与所述毛坯在压机上配装;然后将装配好的整体进行包套处理;(4)将包套处理好的整体在热等静压炉内进行热等静压处理;(5)热等静压处理后,去除包套材料和芯棒,再对附着涂层的喷管毛坯进行精加工得本发明产品。本发明还提供这种制备方法的专用设备。本发明方法不仅适用于内孔尺寸较大的喷管,而且适用于内孔尺寸较小且对涂层有特殊要求的喷管。

    无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置

    公开(公告)号:CN113740366B

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202010459120.3

    申请日:2020-05-27

    Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置,方法步骤包括:采用透射的短波长特征X射线衍射,无损测定样品内部某一方向(h1k1l1)晶面的晶体取向角(ϑ1,κ)1 ,并判定该样品晶面取向角是否超差;在该晶面的(ϑ1,κ1)方向上,平移样品扫描测量被测样品各部位的(h1k1l)1 晶面衍射强度及其分布,根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明,解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。(56)对比文件EP 1865095 A2,2007.12.12US 6600538 B1,2003.07.29郑林 等,.短波长X 射线衍射技术及在环境工程中的应用展望《.装备环境工程》.2017,第14卷(第6期),第43-48页.李红军 等,.铝酸钇晶体中的生长小面《.硅酸盐学报》.2008,第36卷(第5期),第672-677页.Pengfei Ji et,.Comparison of residualstress determination using differentcrystal planes by short-wavelength X-raydiffraction in a friction-stir-weldedaluminum alloy plate《.J Mater Sci》.2017,第2017卷第12834–12847页.

    一种用于衍射测量装置的接收准直器

    公开(公告)号:CN115524350A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202110709697.X

    申请日:2021-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种用于衍射测量装置的接收准直器,包括准直器本体和设置在准直器本体上的通光孔和定位孔,通光孔具有相对于准直器本体轴线斜向布置的内轮廓和外轮廓,由内轮廓和外轮廓共同围合成呈锥台形结构的衍射光子通道或衍射线通道;定位孔是内含了X射线及其X射线吸收器,是入射光子通道或入射线通道。采用带有本发明接收准直器的衍射装置能够实现样品内部的一个部位物质衍射的多方向同时成像,实现样品内部的一个部位物质衍射的德拜环或衍射花样的同时成像,能够基于同时成像的德拜环或衍射花样进行样品的一个部位物质的物相、织构、应力等的快速无损检测分析。

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