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公开(公告)号:CN116223538A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202310096117.3
申请日:2023-02-07
申请人: 上海航天精密机械研究所
摘要: 本发明提供了一种X射线数字图像空间分辨率智能计算方法及系统,包括:利用射线探测器进行双线型像质计射线成像生成目标图像;对目标图像进行像质计规格匹配并调取同规格模板图像;计算模板图像与目标图像之间的单应矩阵;投影映射模板图像中像质计各线对极值点组合,计算求取目标图像像质计所有线对平均调制度;构建与对平均调制度的丝径相对应的连续关系曲线,进而得到X射线数字图像空间分辨率,同时显示所有计算过程及结果。本发明可主动识别匹配不同标准规格像质计类型,计算过程免除手工操作,摆脱人为误差因素,并自动计算输出空间分辨率精确结果,具有智能化计算、高准确度、高置信度、迁移拓展性良好、鲁棒性强等特点。
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公开(公告)号:CN113866189A
公开(公告)日:2021-12-31
申请号:CN202110977073.6
申请日:2021-08-24
申请人: 上海航天精密机械研究所
摘要: 本发明提供了一种基于多机械手协同的射线数字成像检测装置及其检测方法,包括:X射线机安装在X射线机夹持机械手上;X射线机夹持机械手安装在X射线机夹持机械手导轨上;X射线机夹持机械手导轨安装在地坑内;检测过程中,X射线机夹持机械手夹持X射线机进行移动,使X射线机能够对被检工件不同的位置进行透照;辐射探测器安装在辐射探测器夹持机械手上;辐射探测器夹持机械手安装在辐射探测器夹持机械手导轨上;辐射探测器夹持机械手沿辐射探测器夹持机械手导轨进行移动;检测过程中,辐射探测器夹持机械手夹持辐射探测器进行移动,使辐射探测器跟随X射线机同步移动到X射线机相对于工件的另一侧对被检工件进行射线成像。
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公开(公告)号:CN113843172A
公开(公告)日:2021-12-28
申请号:CN202110968708.6
申请日:2021-08-23
申请人: 上海航天精密机械研究所
摘要: 本发明提供了一种基于多模态图像的无损检测装置及其检测方法,包括:X射线机在开启时放射X射线,X射线穿透被检测物体照射到辐射探测器表面形成射线图像,射线图像反映照射到探测器表面不同区域的辐射强弱,得到被检测物体内部和表面的结构信息;入射侧相机置于X射线机照射被检测物体的入射侧,入射侧相机在入射侧对被检测物体表面进行拍摄,得到物体表面图像,记录射线入射侧被检测物体表面的结构信息;出射侧相机置于X射线出射侧,出射侧相机在出射侧对被检测物体表面进行拍摄,得到物体表面图像,记录射线出射侧被检测物体表面的结构信息。
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