应用于UV固化的光源模块和制作方法

    公开(公告)号:CN115172345A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210605362.8

    申请日:2022-05-31

    Abstract: 本发明公开了一种应用于UV固化的光源模块和制作方法,该应用于UV固化的光源模块包括基板和晶圆,基板包括主体以及间隔设置在主体上的第一电极和第二电极;晶圆包括第三电极和间隔设置于第三电极上的多个晶粒,各晶粒均包括相互电连接的第四电极和发光结构,第三电极与发光结构电连接,第三电极背离发光结构的一侧与第一电极电连接,各第四电极均与第二电极电连接,晶粒为垂直结构,第三电极和第四电极分别设置于发光结构相对的两侧,各第四电极均包括子电极以及间隔设置在子电极一侧的至少两个金属件,子电极与发光结构连接,以使晶粒通过金属件与第二电极连接。将晶粒制备成晶圆级的阵列模式,单位面积晶粒密度增多,提升输出的光功率密度。

    氮化镓电子器件及其制备方法
    84.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115036220A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202110243650.9

    申请日:2021-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种氮化镓电子器件及其制备方法。所述制备方法包括:提供外延结构层,所述外延结构层包括依次叠层设置在衬底上的轻掺杂GaN层、含铝的III族氮化物半导体插入层和p型GaN层;对所述p型GaN层表面的指定区域进行加工处理,以在所述p型GaN层表面的指定区域形成凹槽结构,并使所述含铝的III族氮化物半导体插入层的局部自所述凹槽结构内露出;在所述凹槽结构内形成第一电极,该第一电极与所述插入层形成肖特基接触;以及制作与所述外延结构层形成欧姆接触的第二电极和第三电极。本发明实施例提供的氮化镓电子器件可以克服现有技术的缺点,且具有结区稳定可控、正向导通好、反向耐压高、正向电流横向扩展好等优点。

    半导体封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN114823942A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210764171.6

    申请日:2022-07-01

    Abstract: 本发明公开了一种半导体封装结构和封装方法,涉及半导体封装技术领域,该半导体封装结构包括基板、支架、半导体元件、透光部件和连接部,基板包括底板以及围设在底板周围的侧壁,侧壁和底板围成容纳空间,底板的顶面和底面均设置有导电层;支架位于容纳空间内并安装于底板的顶面的导电层上,支架为导电材料制件;半导体元件安装于支架上;透光部件盖设于基板上,透光部件包括透光件以及围设在透光件周围的金属连接件,金属连接件的底面与侧壁的顶面抵接;连接部分别与侧壁和金属连接件连接,连接部位于透光件的径向延长线上,用以封闭容纳空间。采用高能量束焊接,可以不用将基板置于高温环境中,避免了换气通道的产生,确保容纳空间的密封性。

    提高氮化物半导体紫外发光二极管取光效率的方法及应用

    公开(公告)号:CN111146314A

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201811314183.9

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种提高氮化物半导体紫外发光二极管取光效率的方法及应用。所述方法包括:在衬底上生长氮化物半导体紫外发光二极管结构,获得外延片,所述氮化物半导体紫外发光二极管结构包括依次形成的第一接触层、有源区、电子阻挡层和第二接触层,所述方法还包括:采用旋转错位法,使光刻图形的任意一条边均避开氮化物半导体紫外发光二极管结构的 晶向;采用湿法腐蚀技术修复刻蚀损伤,使氮化物半导体紫外发光二极管结构的无规则粗糙侧壁转化为m面 组成的锯齿形侧壁。本发明结合旋转错位和侧壁腐蚀工艺来实现外延片的侧壁粗化和刻蚀损伤修复,可显著提高氮化物半导体紫外发光二极管的取光效率,提高紫外发光二极管器件性能。

    基于复合势垒层结构的III族氮化物增强型HEMT及其制作方法

    公开(公告)号:CN110034186A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201810031021.8

    申请日:2018-01-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于复合势垒层结构的III族氮化物增强型HEMT及其制作方法。所述HEMT包括分别作为沟道层、势垒层的第一、第二半导体,作为p型层的第三半导体,源极、漏极以及栅极等;其中势垒层上对应于栅极的区域内形成有凹槽结构,其与第三半导体及栅极配合形成p型栅,并且第二半导体包括依次设置于第一半导体上的第一、第二结构层;相对于选定刻蚀试剂,第一结构层较之第二结构层具有更高耐刻蚀性能。本发明的HEMT结构可被更为精确地调控,同时还具有更佳器件性能,如正向栅极漏电和栅阈值电压摆幅被显著改善,器件阈值电压的片内均匀性可以得到保证,同时其更易于制作,适用于规模生产。

Patent Agency Ranking