公开(公告)号：CN101241749A

公开(公告)日：2008-08-13

申请号：CN200710199789.8

申请日：2007-12-24

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金明五 ,  金秀奂 ,  李钟哲

IPC: G11C7/06 ,  G11C7/12

CPC classification number: G11C11/4091 ,  G11C7/065 ,  G11C2207/005

Abstract: 一种半导体存储器设备的读出放大器电路及其操作方法，其中读出放大器电路包括：与位线连接来读出和放大位线的信号的位线读出放大器，以及基于位线读出放大器的逻辑阈值来校准位线的电压电平的校准电路。在位线的电压电平被校准之后，位线读出放大器读出和放大位线的信号。位线读出放大器可以包括2－级级联锁存器，其包括具有与位线连接的输入端子的第一反相器；以及第二反相器，其具有与第一反相器的输出端子连接的输入端子和与位线连接的输出端子，并且响应于读出控制信号被启用/禁用。校准电路包括开关元件，其连接在第一反向器的输出端子和位线之间，并且响应于校准控制信号被导通或关断。

公开(公告)号：CN1576871A

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN200410069841.4

申请日：2004-07-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李铢赞 ,  宣龙均 ,  金贤镐 ,  李丙天 ,  李俊昊 ,  李钟哲 ,  柳济亨 ,  金兑圭 ,  任洵圭

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种测试半导体器件的装置和方法，该装置包括一主体和一用于在测试前和后层叠器件的层叠器。所述层叠器包括至少一个被预设为具有层叠未被测试器件的功能的用户托盘进料器和至少一个被预设为具有层叠已测试器件的功能的用户托盘发送器，所述用户托盘在层叠器操作期间功能可以互换。