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公开(公告)号：CN116839503A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310825400.5
申请日：2023-07-06
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开一种大尺寸结构表面形貌测量方法，包括以下步骤：1)把一台一字线激光器固定在电动旋转台上，再把线激光扫描模块放置在距离大型工件合适的位置处，连接并调节好激光扫描模块，使线激光线的法向位于激光器和相机所组成的平面内，根据三角测量原理布置相机，调整焦距和曝光时间，获取激光线在大型工件上的清晰图像；2)启动线激光扫描模块，控制线激光扫描模块以合适的角速度对大型工件表面进行扫描，同时相机以固定的帧率采集工件表面的扫描图像；3)根据激光线的宽度，把采集的序列图像每隔n帧进行融合，得到含有2π/n相移的条纹图；4)将步骤3中融合得到的条纹图进行相移分析，得到全场的相位图，再根据相位与高度的关系计算大型工件的三维形貌。
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公开(公告)号：CN116972742A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310910135.0
申请日：2023-07-24
Abstract: 本发明公开一种基于液态金属的纤维式电阻型传感器，包括：基底芯，由单股/多股弹性纤维内芯，和包覆在弹性纤维内芯外表面的螺旋缠绕式黏着壳组成；包覆在螺旋缠绕式黏着壳外表面的液态金属壳；以及包覆在液态金属壳外表面的外壳，其中所述外壳为封装绝缘壳或者导电聚合物壳。本发明的制备方法是一种将天然或人造商业纱线和纺织品转化为高导电材料，能实现其可拉伸性、线性度、稳定性等高传感性能参数，同时制备简单、成本低且可大规模制备的方法。
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公开(公告)号：CN118914091A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411008353.6
申请日：2024-07-25
Abstract: 本申请公开了一种表面涂层太阳吸收比测量方法、产品、介质及设备，涉及光学测量技术领域，该方法包括：获取待测试样受到光源照射后的反射光强；根据反射光强确定待测试样的灰度值；基于待测试样的灰度值，根据关系函数计算出待测试样的太阳吸收比；所述关系函数是根据标准试样的太阳吸收比与对应的灰度值确定的。本申请表面涂层太阳吸收比测量方法、产品、介质及设备，可有效提高太阳吸收比测量的准确性、可靠性、安全性以及效率。
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公开(公告)号：CN118037856A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410181147.9
申请日：2024-02-18
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明提供基于随机采样一致性的立体视觉系统标定方法、系统及介质，属于图像标定技术领域，包括：通过双目立体视觉系统同步拍摄多对不同姿态的标定板的图像，提取每对图像中的角点坐标；随机抽样N对标定图像，通过角点坐标进行相机标定，获取两个相机的内外部参数的标定结果；根据相机标定结果对所有图像对进行三维重构，获得重构后的角点坐标，并计算重构的角点间距离与实际角点间距离的差值，获得重构误差；根据所有图像对的重构误差，确定满足预定误差阈值的图像对数量作为最新评分；当最新评分大于最优评分则更新最优评分；再次进行标定图像随机抽样、相机标定以及三维重构，循环迭代直至获得的最优评分大于预设评分，将该次相机标定所获得内外部参数的作为标定结果。该方法解决了传统方法使用重投影误差度量标定结果质量的缺点，实现了在不改变相机标定难度的同时，提高了双目或者多目立体相机标定的精度和一致性。
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公开(公告)号：CN111947594A
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN202010816588.3
申请日：2020-08-14
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开一种双波长激光三维形貌扫描装置及方法，涉及光学三维测量技术领域，装置包括激光测量单元、平移机构和控制系统，所述控制系统与所述激光测量单元以及所述平移机构电连接；所述平移机构上用于放置待测物体，所述平移机构用于带动所述待测物体移动；所述激光测量单元包括双波长激光发射器和成像装置，所述双波长激光发射器用于发射对称布置的且波长不同的两束激光，所述成像装置用于采集图像，并将图像数据传递给所述控制系统。本发明通过采用双波长、双激光测量光路，对平移机构带动下的待测物体进行表面形貌测量，从而使得光束能够全方位照射到待测物体表面，进而获得物体表面的三维结构信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111443041A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010439536.9
申请日：2020-05-22
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种剪切散斑干涉系统，所述剪切散斑干涉系统包括：短焦距镜头、迈克尔逊干涉装置、长焦距镜头和CCD相机。通过利用短焦距镜头和长焦距镜头的组合和迈克尔逊干涉装置相结合，利用短焦距镜头将大视场范围的物体成像为缩小的实像，缩小的实像通过迈克尔逊干涉装置和长焦距镜头传递到CCD相机靶面，形成散斑干涉，从而实现大视场剪切散斑干涉测量。本发明提供了一种不影响相位计算且结构简单的大视角剪切散斑干涉系统，有效地扩大检测面积，实现了全场、快速的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN106883828B
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201710006558.4
申请日：2017-01-05
Applicant: 上海大学
IPC: C09K5/14
Abstract: 本发明公开了一种基于图形化碳纳米管阵列的界面散热材料的制备方法，包括如下步骤：a.在单晶硅上制备一层催化剂薄膜；b.将步骤a得到的催化剂薄膜进行图形化处理；c.在步骤b得到硅片上制备图形化的碳纳米管阵列；d.将碳纳米管阵列转移到热释放胶带上；e.将热释放胶带上的碳纳米管阵列进行致密；f.将框形模具粘在热释放胶带上，加入一定质量分数的银胶，固化后去除模具和热释放胶带。本发明方法能够较大地提高碳纳米管阵列的机械强度，较大程度地降低碳纳米管之间的空隙率，提高了碳纳米管阵列的导热效率。此外本发明方法在碳纳米管阵列的转移工艺中采用了热释放胶带，转移效果好，转移得到的碳纳米管阵列的完整性较好。
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公开(公告)号：CN109099852B
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201810756729.X
申请日：2018-07-11
Applicant: 上海大学 , 中国人民解放军国防科技大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种测量风力机叶片相对变形的结构故障检测方法及系统，该方法包括：计算变形区域相对于参考区域的旋转角度；生成变形区域参数；更新旋转角度后变形区域像素点坐标；计算参考区域与更新后的变形区域的像素点匹配相关系数；更新变形区域参数；更新像素点坐标；计算参考区域与二次更新后的变形区域的像素点匹配相关系数；比较所述二次更新后的变形区域的像素点匹配相关系数与预设阈值的大小；计算变形区域像素点的三维坐标和叶片的应变，判断和定位叶片的结构故障。采用本发明的测量风力机叶片相对变形的结构故障检测方法及系统，能够克服传统数字图像相关技术方法在大旋转角的匹配困难这一技术难题，适用于旋转叶片的测量。
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公开(公告)号：CN106596556B
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201610908402.0
申请日：2016-10-12
Applicant: 上海大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明涉及一种用于容器内壁粘接质量检测的基于成像光纤束的剪切散斑技术。该方法利用一根保偏导光光纤和一根成像光纤束以及现有的迈克尔逊干涉仪，即实现了对容器内部粘接结构的粘接质量检测，解决了传统剪切散斑技术无法对该类型结构进行检测的问题。同时该技术突破了传统迈克尔逊光路对检测面积的限制，提高了剪切散斑技术的单次有效检测面积，使该技术即使在较短的工作距离下，也可进行快速大面积无损检测。
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公开(公告)号：CN102620674B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210086927.2
申请日：2012-03-29
Applicant: 上海大学 , 上海麦田富润科技有限公司
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明涉及一种简易电子散斑干涉的实时相移方法，属于光电无损检测领域。本方法利用压电相移器产生多步相移，摄像机同步采集多幅相移散斑图像，通过特殊的图像采集序列设计和快速算法，计算散斑干涉条纹的位相图，这些相移条纹图中包含了当前时刻代表物体变形的位相信息，可以通过位相解调出来。该方法通过特殊的图像采集序列设计和快速运算，以图像采集速率为20帧/秒的相机为例，可以在50-100毫秒内完成从原始图像采集到相移图像的计算和显示，大大提高了位相计算的速度，与传统的散斑干涉相移方法比较，该方法更能够抑制散斑噪声、提高图像对比度，实现实时的位相提取。
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