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公开(公告)号:CN101320731A
公开(公告)日:2008-12-10
申请号:CN200810142885.3
申请日:2008-02-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/02 , H01L27/108 , H01L21/82 , H01L21/8242
CPC classification number: H01G4/005 , H01G4/33 , H01L27/0203 , H01L27/10852 , H01L28/90 , Y10T29/435
Abstract: 一种制造集成电路器件的方法,包括形成从衬底垂直延伸的多个下电容电极。多个下电容电极分别包括内侧壁和外侧壁。形成至少一种支撑图案,其在多个下电容电极的一些之间从相对着衬底的它的顶部部分沿着它的外侧壁朝着衬底的方向垂直延伸到大于多个下电容电极的相邻一些之间的横向距离的深度。在支撑图案上和在多个下电容电极的外侧壁上形成介质层,并且在介质层上形成上电容电极。此外还涉及相关的器件。
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公开(公告)号:CN101320731B
公开(公告)日:2011-11-30
申请号:CN200810142885.3
申请日:2008-02-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/02 , H01L27/108 , H01L21/82 , H01L21/8242
CPC classification number: H01G4/005 , H01G4/33 , H01L27/0203 , H01L27/10852 , H01L28/90 , Y10T29/435
Abstract: 一种制造集成电路器件的方法,包括形成从衬底垂直延伸的多个下电容电极。多个下电容电极分别包括内侧壁和外侧壁。形成至少一种支撑图案,其在多个下电容电极的一些之间从相对着衬底的它的顶部部分沿着它的外侧壁朝着衬底的方向垂直延伸到大于多个下电容电极的相邻一些之间的横向距离的深度。在支撑图案上和在多个下电容电极的外侧壁上形成介质层,并且在介质层上形成上电容电极。此外还涉及相关的器件。
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