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公开(公告)号：CN117931781A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311750102.0
申请日：2023-12-19
Applicant: 国网浙江省电力有限公司 , 国网浙江省电力有限公司营销服务中心 , 国网浙江省电力有限公司绍兴供电公司 , 国网浙江省电力有限公司桐乡市供电公司 , 国网浙江省电力有限公司宁波供电公司 , 浙江大学
IPC: G06F16/215 , G06F16/22 , G06F16/25 , G06F21/31
Abstract: 本发明公开了一种有源配电网数据在线互校验方法及系统，涉及智能电网领域。现有的数据质量检测难以发现数据中的时次缺失、数据冲突和逻辑错误等问题；本发明包括步骤：输入待校验的有源配电网结构化时序数据和非结构化日志数据；根据时间戳和缺测标记值进行跨行的完整性校验；根据元素变率、合理阈值和物理逻辑关系进行跨列、跨表的合理性校验；采用pettitt方法校验时序一致性。采用基于矩阵分解的插补法，修复不合格数据；计算互校验合格率，若超过设定合格阈值，输出告警。输出通过互校验的数据。本方法基于跨列、跨行和跨表的物理逻辑约束实现在线互校验，可以辨识和修复数据中的时次缺失、数据冲突和逻辑错误等数据问题，从而提供高质量数据。
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公开(公告)号：CN117757481A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311679003.8
申请日：2023-12-08
Applicant: 浙江大学
IPC: C09K17/40 , C05G3/80 , C05G5/12 , A01B79/00 , A01B79/02 , C09K101/00 , C09K109/00
Abstract: 本发明涉及盐碱土改良技术，旨在提供一种基于改性废弃活性白土和硫石膏制备盐碱土改良剂的方法。包括：将废白土渣料进行物理压榨、离心脱油和破碎处理，得到脱油废白土；将脱油废白土、淀粉和水加入水热釜中混匀，静置平衡h后进行水热反应；经干燥、粉碎和过筛处理，得到改性废白土；然后与硫石膏、有机肥、河沙和复合微生物菌剂，混合均匀；在室温条件下腐熟后，得到疏松状态的盐碱土改良剂。本发明的产品具有较高吸附活性，对于盐碱土中的盐碱离子具有较强的固化作用；能够进一步降低盐碱土中的高盐碱性，实现土壤的水‑气‑土三相平衡；脱硫石膏与土壤中的钠离子形成阳离子交换，能够有效改善土壤的结构；可实现盐碱土修复，提升综合效益。
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公开(公告)号：CN111781470B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010509663.1
申请日：2020-06-05
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 , 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种电流互感器的高频电路等效方法，属于电流互感器电路技术领域。现有的电流互感器在高频时，电流互感器的寄生电感和电阻影响明显，使得其在预测含有高频分量的过电压波形时精度变差。本发明包括互感器低频电容电路，所述互感器低频电容电路连接至少一路高频谐振电路，即RLC谐振回路；所述RLC谐振回路是由电容Cn、电阻Rn、电感Ln所构成的并联谐振回路。本发明建立了带有高频谐振电路的等效电路，在互感器低频电容电路上连接至少一路高频谐振电路，能够将电流互感器的寄生电感和电阻的影响也考虑在内，在一次电压中含有高频分量的时候，依然能准确的从末屏电流中计算出一次电压，进而能够有效提高电流互感器的反演精度。
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公开(公告)号：CN115491557A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211106366.8
申请日：2022-09-11
Applicant: 浙江大学温州研究院
Abstract: 本发明涉及氢能储存技术，旨在提供一种利用酸活化改性膨润土改善镁基储氢材料活化能力的方法。包括：将膨润土原矿加入硫酸溶液中，在88℃条件下搅拌4h；将酸活化改性后的膨润土和镁基储氢材料加入球磨罐并混匀，进行球磨处理后获得活化能力改善的镁基储氢材料。本发明对镁基储氢材料的吸放氢活化性能有显著地改善作用；可有效改善镁基储氢材料的活化性能，缩短活化次数，提升活化效率，且工艺简单。
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公开(公告)号：CN114836379A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202111501482.5
申请日：2021-12-09
Applicant: 浙江大学
IPC: C12N5/0783 , C12Q1/6811 , C12Q1/6888 , G16B50/00 , G16B40/00 , A61K31/713 , A61P35/00
Abstract: 本发明公开了治疗/预防血液肿瘤药物活性成分的获得方法。该方法中，首次对NK‑92细胞、NK‑92MI细胞分泌的细胞外囊泡进行三级分离，获得两组包括大中小三种尺寸的细胞外囊泡(Extracellular Vesicles，EVs)；然后利用NK‑92细胞、NK‑92MI细胞的微小RNA(miRNA)序列和两组细胞外囊泡的miRNA序列组成的大样本进行活性筛选，获得对血液肿瘤细胞杀伤力强的活性miRNA。通过本发明获得的活性miRNA可参与调节基因的表达，具有治疗/预防血液肿瘤的作用；这些活性miRNA可能调节免疫细胞的早期发育，影响免疫细胞发育及分化；活性miRNA可能参与免疫功能的调控，对血液肿瘤具有治疗/预防作用。本发明提出的活性miRNA在脂质体中的转染效率高，转染后的抗肿瘤效果显著。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107193096B
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201610326815.8
申请日：2016-05-17
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种高次曲面空间位置自动定中系统和方法。本发明的技术特点在于对高次曲面光学元件顶点曲率半径以及顶点曲率中心位置坐标进行测量，实现待测高次曲面光学元件检测姿态的初始化调整与参数测量。高次曲面自动定中系统包括高次曲面定中单元和空间位置调整机构，自动定中方法通过建立高次曲面自动定中计算模型，得出自动定中系统的平移机构和摆动机构的精确调整量，进行各个机构对应量的调整，实现元件光轴、定中单元光轴、自旋机构转轴三轴轴系一致，最后驱动高次曲面定中单元沿Z向扫描，得到元件顶点的曲率中心坐标，从而为高次曲面子孔径扫描拼接操作提供了一种高精度的定位方法。
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公开(公告)号：CN106018414B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201610326803.5
申请日：2016-05-17
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤：优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布；基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像；通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像；利用正投影变换和全口径拼接得到全口径高次曲面二维投影图像，提取低倍下缺陷特征；准确定位缺陷并进行高倍检测，提取高倍下缺陷特征；统计分析特征信息，生成评价数据。本发明实现了高次曲面光学元件表面缺陷的自动化定量检测，极大地提高了检测效率和检测精度，为高次曲面光学元件的加工与使用提供客观可靠的数值依据，为提高先进光学制造超精密加工技术、研究各种超精密加工工艺提供有力手段。
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公开(公告)号：CN105651189B
公开(公告)日：2018-06-19
申请号：CN201610075214.4
申请日：2016-02-03
Applicant: 浙江大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种用于手机盖板中油墨层厚度测量的无损在线检测设备。本发明包括点光源、柱面透镜、狭缝、显微物镜、双胶合透镜、CCD相机和图像处理模块；点光源投射的准直光线通过柱面透镜形成发散的线光源，线光源经过狭缝以及显微物镜后，在待测手机盖板表面汇聚成亮度很高并且宽度很细的直线光；并且该细长的直线光穿过油墨层和非油墨层相交的区域，将显微物镜对焦在相交的区域，从而观察直线光穿过该区域后的弯曲变化程度。本发明油墨层与非油墨层之间存在高度差，入射光在两个表面分别形成反射光并进入显微物镜中，通过在CCD相机的成像表面形成不同的亮线，间接地计算出当前样品表面待检测位置的油墨高度变化，真正地实现无损检测。
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公开(公告)号：CN106875482A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710024828.4
申请日：2017-01-13
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种同时定位与稠密三维重建方法，该方法能够鲁棒的处理快速运动和频繁回路闭合，在较大规模的场景下可以无限时间运行。该方法除了可以用来扫描高质量的三维模型，还可以满足虚拟现实和增强现实的需求。该方法提出了一种基于关键帧的同时定位与地图构建的框架。首先，同时利用深度和颜色信息，基于关键帧的定位可以在CPU上高速运行，并且可以鲁棒地运行在具有挑战性的场景下。为减少累计误差，本发明引入了增量集束调整，可以极大的减少运算量，同时将局部和和全局集束调整在一个统一的框架下完成。其次，本发明提出了基于关键帧的一种融合方法，可以在线生成模型并在关键帧姿态调整时实时更新三维模型。
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公开(公告)号：CN106018414A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610326803.5
申请日：2016-05-17
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8851 , G01N2021/8887
Abstract: 本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤：优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布；基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像；通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像；利用正投影变换和全口径拼接得到全口径高次曲面二维投影图像，提取低倍下缺陷特征；准确定位缺陷并进行高倍检测，提取高倍下缺陷特征；统计分析特征信息，生成评价数据。本发明实现了高次曲面光学元件表面缺陷的自动化定量检测，极大地提高了检测效率和检测精度，为高次曲面光学元件的加工与使用提供客观可靠的数值依据，为提高先进光学制造超精密加工技术、研究各种超精密加工工艺提供有力手段。
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