正则表达式匹配系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113010749A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN201911320406.7

    申请日:2019-12-19

    Abstract: 一种正则表达式匹配系统,包括:控制装置以及匹配装置,其中:所述匹配装置包括N个匹配单元,每一个匹配单元中存在一一对应的存储单元;所述控制装置,与所述匹配装置耦接,适于根据目标正则表达式,向所述匹配装置中的M个存储单元均写入一个字符;M为所述目标正则表达式的长度,且1≤M≤N;所述匹配装置,适于将所述M个存储单元中所存储的M个字符与待匹配的字符串进行一一比对,并输出相应的比较结果。上述方案能够减少正则表达式处理系统进行匹配时的所需使用的资源,提高运行效率。

    时钟管理单元加固电路及方法、芯片

    公开(公告)号:CN118733351A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202310333302.X

    申请日:2023-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种时钟管理单元加固电路及方法、芯片,该电路包括:至少两个互为冗余的时钟管理单元、以及与所述时钟管理单元连接的FPGA;所述时钟管理单元,配置为接入并输出同一时钟信号;所述FPGA,配置为监测两个时钟管理单元的状态,从所述两个时钟管理单元中选择其中一个时钟管理单元输出的时钟作为工作时钟,并在其中一个时钟管理单元失锁时,选择另一个时钟管理单元输出的时钟作为工作时钟。利用本发明方案,可以简化电路结构,减少资源开销,保证时钟系统的可靠性。

    一种可编程电路的模块测试系统

    公开(公告)号:CN108267681B

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN201611256917.3

    申请日:2016-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种可编程电路的模块测试系统,该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间,该模块测试系统包含:测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块;所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接;所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接。本发明利用可编程特性,在尽可能少的增加硬件结构的情况下,降低模块测试设计的复杂度,提高测试覆盖率,并具有一定的通用性,适用于不同功能的数字可编程电路模块。

    现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统

    公开(公告)号:CN107885181A

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201610876613.0

    申请日:2016-09-30

    CPC classification number: G05B23/0256

    Abstract: 一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统。所述系统包括:时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元,向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同,从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同;其中:所述时钟管理器,适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率,所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率;所述待测DSP单元,适于以所述第一时钟频率,从所述第一存储器中获取所述激励数据,并对所述激励数据执行预设的运算操作,以及将运算结果数据输出至所述第二存储器。应用上述系统,可以提高高频下测试DSP单元功能的准确性。

    一种可编程电路的模块测试系统

    公开(公告)号:CN108267681A

    公开(公告)日:2018-07-10

    申请号:CN201611256917.3

    申请日:2016-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种可编程电路的模块测试系统,该模块测试系统设置在被测模块与通用互联资源模块之间,该模块测试系统包含:测试控制模块及分别与之连接的接口模块、指令分析模块及数据处理模块;所述的接口模块分别与所述的通用互联资源模块及所述的指令分析模块连接;所述的数据处理模块分别与所述的接口模块及所述的被测模块连接。本发明利用可编程特性,在尽可能少的增加硬件结构的情况下,降低模块测试设计的复杂度,提高测试覆盖率,并具有一定的通用性,适用于不同功能的数字可编程电路模块。

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