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公开(公告)号:CN101939632B
公开(公告)日:2013-05-01
申请号:CN200980104323.2
申请日:2009-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
Inventor: 林弘能
CPC classification number: G01N21/05 , G01N15/1436 , G01N15/1459 , G01N15/147 , G01N21/0303 , G01N21/645 , G01N2015/1006
Abstract: 一种荧光检测装置,其包括:流动池,形成有使测量对象物进行流动的流路;激光光源部,朝向经过流路中的测量点的测量对象物照射激光;受光部,接收测量对象物被激光照射后所发出的荧光并输出受光信号;处理部,根据输出自所述受光部的受光信号输出荧光强度的输出值。在所述流动池的表面上设置有透镜,假设在经过测量对象物的测量点且与测量对象物的移动方向呈垂直的平面上切断所述透镜时,所述透镜的截面形成以所述测量点为中心的圆形形状的一部分。
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公开(公告)号:CN102713574A
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201180005407.8
申请日:2011-01-05
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N15/14 , G01N33/483
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法,荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光,并输出输出电平被调节的荧光信号,信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合,生成包括相位和强度信息的荧光数据,分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差,对于所计算出的第一相位偏差,进行与输出电平的调节条件相应的校正,以计算出第二相位偏差,分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号:CN102317762A
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN201080007694.1
申请日:2010-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
Inventor: 林弘能
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6408
Abstract: 本发明涉及的荧光检测方法,包括:将以特定频率调制的激光照射到测量对象物的工序;接收测量对象物发出的荧光,输出脉冲形状的多个荧光信号的工序;设定与频率相对应的周期单位的基准时间的工序;根据基准时间,获得脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间的工序;生成表示脉冲形状的荧光信号的发生频率和发生时间的关系的累积荧光信号的工序;与激光的调制相对应的信号作为参照信号,求出该参照信号和累积荧光信号的相位差的工序;利用相位差求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间的工序。
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公开(公告)号:CN101960289A
公开(公告)日:2011-01-26
申请号:CN200980107755.9
申请日:2009-02-18
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1427 , G01N2015/1438
Abstract: 本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置,该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时,与以往相比,能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中,在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时,收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而,在测定对象物通过激光的照射位置后,在激光的照射位置没有测定对象物的状态下,收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号,求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息,并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中,求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
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公开(公告)号:CN102150035A
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN200980135824.7
申请日:2009-09-16
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法,在所述荧光检测装置中,朝向测量对象物照射进行强度调制的激光,由此获得测量对象物所发出的荧光的荧光信号。此时,生成与调制信号不同的、与调制信号的频率相同或大致相同且与调制信号的相位同步的参照信号。在荧光检测装置中,利用参照信号与所获得的荧光信号进行混合处理后计算出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。本发明的荧光检测装置中,根据通过混合处理而得到的混合信号计算出的荧光弛豫时间,与以往的方式相比精度高。
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公开(公告)号:CN101939633A
公开(公告)日:2011-01-05
申请号:CN200980104324.7
申请日:2009-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1459 , G01N21/51 , G01N2015/149 , G01N2021/4707 , G01N2021/6482
Abstract: 提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,其中,接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光,通知测量对象物通过测量点的情况,且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面,通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
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公开(公告)号:CN107614858A
公开(公告)日:2018-01-19
申请号:CN201680020243.9
申请日:2016-04-04
Applicant: 三井造船株式会社
Abstract: 设置第1燃料气体供给管路(14),所述第1燃料气体供给管路(14)将液货舱(11)内的蒸发气体(BOG)作为燃料气体经由高压气体压缩机(13)向主发动机(12)供给。设置第2燃料气体供给管路(21),所述第2燃料气体供给管路(21)通过泵(22)吸取液货舱(11)内的液化气,并使用高压液泵(24)、气体加热器(25)生成高压气体。在液化气装载时的航行中,当燃料气体仅凭BOG就足够时,仅使用第1燃料气体供给管路(14),当燃料气体仅凭BOG而不够时,则组合使用第2燃料气体供给管路(21)。在液化气空载时的航行中,当不进行喷淋作业时,仅使用第2燃料气体供给管路(21)。
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公开(公告)号:CN101939633B
公开(公告)日:2012-10-31
申请号:CN200980104324.7
申请日:2009-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1459 , G01N21/51 , G01N2015/149 , G01N2021/4707 , G01N2021/6482
Abstract: 提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,其中,接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光,通知测量对象物通过测量点的情况,且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面,通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
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公开(公告)号:CN102597746A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201080042653.6
申请日:2010-09-13
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N15/147 , G01N2015/0038
Abstract: 本发明提供一种FRET测量方法及装置,能够求出在标记作为测量对象的活细胞的蛋白质的供体分子中与受体分子结合且发生FRET的供体分子的比例,其中,对于第一分子的浓度和第二分子的浓度比不同的多个预先测量样品,计算出第一分子的荧光寿命,并计算出第一分子的荧光寿命的最小值;照射对强度进行了时间调制的激光,并测量出测量样品被激光照射而发出的荧光;利用所测量的荧光信号,计算出第一分子的荧光寿命;利用第一分子的荧光寿命的最小值和所计算出的第一分子的荧光寿命,计算出测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。
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公开(公告)号:CN102292630A
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN201080005461.8
申请日:2010-01-25
Applicant: 三井造船株式会社
Inventor: 林弘能
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N15/147 , G01N15/1429 , G01N21/6408 , G01N2015/0038
Abstract: 本发明提供一种能够提高荧光弛豫时间的测量精度的荧光检测装置及荧光检测方法,该装置包括:激光光源部,向所述测量对象物照射激光;受光部,输出测量对象物受到激光照射后发出的荧光的荧光信号;光源控制部,生成将从激光光源部发射的激光强度用至少两个频率成分进行时间调制的调制信号;处理部,使用从受光部输出的荧光信号和调制信号,求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间,其中,处理部求出相对于至少两个频率成分的调制信号的荧光信号的相位滞后,利用相位滞后求出各频率成分的荧光弛豫时间,通过对荧光弛豫时间进行加权平均来求出平均荧光弛豫时间。
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