流体流动的可视化装置和可视化方法

    公开(公告)号:CN103124909B

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201180046413.8

    申请日:2011-11-04

    CPC classification number: G01P13/0093 G01M9/067 G01P5/001 G01S17/89

    Abstract: 本发明提供一种流体流动的可视化装置和可视化方法,在对测量对象物的流体流动进行可视化时,将作为示踪剂的第一流体从喷嘴孔供给到第二流体的流场内,并按照具有所述第一流体进行光吸收的波长的激光横穿所述流场内的方式照射所述激光,此时,按照所述激光的照射位置对所述流场内进行扫描的方式被控制,另外,接收通过所述流场内的激光,并利用所接收的激光的扫描强度信号,求出所述第一流体横穿激光的位置,由此,对第二流体流动进行可视化,所述第一流体横穿所述激光的位置根据所述扫描强度信号的值比所设定的临界值小的时间轴上的位置来求出,通过上述可视化,即使是高速流体,也能够可靠地进行流场的可视化。

    FRET检测方法及装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101688837B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200780053717.0

    申请日:2007-08-30

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N2021/6419

    Abstract: 一种FRET检测方法及装置,其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时,首先,将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上,且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上,接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后,并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。

    高电压等离子体发生装置

    公开(公告)号:CN101606443B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN200880004206.4

    申请日:2008-03-27

    Inventor: 木村宪明

    Abstract: 一种能够用于NO氧化处理装置等且可生成高电压等离子体的等离子体发生装置(10),包括:线状电极(22),通过接收交流信号的电流供应以产生谐振来生成高电压;接地电极(24),与线状电极(22)间隔设置,并形成有覆盖线状电极(22)周围的内部空间(24b),以使能够抑制由线状电极(22)所放射的电磁波的泄漏;控制装置(40),其控制线状电极(22)的供电,其中,控制装置(40)包括:电场探头(30),其对内部空间(24b)的电场进行计测;带通滤波器(44),其将该计量信号过滤为规定频带并将其作为交流信号;可变移相器(52),其对交流信号进行相位位移,以使该交流信号作为电流而供电到线状电极(22)时,与在内部空间(24b)内的谐振信号同步;放大器(54),对进行了相位位移的交流信号进行放大。

    FRET检测方法及装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101688837A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200780053717.0

    申请日:2007-08-30

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N2021/6419

    Abstract: 一种FRET检测方法及装置,其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时,首先,将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上,且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上,接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后,并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。

    FRET检测方法及装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101688836B

    公开(公告)日:2012-08-29

    申请号:CN200780053706.2

    申请日:2007-08-30

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N21/6408 G01N2021/6441

    Abstract: 一种FRET检测方法和检测装置,其中,在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时,获得预先被存储在存储装置的校准信息,所述校准信息至少包括:测量对象样品的荧光中,供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外,利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率,求出供体荧光成分的FRET荧光寿命,且求出FRET效率。

    高电压等离子体发生装置

    公开(公告)号:CN101606443A

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200880004206.4

    申请日:2008-03-27

    Inventor: 木村宪明

    Abstract: 一种能够用于NO氧化处理装置等且可生成高电压等离子体的等离子体发生装置(10),包括:线状电极(22),通过接收交流信号的电流供应以产生谐振来生成高电压;接地电极(24),与线状电极(22)间隔设置,并形成有覆盖线状电极(22)周围的内部空间(24b),以使能够抑制由线状电极(22)所放射的电磁波的泄漏;控制装置(40),其控制线状电极(22)的供电,其中,控制装置(40)包括:电场探头(30),其对内部空间(24b)的电场进行计测;带通滤波器(44),其将该计量信号过滤为规定频带并将其作为交流信号;可变移相器(52),其对交流信号进行相位位移,以使该交流信号作为电流而供电到线状电极(22)时,与在内部空间(24b)内的谐振信号同步;放大器(54),对进行了相位位移的交流信号进行放大。

    流体流动的可视化装置和可视化方法

    公开(公告)号:CN103124909A

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN201180046413.8

    申请日:2011-11-04

    CPC classification number: G01P13/0093 G01M9/067 G01P5/001 G01S17/89

    Abstract: 本发明提供一种流体流动的可视化装置和可视化方法,在对测量对象物的流体流动进行可视化时,将作为示踪剂的第一流体从喷嘴孔供给到第二流体的流场内,并按照具有所述第一流体进行光吸收的波长的激光横穿所述流场内的方式照射所述激光,此时,按照所述激光的照射位置对所述流场内进行扫描的方式被控制,另外,接收通过所述流场内的激光,并利用所接收的激光的扫描强度信号,求出所述第一流体横穿激光的位置,由此,对第二流体流动进行可视化,所述第一流体横穿所述激光的位置根据所述扫描强度信号的值比所设定的临界值小的时间轴上的位置来求出,通过上述可视化,即使是高速流体,也能够可靠地进行流场的可视化。

    FRET检测方法及装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101688836A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200780053706.2

    申请日:2007-08-30

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N21/6408 G01N2021/6441

    Abstract: 一种FRET检测方法和检测装置,其中,在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时,获得预先被存储在存储装置的校准信息,所述校准信息至少包括:测量对象样品的荧光中,供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外,利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率,求出供体荧光成分的FRET荧光寿命,且求出FRET效率。

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