公开(公告)号：CN1576871A

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN200410069841.4

申请日：2004-07-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李铢赞 ,  宣龙均 ,  金贤镐 ,  李丙天 ,  李俊昊 ,  李钟哲 ,  柳济亨 ,  金兑圭 ,  任洵圭

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2886 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种测试半导体器件的装置和方法，该装置包括一主体和一用于在测试前和后层叠器件的层叠器。所述层叠器包括至少一个被预设为具有层叠未被测试器件的功能的用户托盘进料器和至少一个被预设为具有层叠已测试器件的功能的用户托盘发送器，所述用户托盘在层叠器操作期间功能可以互换。

公开(公告)号：CN101324778B

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：CN200810095326.1

申请日：2008-04-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 黄圭德 ,  金圣协 ,  金善修 ,  金钟佑 ,  白成九 ,  赵显基 ,  柳济亨 ,  金泰熙

IPC: G03G15/20 ,  G03G15/00

CPC classification number: G03G21/206 ,  G03G15/206 ,  G03G2221/1645

Abstract: 本发明公开了一种具有外部空气循环室的成像设备，该成像设备能够使盖子的温度升高最小化。所述成像设备包括：主体；定影单元，安装在主体中，用于使图像定影到纸上；盖子，安装到主体上，用于使定影单元暴露；热屏蔽构件，被安装为接近盖子的内侧，以阻挡从定影单元传递的热；外部空气循环室，形成在热屏蔽构件和盖子之间，外部空气通过对流在该外部空气循环室中循环；至少一个外部空气流动孔，所述空气通过该外部空气流动孔流入外部空气循环室中或从外部空气循环室流出。

公开(公告)号：CN101324778A

公开(公告)日：2008-12-17

申请号：CN200810095326.1

申请日：2008-04-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 黄圭德 ,  金圣协 ,  金善修 ,  金钟佑 ,  白成九 ,  赵显基 ,  柳济亨 ,  金泰熙

IPC: G03G15/20 ,  G03G15/00

CPC classification number: G03G21/206 ,  G03G15/206 ,  G03G2221/1645

Abstract: 本发明公开了一种具有外部空气循环室的成像设备，该成像设备能够使盖子的温度升高最小化。所述成像设备包括：主体；定影单元，安装在主体中，用于使图像定影到纸上；盖子，安装到主体上，用于使定影单元暴露；热屏蔽构件，被安装为接近盖子的内侧，以阻挡从定影单元传递的热；外部空气循环室，形成在热屏蔽构件和盖子之间，外部空气通过对流在该外部空气循环室中循环；至少一个外部空气流动孔，所述空气通过该外部空气流动孔流入外部空气循环室中或从外部空气循环室流出。