一种低应力加速度计
    51.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105182005A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201510661916.6

    申请日:2015-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种低应力加速度计,包括:a.衬底(13)中设有浅腔(2)以及衬底锚点(5);b.电极结构层(1)中部设有的中心锚点(16),中心锚点(16)的两侧对称设有至少一个悬浮电极(4),悬浮电极(4)与下面的浅腔(2)对应配合,悬浮电极(4)的上表面设有向上活动间隙(11);c.可动结构层(15),及其中设有的可动结构(10),其中部设有上层锚点(18)与中心锚点(16)对应键合连接;d.盖帽(14)。本发明具有如下优点:热应力对电极结构的影响大幅下降,使得电极结构在全温范围内几乎无形变,从而保证了器件在全温范围内左右两边电容的对称性,提高了传感器全温性能。

    一种抗高过载的加速度计
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103529240A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310506796.3

    申请日:2013-10-24

    Abstract: 本发明涉及一种抗高过载的加速度计,包括连接于玻璃衬底上的硅基体(1),硅基体中设有悬臂梁(2)及相连的质量块(3),其特征在于:在质量块的两侧硅基体中对称设有弹性梁(6),弹性梁(6)与硅基体间设有缓冲间隙(4)。本发明与现有的加速度计抗高过载结构相比具有如下优点:(1)本发明有效的将弹性碰撞面与缓冲间隙相结合,使得加速度计在高过载情况下,可动结构不易断裂,实现了器件的高可靠性。(2)本发明结构简单,采用单晶硅片材料,提高了加速度计产品的一致性和可靠性;加工工艺比较简单,全部利用公知的MEMS工艺技术加工,适合大批量生产。

    一种MEMS器件及其晶圆级真空封装方法

    公开(公告)号:CN102862947A

    公开(公告)日:2013-01-09

    申请号:CN201210346195.6

    申请日:2012-09-18

    Abstract: 本发明涉及一种MEMS器件及其晶圆级真空封装方法,其特征在于:采用硅硅直接键合技术实现晶圆级真空封装,硅衬底(10)上键合的硅结构层(15)采用低阻硅片,直接在硅结构层上刻蚀形成电互联引线(5),在硅盖帽(12)中引线通孔(13)中的电互联引线压焊区(4)上溅射铝电极(14)。本发明具有如下优点:采用全硅结构,键合后无残余应力,能够大大提高器件工作性能;利用低阻硅作为电极引线,避免了硅硅直接键合过程中高温对金属电极的破坏;硅硅直接键合气密性极好,大大降低了封装成本;这种方法一致性和可靠性高,工艺易于实现。

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