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公开(公告)号：CN101688837A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200780053717.0
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6419
Abstract: 一种FRET检测方法及装置，其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时，首先，将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上，且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上，接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后，并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
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公开(公告)号：CN102822665A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201080025626.8
申请日：2010-05-27
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1429
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，采用该荧光检测方法检测荧光时，以具有规定频率的调制信号对用来照射测量对象物的激光强度进行时间调制后将其照射在测量对象物。然后，使测量对象物受到激光照射后所发出的荧光形成光强度呈均匀分布的光束，并将所述荧光的光束分割给多个区域而使多个区域接收这些被分割的光束，由此生成多个部分荧光信号。其次，至少对所述多个部分荧光信号中的一部分进行加法处理，以生成一个荧光信号。根据生成的所述荧光信号，利用所述调制信号计算出测量对象物发出荧光的荧光弛豫时间。当根据荧光信号所计算出的、测量对象物所发出的荧光的荧光强度超过规定阈值时，限制进行加法处理的所述部分荧光信号数量。由此改善受光部的输出饱和。
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公开(公告)号：CN102159937A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200980136546.7
申请日：2009-09-16
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N21/6428
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，在利用流式细胞仪的荧光检测装置中，照射通过调制信号进行强度调制的激光，由此获得以横切激光测量点的方式通过测量点的测量对象物所发出的荧光的荧光信号。在所述荧光检测装置另生成与所述调制信号不同的、所具有的频率与所述调制信号频率不同且与所述调制信号的相位同步的参照信号。荧光检测装置利用参照信号从荧光信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102713574A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180005407.8
申请日：2011-01-05
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N15/14 , G01N33/483
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法，荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光，并输出输出电平被调节的荧光信号，信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合，生成包括相位和强度信息的荧光数据，分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差，对于所计算出的第一相位偏差，进行与输出电平的调节条件相应的校正，以计算出第二相位偏差，分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101688837B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200780053717.0
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6419
Abstract: 一种FRET检测方法及装置，其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时，首先，将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上，且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上，接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后，并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
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公开(公告)号：CN102317761A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201080007693.7
申请日：2010-02-08
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N15/147 , G01N21/6428 , G01N2015/1477 , G01N2015/149
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，该荧光检测装置在接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，生成用来对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制，并获得测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并利用该荧光信号计算出荧光强度和荧光相对于调制信号的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号DC成分的信号电平和刚刚输出荧光信号的放大增益的操作量进行控制，以使荧光强度信号值进入预先设定的范围内，操作量处于稳定状态后，计算出荧光强度，且利用相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102308200A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201080007040.9
申请日：2010-02-08
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/147 , G01N2015/0038
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，当所述荧光检测装置接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，荧光检测装置生成用于对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制。所述荧光检测装置获得测量对象物被所述激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并根据所述荧光信号计算出相对于所述调制信号的荧光的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号的频率进行控制，以使相位滞后值接近于预先设定值，利用在所述控制处于稳定状态时的频率条件下所得到的相位滞后，计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102272582A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080003855.X
申请日：2010-01-04
Applicant: 三井造船株式会社
Inventor： 土井恭二
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N21/6428 , G01N2021/6421 , G01N2201/0691
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置及荧光检测方法，在利用在分析对象物上附着荧光色素的测量对象物求出荧光色素的荧光弛豫时间时，对第一激光用频率f1的调制信号进行强度调制，且对第二激光用与频率f1不同的频率f2的调制信号进行强度调制，并发射出激光；在第一波段接收被激光照射后发出的测量对象物的荧光而得到第一荧光信号，在第二波段接收荧光而得到第二荧光信号；通过将第一荧光信号与频率f1的调制信号混合而生成第一荧光数据P1、通过将第二荧光信号与频率f2的调制信号混合而生成第二荧光数据P2；根据从第一荧光数据P1乘以第一常数的结果减去第二荧光数据P2乘以第二常数的结果所得到的荧光数据计算出荧光色素的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102150035A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135824.7
申请日：2009-09-16
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，在所述荧光检测装置中，朝向测量对象物照射进行强度调制的激光，由此获得测量对象物所发出的荧光的荧光信号。此时，生成与调制信号不同的、与调制信号的频率相同或大致相同且与调制信号的相位同步的参照信号。在荧光检测装置中，利用参照信号与所获得的荧光信号进行混合处理后计算出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。本发明的荧光检测装置中，根据通过混合处理而得到的混合信号计算出的荧光弛豫时间，与以往的方式相比精度高。
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