公开(公告)号：CN102822665A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201080025626.8

申请日：2010-05-27

Applicant: 三井造船株式会社

Inventor： 土井恭二 ,  林弘能 ,  星岛一辉 ,  浅野有美

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01N15/1429

Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，采用该荧光检测方法检测荧光时，以具有规定频率的调制信号对用来照射测量对象物的激光强度进行时间调制后将其照射在测量对象物。然后，使测量对象物受到激光照射后所发出的荧光形成光强度呈均匀分布的光束，并将所述荧光的光束分割给多个区域而使多个区域接收这些被分割的光束，由此生成多个部分荧光信号。其次，至少对所述多个部分荧光信号中的一部分进行加法处理，以生成一个荧光信号。根据生成的所述荧光信号，利用所述调制信号计算出测量对象物发出荧光的荧光弛豫时间。当根据荧光信号所计算出的、测量对象物所发出的荧光的荧光强度超过规定阈值时，限制进行加法处理的所述部分荧光信号数量。由此改善受光部的输出饱和。