-
公开(公告)号：CN117397155B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202180098796.7
申请日：2021-07-08
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H02K41/03
Abstract: 位置检测器(5)具有：位置检测用磁铁部(12)，其分别设置于搭载有可动件的多个支承件；以及位置检测部(22)，其设置于搭载有固定件的输送导轨，位置检测用磁铁部(12)具有：多个磁铁(121)，它们配置为沿支承件的输送方向交替地排列不同的磁极；以及侧面磁屏蔽部(122)，其设置于位置检测用磁铁部(12)之中的支承件的输送方向的端部，位置检测部(22)具有：处理基板(222)，其与支承件的输送方向平行地配置；多个磁检测元件(221)，它们在处理基板(222)之中的与支承件相对的面即表面，沿支承件的输送方向排列而配置；以及基板侧磁屏蔽部(223)，其在处理基板(222)之中的与支承件相对的面即表面的相反侧的面即背面与磁检测元件相对而设置。
-
公开(公告)号：CN105378912A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201480025592.0
申请日：2014-06-09
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: H01L21/4817 , H01L21/288 , H01L21/4803 , H01L21/4857 , H01L21/486 , H01L23/055 , H01L23/08 , H01L23/13 , H01L23/49805 , H01L23/49822 , H01L23/49827 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 在向半导体封装件的贯通孔(30)形成镀层(40)时，将在第1以及第2层叠体(10、20)形成的第1以及第2空腔(15a、15b(、25a、25b))置于内侧而使第1以及第2层叠体(10、20)重叠，并在周缘区域(R0)使用粘接剂进行接合，将第1以及第2层叠体(10、20)的空腔设为密闭空间，以将包含第1以及第2层叠体(10、20)的接合面在内的一部分留下的方式形成贯通孔(30)。然后，对贯通孔(30)进行通孔镀敷，由此形成镀层(40)，将周缘区域(R0)作为切削余量即切除区域进行切除，并且沿着切割线(DL)割离为多个，形成半导体封装件。
-
公开(公告)号：CN112335138B
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN201880094932.3
申请日：2018-06-28
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 连接器(10)具有：第1壳体(12)；以及第2壳体(13)，其安装于第1壳体(12)的与电子设备侧的相反侧。连接器(10)具有：作为第1端子的端子(13d1)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域；以及作为第2端子的端子(13d2)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域，设置于第1端子的旁边。连接器(10)具有作为第3端子的端子(13d3)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域，沿第1端子和第2端子的排列方向而设置于第2端子的旁边。连接器(10)具有第1连接导体，其将第1端子及第2端子彼此电连接，并且将第1端子及第2端子向在电子设备设置的第1设备侧导体进行电连接。
-
公开(公告)号：CN107076582A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580051506.8
申请日：2015-04-23
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01D5/245
CPC classification number: G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01R33/0052
Abstract: 具有：检测用磁铁(200)，其安装于将旋转轴X0作为中心而进行旋转的旋转轴(100)；以及检测部(300)，其与检测用磁铁(200)相面对地配置，对旋转轴(100)的旋转进行检测。检测部(300)由下述部分构成：多层的电路基板(301)；凹槽，其设置于电路基板(301)的中间层(320)内，在旋转轴X0的延长线之上具有中心而与旋转轴X0正交；复合磁线，其内置于凹槽，具有大巴克豪森效应；以及拾波线圈(360)，其由电路基板(301)之上的配线导体和在通孔(TH)中填充的导体形成，将复合磁线包围。
-
公开(公告)号：CN105074474A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201380073472.3
申请日：2013-02-22
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G01D5/244 , G01D5/145 , G01D5/2006 , G01P3/4815
Abstract: 实施方式的转速检测器，是利用发电部对安装在旋转体上的磁体的转速进行检测的转速检测器，所述发电部具备N个(N为大于或等于1的自然数)发电元件，所述发电元件具备：磁线，其利用大巴克豪森效应进行磁化反转；以及拾波线圈，其对该磁线进行卷绕，在所述发电元件的所述磁线的延伸方向上，该磁线比所述拾波线圈的卷绕部分长，所述磁线配置在所述磁体的旋转中心的上方。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117397155A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202180098796.7
申请日：2021-07-08
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H02K41/03
Abstract: 位置检测器(5)具有：位置检测用磁铁部(12)，其分别设置于搭载有可动件的多个支承件；以及位置检测部(22)，其设置于搭载有固定件的输送导轨，位置检测用磁铁部(12)具有：多个磁铁(121)，它们配置为沿支承件的输送方向交替地排列不同的磁极；以及侧面磁屏蔽部(122)，其设置于位置检测用磁铁部(12)之中的支承件的输送方向的端部，位置检测部(22)具有：处理基板(222)，其与支承件的输送方向平行地配置；多个磁检测元件(221)，它们在处理基板(222)之中的与支承件相对的面即表面，沿支承件的输送方向排列而配置；以及基板侧磁屏蔽部(223)，其在处理基板(222)之中的与支承件相对的面即表面的相反侧的面即背面与磁检测元件相对而设置。
-
公开(公告)号：CN107076582B
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201580051506.8
申请日：2015-04-23
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01D5/245
Abstract: 具有：检测用磁铁(200)，其安装于将旋转轴X0作为中心而进行旋转的旋转轴(100)；以及检测部(300)，其与检测用磁铁(200)相面对地配置，对旋转轴(100)的旋转进行检测。检测部(300)由下述部分构成：多层的电路基板(301)；凹槽，其设置于电路基板(301)的中间层(320)内，在旋转轴X0的延长线之上具有中心而与旋转轴X0正交；复合磁线，其内置于凹槽，具有大巴克豪森效应；以及拾波线圈(360)，其由电路基板(301)之上的配线导体和在通孔(TH)中填充的导体形成，将复合磁线包围。
-
公开(公告)号：CN108027259A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201680054040.1
申请日：2016-04-04
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 提供了一种绝对式编码器，其能够高分辨率和高精度地检测绝对角度。图像传感器接收标尺的绝对值编码图案中的光，边缘检测单元从接收到的光信号检测边缘像素位置和边缘方向，边缘位置校正单元基于所述边缘方向校正所述边缘像素位置。相位检测单元从校正后的边缘像素位置检测从所述图像传感器的基准像素位置偏移的相移量，并且高精度检测单元使用由粗略检测单元检测到的粗略绝对位置和由所述相位检测单元检测到的所述相移量来高精度地检测绝对位置。
-
公开(公告)号：CN112335138A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN201880094932.3
申请日：2018-06-28
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 连接器(10)具有：第1壳体(12)；以及第2壳体(13)，其安装于第1壳体(12)的与电子设备侧的相反侧。连接器(10)具有：作为第1端子的端子(13d1)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域；以及作为第2端子的端子(13d2)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域，设置于第1端子的旁边。连接器(10)具有作为第3端子的端子(13d3)，其设置于第2壳体(13)的与电子设备侧成为相反侧的区域，沿第1端子和第2端子的排列方向而设置于第2端子的旁边。连接器(10)具有第1连接导体，其将第1端子及第2端子彼此电连接，并且将第1端子及第2端子向在电子设备设置的第1设备侧导体进行电连接。
-
公开(公告)号：CN108027259B
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201680054040.1
申请日：2016-04-04
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 提供了一种绝对式编码器，其能够高分辨率和高精度地检测绝对角度。图像传感器接收标尺的绝对值编码图案中的光，边缘检测单元从接收到的光信号检测边缘像素位置和边缘方向，边缘位置校正单元基于所述边缘方向校正所述边缘像素位置。相位检测单元从校正后的边缘像素位置检测从所述图像传感器的基准像素位置偏移的相移量，并且高精度检测单元使用由粗略检测单元检测到的粗略绝对位置和由所述相位检测单元检测到的所述相移量来高精度地检测绝对位置。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
21
records
(took 0.019 seconds)
