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公开(公告)号：CN103597316A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201280028302.9
申请日：2012-07-17
Applicant: 三洋电机株式会社
Abstract: 提供一种能降低成本的信息取得装置以及物体检测装置。信息取得装置具有射出激光的激光光源、将从上述激光光源射出的上述激光投射到目标区域的投射部和接受从上述目标区域反射的上述激光的受光部。在此，受光部具有入射从目标区域反射的激光的彩色图像传感器。另外，彩色图像传感器在波长830nm附近检测R光、G光、B光的像素的检测灵敏度大致相互一致。激光光源的射出波长被设定为波长830nm左右。由此，通过彩色图像传感器，能恰当地检测激光。另外，彩色图像传感器由于比单色图像传感器更廉价，所以能降低装置整体的成本。
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公开(公告)号：CN1453899A
公开(公告)日：2003-11-05
申请号：CN03124040.2
申请日：2003-04-23
Applicant: 三洋电机株式会社
IPC: H01P1/202
CPC classification number: H01P1/2056
Abstract: 本发明提供一种介质滤波器，它包括：形成于介质块上、用来连接到天线的第一电极；形成于块的上表面、用来连接到通信装置的第二电极；设置在第一和第二电极之间的各空腔的开口，用于提供用来通过预定频带的滤波器；设置在第二电极和块的侧面之间的多个空腔，用于提供具有多个衰减极点的带阻滤波器。可以在不配备外部电路的情况下减弱通带中频率的衰减。
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公开(公告)号：CN102859319A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201280000604.5
申请日：2012-04-06
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G01S17/48 , G01B11/25 , G01B11/2513 , G01C3/08
Abstract: 本发明提供一种能够抑制点阵图案的周边部中的距离检测的精度的降低的信息获取装置以及物体检测装置。从激光器光源(111)射出的激光通过DOE(114)转换为点阵图案的光并投射到目标区域。DOE(114)为了提高目标区域中的点阵图案周边部的亮度而构成为，周边部的点的密度比中心部的点的密度小。对向基准面照射点阵图案时摄像而得到的点阵图案进行划分来构成段区域。通过对各段区域的点、和在距离测定时对目标区域进行摄像而获取到的点阵图案进行对照，由此来获取针对上述各段区域的距离。段区域设定为，在点阵图案的周边部比在中心部大。
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公开(公告)号：CN1280944C
公开(公告)日：2006-10-18
申请号：CN03141297.1
申请日：2003-06-12
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋电子部品株式会社
IPC: H01P1/205
CPC classification number: H01P1/2136
Abstract: 本发明涉及的电介质双工器(10)是对天线连接端子部(17)并联连接接收滤波装置(1)及发送滤波装置(2)而构成、两滤波装置(1)、(2)被一体组合在共用的电介质块中。而且，对从接收滤波装置(1)的接收带及发送滤波装置(2)的发送带偏离的规定频带进行抑制的陷波电路(8)与接收滤波装置(1)及发送滤波装置(2)一起被一体组合在所述电介质块中，并与天线连接端子部(17)连接。
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公开(公告)号：CN1469505A
公开(公告)日：2004-01-21
申请号：CN03141297.1
申请日：2003-06-12
Applicant: 三洋电机株式会社 , 三洋电子部品株式会社
IPC: H01P1/205
CPC classification number: H01P1/2136
Abstract: 本发明涉及的电介质双工器10是对天线连接端子部17并联连接接收滤波装置1及发送滤波装置2而构成、两滤波装置1、2被一体组合在共通的电介质块中。而且，对从接收滤波装置1的接收带及发送滤波装置2的发送带偏离的规定频带进行抑制的陷波电路8与接收滤波装置1及发送滤波装置2一起被一体组合在所述电介质块中，并与天线连接端子部17连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1203412A
公开(公告)日：1998-12-30
申请号：CN98108821.X
申请日：1998-03-18
Applicant: 三洋电机株式会社
IPC: G11B5/31
CPC classification number: G11B5/3967 , G11B5/3116 , G11B5/3163 , Y10T29/49044 , Y10T29/49046
Abstract: 根据本发明的薄膜磁头中,上部磁芯层9由前部第1磁芯层91a和第2磁芯层92构成,前部第1磁芯层91a形成在间隙隔片层6上,至少在载体朝向面附近具有与记录载体上的磁道宽度相同的宽度,第2磁芯层92从载体朝向面经前部第1磁芯层91a的上面扩展至上部绝缘层72的上面,该上部磁芯层9在从载体朝向面扩展到下部绝缘层71的深度端限制面DE的区域,具有比扩展到上部绝缘层72的上面的区域大的膜厚。前部第1磁芯层91a的上面与下部绝缘层71的上面成为同一平面。
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公开(公告)号：CN1453898A
公开(公告)日：2003-11-05
申请号：CN03122434.2
申请日：2003-04-25
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: H01P1/2056 , H01P1/2136
Abstract: 本发明提供一种介质滤波器，所述装置具有：第一空腔开口部分，它设置在形成于介质块的上表面或侧表面的第一电极和形成于上表面的第二电极之间，以提供用于让预定的频带通过的滤波器；第二空腔开口部分，它设置在第二电极和所述块的侧面之间。从外围侧面的至少一部分以带的形式去除外围侧面上靠近第二电极的导电层，所述部分从块的上表面延伸至块的下表面。可以在不提供外部电路的情况下抑制通带外高频范围内的不需要的谐振。
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公开(公告)号：CN102933934A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201180027926.4
申请日：2011-05-17
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G01V8/12 , G01B11/00 , G02B5/1842 , G03H2001/2247 , G06T19/006
Abstract: 本发明提供一种信息获取装置及搭载该信息获取装置的物体检测装置。信息获取装置(1)具备射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)、偏振光束分光器(PBS)(113)、1/4波长板(114)、DOE(116)和PD(117)。DOE(116)以规定光点图形向目标区域照射激光。PD(117)接受由DOE(116)衍射及反射后的激光的一部分。由此，以紧凑的构成就能够检测衍射光学元件的劣化。
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公开(公告)号：CN102686975A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201180005133.2
申请日：2011-06-02
Applicant: 三洋电机株式会社
Abstract: 本发明公开一种即使激光的点图案因衍射光学元件的形状、位置及激光的波长等而变化，也能够适当地检测到检测对象物体的距离的信息取得装置及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置(1)具有：射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)；将激光朝向所述目标区域投射的投射光学系统(11)；对来自所述目标区域的反射光进行受光并输出信号的CMOS图像传感器(124)；保持基准样板的存储器(25)，该基准样板通过将由CMOS图像传感器(124)所受光的光的基准图案利用呈矩阵状排列的基准分段区域划分而成；更新基准样板的更新部(21b)。更新部(21b)根据在基准样板上设定的参照分段区域的实测时的位移来更新基准样板。
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