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公开(公告)号：CN114264640A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111621697.0
申请日：2021-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种紫外光学元件加工表面微观光伤点缺陷检测方法，它属于工程光学领域。本发明为解决现有技术中缺乏有效的微观光伤点缺陷精确辨识与检测方法的问题，本发明包括如下步骤：步骤一、确定元件加工表面尺寸最大的表面结构缺陷并完成定位；步骤二、获取步骤一定位的缺陷受不同波长激发光作用下产生的荧光发射光谱峰值强度，确定峰值强度最高的激发光波长为最佳激发光波长；步骤三、确定最佳缺陷位置；步骤四、对最佳缺陷位置受激发产生的荧光发射光谱进行高斯谱线拟合分析，确定微观光伤点缺陷的种类和权重大小；步骤五、建立元件加工表面缺陷区微观光伤点缺陷之间的演变规律及对步骤四的结果进行验证。
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公开(公告)号：CN108280575B
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN201810058075.3
申请日：2018-01-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种应急疏散车辆多批次调度决策方法，以解决应急条件下尤其是应急车辆紧缺时的多批次车辆调度问题，使受灾人员能够被快速高效地疏散至指定地点。该系统包括数据输入模块、数据计算处理模块及方案输出模块。数据输入包含静态数据：疏散站点及车场地理位置、车场至各站点最短路径、应急车辆总数及容量的输入和存储及实时数据的输入。数据计算处理模块通过构建车辆调度数学模型并利用非支配排序遗传‑模拟退火算法实现车辆调度方案的生成。方案输出模块将系统计算得到的数值解进行再处理，把代码转化为文字并输出对应的路径方案。本发明适用于道路交通应急管理领域，提高应急响应速度，同时使应急车辆调度过程更加简便、迅速、有效。
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公开(公告)号：CN108682156B
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN201810770561.8
申请日：2018-07-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G08G1/01
Abstract: 本发明提供基于出租车GPS数据动态监测市区交通排放污染状况的方法，属于大气环境监测技术领域。本发明首先采集出租车GPS数据、不同道路类型各车型所占比例以及出租车占比日变化；对采集的GPS数据进行基于GIS的网格划分，然后计算得到各个网格的交通量、平均速度、污染物排放量；选取各个网格的交通量、平均速度、污染物排放量以及道路长度作为监测因子，并根据各个监测因子的权重计算得到各个网格的监测指标值，最后根据监测指标值判定每个网格的交通排放污染状况等级。本发明解决了现有技术对交通排放污染状况实时监测数据精度较低的问题。本发明可用于对市区交通排放污染状况的监测。
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公开(公告)号：CN109267438B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811222702.9
申请日：2018-10-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: E01C1/00
Abstract: 一种潮汐式自动驾驶BRT的控制方法，它属于公共交通规划领域。本发明解决了人工驾驶BRT车辆在潮汐式可变车道运行，难以保证长距离可变车道安全以及道路利用效率的问题。本发明对潮汐式自动驾驶BRT系统的运营方式、站台设置、车道衔接、行车方向切换、车道清空、系统架构和运行过程进行说明，能够在保证长距离可变车道行车安全的同时，有效解决潮汐车流引起的交通拥堵现象、提高道路利用效率；而且本发明的潮汐式自动驾驶BRT设置方法具有设置灵活和建设成本低廉的特点，相比较于地铁，其建设成本为地铁的1/10左右，但其运量能够达到地铁的1/2，潮汐式自动驾驶BRT单向最大运量甚至可能超过地铁。本发明可以应用于公共交通规划领域用。
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公开(公告)号：CN111504958A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010158348.9
申请日：2020-03-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 一种软脆光学晶体加工表层荧光性缺陷检测方法，涉及一种晶体缺陷检测方法。目的是解决现有方法无法获得晶体表层缺陷的受激荧光的稳态光谱和内部结构的问题。检测方法利用软脆光学晶体加工表层微区荧光性缺陷检测光学系统中进行，一、缺陷定位；二、测量背底；三、测量可见光波段稳态荧光光谱；四、测量可见光波段瞬态荧光光谱；五、测量近红外波段稳态荧光光谱；六、改变波长获得不同激发光波长下的可见光波段瞬态荧光光谱和近红外波段稳态荧光光谱。本发明可以实现晶体元件表层缺陷、表层缺陷激发稳态荧光光谱以及表层缺陷激发瞬态荧光光谱的检测。本发明适用于晶体表层缺陷检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110824681A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201911064422.4
申请日：2019-11-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于光学显微成像技术领域，涉及的是一种无扫描高超分辨光学三维显微成像方法，是一种利用无衍射光束的自弯曲传播效应实现高分辨率、无需机械扫描的三维体成像的方法。将倒置荧光显微镜系统的像面处形成样品的放大像，经第一透镜、反射式或透射式空间光调制器、第二透镜，由CCD相机成像，然后利用空间光调制器产生变化的调制图案，从而得到一系列的投影图像，利用重建算法将这些投影图像进行重建，从而得到原物的三维体结构信息。本发明能够实现无扫描高超分辨率三维显微成像，成像速度较快。
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公开(公告)号：CN108645867A
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201810520557.6
申请日：2018-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 大口径光学晶体表面微缺陷的快速寻位与批量检测方法，属于光学工程领域。本发明为了解决大口径光学晶体表面微缺陷的批量、快速和精确检测的难题而提出的。本方法首先采用“连续运动采集”的光栅扫描方式对整块晶体元件完整扫描；然后，通过开发图像采集程序并建立其与数控运动程序的通讯，实现根据晶体实时扫描位置来采集图像的功能；基于图像处理算法实现对采集图像中缺陷点轮廓位置的椭圆拟合，获得单张图片中缺陷点数量、位置、尺寸等信息；最后，开发缺陷点自动检测程序，建立基于Microsoft Access微缺陷信息的数据库，以实现对采集图像的批量检测和缺陷点信息的保存、更新。本发明还为大口径晶体元件表面微缺陷的修复和控制提供详细的参数依据。
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公开(公告)号：CN105004882B
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201510508643.1
申请日：2015-08-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01P15/03
Abstract: 本发明基于45°光纤的差动光纤珐珀加速度传感器及加工方法属于加速度传感器技术领域；该传感器包括一个中间厚，四周薄，上下表面均镀有反射膜的质量块，对称设置在质量块两侧的硅支撑结构，每个硅支撑结构均与质量块构成珐珀腔，在每个硅支撑结构侧面贴靠底部的位置，均有一根研抛端面为45°的光纤插入；该方法首先加工设置有光纤插口的硅支撑结构和上下表面均镀有反射膜的质量块，然后将硅支撑结构顶端与质量块镀有反射膜的面键合在一起，再将光纤从光纤插口插入并调整，最后将光纤插口密封；本发明不仅能够满足贴合于被测物表面使用的技术需求，而且能够解决共轴型非本征型光纤珐珀腔加速度传感器稳定性差的问题，同时还能提高传感器的测量精度。
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公开(公告)号：CN106949852A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710229911.5
申请日：2017-04-10
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24
Abstract: 环抛加工修正盘表面形状误差的检测装置及检测方法，涉及一种形状误差的检测装置及检测方法。本发明为了解决现有技术中由于环抛加工修正盘具有较大的直径和较高的重量，进而造成激光干涉仪和三坐标测量仪无法直接进行表面形状误差的检测的问题。装置由大理石平尺、U形框、精密定位台、激光位移传感器、支撑平台、和矩形玻璃构成。检测方法：一、吊装环抛加工修正盘并组装装置；二、标出直径；三、调整大理石平尺与环抛加工修正盘工作面平行；四、数据采集。本发明解决了大尺寸修正盘工作面朝下且难以翻转的难题，能够半自动地检测大型环抛机的大尺寸修正盘的表面形状误差，检测过程简单精度高。本发明适用于检测环抛加工修正盘表面形状误差。
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公开(公告)号：CN104613988B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201510061572.5
申请日：2015-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于FBG光纤的中心波长稳定装置与方法属于振动信号检测领域；该装置包括ASE光源，沿ASE光源的出射光路依次设置第一光环形器、F‑P传感器、第二光环形器和FBG光纤，FBG光纤的反/透射光路通过第一/二光电转换器连接除法器，除法器依次连接ADC、FPGA、DAC和控制FBG光纤温度的温度控制器；该方法按照时间顺序，依次采集振动信号、提取窄带光、去噪、控制信号转换、调整FBG光纤反射光路的中心波长；本发明由于将FFP‑TF替换成了FBG光纤，并将FBG光纤设置于F‑P传感器的反射光路上，因此不仅降低了对光源的要求，而且提高了强度解调系统的分辨力、量程和信噪比，同时有利于实现仪器小型化，降低成本。
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