压接装置和有压烧结设备
    56.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112735978B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202011490768.3

    申请日:2020-12-16

    Abstract: 本发明提供了一种压接装置和有压烧结设备,压接装置包括:底座,底座内设置有容纳腔;压块,设置在容纳腔内,压块能够在容纳腔内沿容纳腔的深度方向滑动;其中,芯片组件位于压块和容纳腔的底壁之间,压块能够将芯片组件压紧在底壁上。本发明的技术方案中,压接装置的结构简单,这样使得压接装置结构可以设计的更加地紧凑,相对于相关技术中的压接装置,体积更小,重量更轻,避免了相关技术中的压接装置造价成本高,场地要求高的问题,从而提高了压接装置使用的便利性,节约了压接装置的制造和维护成本。

    一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统

    公开(公告)号:CN111487514B

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202010312229.4

    申请日:2020-04-20

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT动态参数测试电路杂散电容提取方法及系统,包括:测量IGBT器件在瞬态开通过程中的发射极实测电压和集电极实测电流,得到发射极实测电压在瞬态开通过程中的电压变化曲线和集电极实测电流在瞬态开通过程中的电流变化曲线;利用电压变化曲线计算发射极实测电压在瞬态开通过程的结束时刻与开始时刻的电压差;利用电流变化曲线计算在瞬态开通过程中集电极理想电量与实测电量的电量差;利用电量差除以电压差得到IGBT动态参数测试电路的杂散电容。本发明基于IGBT器件的开通瞬态波形,通过实测的方法计算动态测试平台的杂散电容,可以有效评估动态测试设备测量结果的准确性,为制定设备杂散电容的标准提供了依据。

    半导体功率器件的封装结构及封装结构的电极

    公开(公告)号:CN109449135B

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN201811151918.0

    申请日:2018-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种半导体功率器件的封装结构及封装结构的电极,对封装结构内部的电极进行改进,按照从内到外电极的电阻逐渐减小的方式设计电极。由于,所有电极之间的互感,导致电流呈现外部大,中心小,与集肤效应类似的分布;并且由于电极的电阻相同,电流分布主要受集肤效应影响。由内至外电极电阻增大,从而削弱集肤效应的影响,使得各电极的电流趋于一致。在制作电极阶段,改变电极尺寸,不改变电极的分布以及封装结构的尺寸,因此并不影响器件大小,可以较好的在不增加封装尺寸的前提下实现多个半导体功率器件均流。

    功率半导体模块中热阻分布计算方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN111709162A

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN202010349978.4

    申请日:2020-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种功率半导体模块中热阻分布计算方法、装置、存储介质及电子设备,该方法包括:建立功率半导体模块的仿真模型;获取功率半导体模块的仿真模型对应的第一总热阻仿真值;对仿真模型中的每一层材料层分别执行以下步骤:在仿真模型中对功率半导体模块的对第i层材料层引入传热系数的调整系数ki,获取对第i层材料层引入调整系数ki后功率半导体模块的第i热阻仿真值;根据公式计算得到第i层材料层在功率半导体模块的热阻占比,从而得到功率半导体模块中的热阻分布。本发明解决了现有技术中对功率半导体模块的热阻分布计算过程复杂的问题,通过建立有限元模型,利用单一变量法计算热阻分布,降低计算误差,提高了计算效率。

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