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公开(公告)号：CN1266491C
公开(公告)日：2006-07-26
申请号：CN03143839.3
申请日：2003-05-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B3/0018 , G02B3/0068 , G03F7/0005 , G03F7/0035 , G03F7/40
Abstract: 本发明提供一种显微透镜阵列的制造方法。该方法包括使用光刻工艺在衬底的一面形成一圆柱形光刻胶掩模；应用回流工艺熔化光刻胶掩模，使其具有与显微透镜相对应的轮廓；使用等离子刻蚀将光刻胶掩模的轮廓传递到衬底上，在衬底上形成显微透镜；在显微透镜的表面上形成一光刻胶，其具有用来改进显微透镜的曲面的表面轮廓；以及通过等离子刻蚀方法刻蚀光刻胶，将光刻胶的弯曲轮廓传递到显微透镜的表面。通过这样的方法，可制造具有精确曲面、高数值孔径(NA)和低像差的高性能显微透镜。
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公开(公告)号：CN1501112A
公开(公告)日：2004-06-02
申请号：CN03122571.3
申请日：2003-04-21
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B3/08 , G02B5/1814
Abstract: 本发明提供一种平面透镜，其能够补偿色差，易于形成并使得能够易于组装光学检拾器，以及一种形成平面透镜的方法。平面透镜包括一透明基底，在透明基底的一个表面上带有一透镜型腔，以及形成在透镜型腔之中的一透镜元件，带有一第一折射表面，接触于透镜型腔的底部，以及一第二衍射表面，具有一对置于第一折射表面的衍射光栅。
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公开(公告)号：CN1480929A
公开(公告)日：2004-03-10
申请号：CN02155975.9
申请日：2002-12-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1384 , B82Y20/00 , G02B6/12004 , G02B6/1225 , G02B6/124 , G02B6/1245 , G02B6/30 , G11B7/124 , G11B7/1353 , G11B7/1359 , G11B7/1374 , G11B2007/13722
Abstract: 本发明提供了一种集成式光学头。在该集成式光学头中，光源发出光。波导元件引导光。输入耦合器位于波导元件的一边缘处，与由光源发出的光耦合，并将该耦合光传递给波导元件。输出耦合器位于波导元件的另一边缘处，与由波导元件发出的光耦合，并将该耦合光聚焦在光盘上。光通路改变单元安装在波导元件上，并改变由光盘反射，再经过了输出耦合器的光的光通路。光检测器接收经过光通路改变单元的光，并将接收的光转变成电信号，以便从光盘检测信息。因此，提高了输入耦合效率和输出耦合效率，从而使光损失减小。这样，能够改进光学头的记录和复制，并能获得重量轻、紧凑的集成式光学头。
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公开(公告)号：CN1405784A
公开(公告)日：2003-03-26
申请号：CN02141550.1
申请日：2002-09-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01Q60/22
Abstract: 一种测量近场光学探针光圈孔径的装置和方法。该装置包括：光源、光学探测器、和滤波器。光源向近场光学探针发射光。光学探测器放置于近场光学探针之前并且接收由近场光学探针透过的光用以探测光强。滤波器配备于光源与光学探测器之间并从透过近场光学探针的光中仅透过特定模式的波长的光。因此，在不损坏近场光学探针的情况下，能够精确实时测量近场光学探针光圈孔径。
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公开(公告)号：CN101441873B
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN200810212611.7
申请日：2008-08-21
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明提供了一种磁记录介质及其制造方法，为了增大磁记录介质的记录密度，所述磁记录介质被构造为通过连续地形成具有薄膜状的第一磁层和包括图案化的磁比特的第二磁层的多个磁层。第一磁层具有大于第二磁层的磁各向异性系数的磁各向异性系数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100474396C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200610121658.3
申请日：2006-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B5/127 , G11B5/187 , G11B11/105
CPC classification number: G11B5/314 , G11B5/02 , G11B2005/0005 , G11B2005/0021
Abstract: 本发明提供一种HAMR头及其制造方法。该HAMR头安装在具有面对记录介质的ABS的滑块上，且辐照光到该记录介质的局部区域上从而提高记录密度。该HAMR头包括衬底、记录单元、波导和NFE极。所述衬底附着在所述滑块的一侧上，所述记录单元位于所述衬底上且具有阶梯式末端从而将磁通聚集在所述记录单元的面对所述ABS的该末端。所述波导位于通过所述记录单元的该阶梯式末端形成的空间中，所述NFE极与所述记录单元接近地定位且具有与所述ABS在相同平面的末端从而利用经过所述波导传输的光产生将辐照到所述记录介质上的近场光。
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公开(公告)号：CN101206871A
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：CN200710196197.0
申请日：2007-11-29
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B5/82 , B82Y10/00 , G11B5/656 , G11B5/66 , G11B5/743 , G11B5/855 , G11B5/858
Abstract: 提供了一种图案化磁记录介质及其制造方法。所述图案化磁记录介质包括基底和按照预定的间隔设置的多个磁记录层，其中，所述磁记录层由包括Co、Pt和Ni的合金形成。具有所述磁记录层的图案化介质具有优良的读/写特性、高的抗腐蚀性和记录密度。
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公开(公告)号：CN1551159A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN200410045118.2
申请日：2004-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/123 , G11B7/22
Abstract: 提供一种集成光学拾取器及其制造方法，以及包括该光学拾取器的光学信息存储系统。集成光学拾取器包括：光源；主光探测器，用于接收由光源发射以及从信息存储介质反射的光；聚光和光路分离元件，用于将由光源发射的光聚焦在光学存储介质上并将入射在光学信息存储介质上的光的光路和由光学信息存储介质反射的光的光路分离；和光具座，其联结至聚光和光路分离元件，光路形成于光源和主光探测器、和聚光和光路分离元件之间，且光具座和聚光和光路分离元件分别形成于晶片上接着通过分离成多个组件获得。超小集成光学拾取器和包括光学拾取器的光学信息存储系统可以低成本批量地制造。
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公开(公告)号：CN1499235A
公开(公告)日：2004-05-26
申请号：CN03147635.X
申请日：2003-07-15
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B3/08 , G02B5/1814 , G02B27/4238 , G11B7/1367 , G11B7/1374
Abstract: 本发明公开了一种具有高数值孔径的混合透镜，该混合透镜包括使入射光折射的折射表面和使出射透镜的光衍射的衍射表面，上述衍射表面具有满足下式的弛垂度(sag)：其中fD是从混合透镜的中心最高点到焦点间的距离；r是从混合透镜的中轴到每个最高点的高度；n是混合透镜的折射率；λ是入射光的波长；而m是一整数。该混合透镜尺寸小、重量轻，且能够消除色差。
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公开(公告)号：CN102759853A
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN201210192665.8
申请日：2008-08-04
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G03F7/2014 , G03F1/50 , G03F7/70375
Abstract: 本发明提供了一种制造离散轨道磁记录介质的方法。该制造离散轨道磁记录介质的方法包括以下步骤：(a)在基底上顺序地形成下层、记录层、光致抗蚀剂层和被图案化成第一图案的金属层，第一图案具有形成同心圆的线图案以预定间隔被重复布置的结构；(b)将光照射到金属层的表面上，以激发表面等离子体激元，使得表面等离子体激元传递的光能的分布使光致抗蚀剂层的位于金属层的图案之间的中部被曝光，以使光致抗蚀剂层被曝光成第二图案；(c)去除被图案化的金属层并对光致抗蚀剂层进行显影；(d)利用被图案化成第二图案的光致抗蚀剂层作为掩模来蚀刻记录层。
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