高密度锗纳米线的制备方法

    公开(公告)号:CN109280903A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811245546.8

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 本发明提供一种高密度锗纳米线的制备方法,包括如下步骤:1)提供一锗衬底,锗衬底包括相对的第一表面及第二表面;2)于锗衬底的第一表面生长石墨烯;3)于锗衬底的第一表面形成铟催化剂层,且铟催化剂层至少覆盖石墨烯;4)于铟催化剂层远离锗衬底的表面生长锗纳米线。本发明无需采用电子束蒸发的方式沉积金属,大大简化了锗纳米线制备的工艺流程,并降低成本,非常适合于大规模低成本的锗纳米线的制备;本发明采用铟作为催化剂生长的锗纳米线具有较高的长宽比,同时具有较高的表面密度,这些特点使得该方法更便于锗纳米线的转移与应用,从而为基于四族纳米线的器件制备奠定工艺基础;同时,本发明制备的锗纳米线具有很好的稳定性和重复性。

    一种转移石墨烯的方法
    82.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108793146A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810714966.X

    申请日:2018-07-03

    CPC classification number: C01B32/194

    Abstract: 本发明提供一种转移石墨烯的方法,包括以下步骤:提供一衬底;在所述衬底上生长石墨烯,形成石墨烯/衬底结构;在所述石墨烯上涂敷派瑞林,形成派瑞林/石墨烯/衬底结构;利用腐蚀液去除所述派瑞林/石墨烯/衬底结构中的所述衬底,形成派瑞林/石墨烯结构;将所述派瑞林/石墨烯结构翻转,形成石墨烯/派瑞林结构,完成所述石墨烯的转移。本发明采用派瑞林作为石墨烯的转移介质及支撑层,仅经过一次腐蚀液去除衬底后进行翻转,即可获得高质量、大面积、无损、洁净的石墨烯。

    应力可调的悬浮应变薄膜结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN105321821B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201410328962.X

    申请日:2014-07-11

    Abstract: 本发明提供一种应力可调的悬浮应变薄膜结构及其制备方法,该方法包括以下步骤:S1:提供一自上而下依次包括顶层应变半导体层、埋氧层及半导体衬底的半导体结构,刻蚀顶层应变半导体层形成预设图形微结构及基座;所述微结构包括一对平板及连接于该一对平板之间的至少一条中心桥线;所述平板的外端连接于基座;S2:通过干法腐蚀去除所述微结构下方的埋氧层以释放微结构,使得所述平板应力弛豫,中心桥线应力增加。本发明通过弹性变形机制和图形化改变顶层应变半导体层本身的固有应力,使得平板应力弛豫,而中心桥线应力增加,从而实现应力大小及应力区域的调控,在绝缘体上应变半导体材料结构上制备高质量、大应变的应变纳米线,工艺简单高效。

    一种多沟道全包围栅极的半导体器件结构的制备方法

    公开(公告)号:CN104157579B

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201410457619.5

    申请日:2014-09-10

    Abstract: 本发明提供一种多沟道全包围栅极的半导体器件结构的制备方法,所述制备方法包括步骤:1)提供一硅衬底,于所述硅衬底表面形成Ge底层;2)在所述Ge底层上生长SiGe/Ge周期结构,最上一层用Ge覆盖;3)于所述SiGe/Ge周期结构及Ge底层中刻蚀出直至所述硅衬底的多个间隔排列的凹槽;4)采用选择性腐蚀工艺去除凹槽之间的SiGe/Ge周期结构中的SiGe,形成具有间隔的多层Ge结构;5)于所述多层Ge结构的上表面及多层Ge结构之间及侧壁形成栅介质层。本发明提供了一种工艺简单,成本低廉的多沟道全包围栅极的半导体器件结构的制备方法,所制备的半导体器件结构具有多个沟道,可以进一步提高器件性能。本发明具有结构及工艺简单,集成度高等优点,适用于工业生产。

    一种厚度可控的绝缘体上半导体材料的制备方法

    公开(公告)号:CN104425342B

    公开(公告)日:2017-08-15

    申请号:CN201310382840.4

    申请日:2013-08-28

    Abstract: 本发明提供一种厚度可控的绝缘体上半导体材料的制备方法,包括步骤:1)于第一衬底表面外延一掺杂的单晶薄膜;2)依次外延一重掺杂单晶层及一顶层半导体材料;3)将剥离离子注入至单晶薄膜下方的第一衬底预设深度的位置;4)提供表面具有绝缘层的第二衬底,并键合绝缘层及顶层半导体材料;5)使重掺杂单晶层与第一衬底从该单晶薄膜处分离;6)采用预设溶液腐蚀以去除重掺杂单晶层,其中,所述预设溶液对重掺杂单晶层的腐蚀速率大于其对顶层半导体材料的腐蚀速率。本发明通过掺杂的超薄单晶薄膜实现剥离,将剥离面控制在非常薄的一个层面内;通过高选择比的腐蚀工艺,可以制作出高质量且厚度可控性高的绝缘体上半导体材料。

    一种锗纳米线场效应晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN104332405B

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201410482922.0

    申请日:2014-09-19

    Abstract: 本发明提供一种锗纳米线场效应晶体管的制备方法,包括步骤1)提供SGOI衬底结构;2)刻蚀SiGe层,形成SiGe纳米线阵列;3)对步骤2)的结构进行锗浓缩,得到表面被SiO2层包裹的锗纳米线阵列;4)去除包裹在纳米线两端表面的SiO2层,裸露出锗纳米线的两端;5)在锗纳米线的延长线上沉积金属引线、源极电极和漏极电极,在硅衬底上制作栅极电极;6)在步骤5)的结构表面形成Si3N4保护层;7)去除纳米线图形区域和金属电极图形区域内的Si3N4保护层,直至完全露出锗纳米线、源极电极和漏极电极。本发明的锗纳米线基于自上而下的方法,工艺过程简单,可控性强,与传统的CMOS工艺完全兼容,成本较低,适于工业生产。

    一种去除石墨烯上光刻胶的方法

    公开(公告)号:CN105895522A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610459777.3

    申请日:2016-06-22

    CPC classification number: H01L21/31111 H01L21/0217 H01L21/31133

    Abstract: 本发明提供一种去除石墨烯上光刻胶的方法,包括:提供表面具有石墨烯的衬底;在所述石墨烯上形成氮化硅层;在所述氮化硅层上涂覆光刻胶,并进行需要光刻胶的后续工艺处理;利用丙酮浸泡去除部分所述光刻胶;利用氢氟酸浸泡去除所述氮化硅层及剩余的光刻胶。本发明的方法,在石墨烯与光刻胶之间插入一层氮化硅层,利用氢氟酸去除氮化硅层,从而通过去除氮化硅层可有效带走其上难以去除的光刻胶。插入的氮化硅层不会影响后续带胶工艺,易腐蚀,方便去除,且不会对石墨烯造成不利影响,避免了传统打胶处理对石墨烯造成的损伤。

    基于表面等离子体的硅基光源

    公开(公告)号:CN105742443A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610187620.X

    申请日:2016-03-29

    CPC classification number: H01L33/34 H01L33/02

    Abstract: 本发明提供一种基于表面等离子体的硅基光源,所述硅基光源包括基底及形成于所述基底上的Ω阵列微纳结构;所述Ω阵列微纳结构包括至少两个Ω微纳结构单元;其中,所述Ω微纳结构单元包括:发光部;环绕包裹所述发光部部分表面的波导部,且所述波导部未覆盖所述发光部的出光面;环绕包裹所述波导部部分表面的金属层,用以在所述金属层及所述波导部界面上产生表面等离子体;所述金属层底部与所述基底相接触。本发明通过调控材料来调控本征热发光频带,通过集成一系列不同半径R的内层发光材料实现宽频热发光效率增强,并且可以实现光学模式峰位与本征热发光峰位共振使发光效率达到峰值。

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