公开(公告)号：CN104285034A

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201380024844.3

申请日：2013-03-07

Applicant: 普拉德研究及开发股份有限公司

Inventor： A·E·波梅兰茨 ,  Y·祖奥 ,  O·C·马林斯

IPC: E21B49/00 ,  E21B49/08

CPC classification number: E21B49/088 ,  E21B7/10 ,  E21B47/00 ,  E21B47/10 ,  E21B49/00 ,  E21B49/02 ,  E21B49/082 ,  G01N21/64 ,  G01N2201/12

Abstract: 本发明公开了一种用于评估油气储层中的多个部分之间的连通性的方法。在至少一个井眼中的不同深度处收集油气样品。荧光强度确定相应的不同深度的油气的实际重质馏分浓度。确定相应的不同深度的油气的估计重质馏分浓度，并将油气的实际重质馏分浓度与估计重质馏分浓度相比较，以评估油气储层的多个部分之间的连通性。

公开(公告)号：CN103189509A

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN201180053204.6

申请日：2011-11-04

Applicant: 索尼公司

Inventor： 新田尚

IPC: C12N15/09 ,  C12Q1/68

CPC classification number: C12Q1/6825 ,  C12Q1/6816 ,  C12Q1/6827 ,  G01N21/6486 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2201/12 ,  Y10T436/143333 ,  C12Q2563/137

Abstract: 一种简便地检测核酸的方法，不要求复杂的操作，例如在微观尺度流路内的液体的混合和清洗。提供了一种检测核酸的方法，包括以下步骤：使含核酸的样品与铜接触，并且检测从样品中发射的荧光。根据这种检测核酸的方法，仅通过将含核酸的样品与铜接触，就能简便地检测出源于核酸与铜的复合物的荧光。

公开(公告)号：CN102985810A

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN201180035369.0

申请日：2011-07-11

Applicant: 霍夫曼-拉罗奇有限公司

Inventor： W.佩特里希 ,  F.魏德纳

IPC: G01N21/86

CPC classification number: G01N21/17 ,  A61B5/151 ,  A61B10/0045 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/12 ,  H01L27/14601

Abstract: 建议了一种用于鉴定体液中的至少一种分析物的设备（110）。该设备（110）包括至少一个具有至少一个二维分析区域（136）的测试元件（120）。此外该设备（110）包括至少一个位置分辨的光学探测器（138），所述光学探测器具有多个像素（146）。该探测器（138）被设立为将测试元件（120）的至少一部分成像到图像区域（148）上。在此分析区域（136）的至少一部分被成像到分析图像区域（150）上。探测器（138）这样与测试元件（120）匹配，使得在分析图像区域（150）内对每个维度设置预定最小数量的像素（146）。所述像素（146）以二维矩阵布置来布置。该矩阵布置具有像素行（158）和像素列（160），其中像素行（158）基本上平行于分析区域（136）和/或分析图像区域（150）的纵向来布置。

公开(公告)号：CN104969068B

公开(公告)日：2019-06-18

申请号：CN201380052641.5

申请日：2013-04-05

Applicant: 思勘度股份有限公司

Inventor： 贝尔纳德·布尔格 ,  阿龙·罗威 ,  马特林·齐齐 ,  安东尼·埃里克·斯马特

IPC: G01N33/487 ,  G01N33/52 ,  G01N33/68

CPC classification number: G06T7/0014 ,  A61B5/1172 ,  G01J3/02 ,  G01J3/46 ,  G01N21/27 ,  G01N21/274 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N35/00029 ,  G01N2021/1765 ,  G01N2021/8488 ,  G01N2035/00108 ,  G01N2201/12 ,  G06K9/00046 ,  G06T7/60 ,  G06T7/70 ,  G06T7/90 ,  G06T2207/10024 ,  G06T2207/30004

Abstract: 本发明提供用于对生物材料执行基于色彩的反应测试的方法及电子装置。所述方法包含在自动校准环境内俘获并解释未暴露及稍后暴露的桨叶的数字图像。所述测试桨叶包含唯一识别机制UID、提供标准化色彩的样品以用于图像色彩校准、补偿及校正的参考色彩条RCB，及若干测试特定序列的化学测试垫片CTP。所述方法进一步包含将所述桨叶定位于所述图像中，提取所述UID并验证所述桨叶，提取所述RCB，以及定位每一图像中的所述多个CTP。所述方法进一步降低所述CTP中的图像噪声且根据对所述RCB执行的照明测量自动地校准所述图像。为确定测试结果，所述方法进一步确定在由制造商解释比色卡描述的色彩空间中所述CTP与其可能轨迹之间的若干距离。

公开(公告)号：CN108352339A

公开(公告)日：2018-07-31

申请号：CN201680066102.0

申请日：2016-09-16

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 贺力 ,  M·普利哈尔 ,  应华俊 ,  A·巴蒂亚 ,  A·S·达恩狄安娜 ,  R·拉米尼

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01N21/9501 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12 ,  G06N99/005

Abstract: 本发明提供用于使用自适应自动缺陷分类器来分类在样品上检测到的缺陷的方法及系统。一个方法包含基于从用户接收的用于第一批结果中的不同群组的缺陷的分类及包含在所述第一批结果中的全部所述缺陷的一组训练缺陷来产生缺陷分类器。所述第一批结果及额外批结果经组合以产生累计批结果。使用所述所产生缺陷分类器来分类所述累计批结果中的缺陷。如果所述缺陷中的任何者经分类而具有低于阈值的置信度，那么基于包含所述低置信度经分类缺陷的经修改训练组及用于从用户接收的这些缺陷的分类来修改所述缺陷分类器。接着所述经修改缺陷分类器用于分类额外累计批结果中的缺陷。

公开(公告)号：CN105518440B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201480046819.X

申请日：2014-08-25

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 洪德和 ,  琴晶 ,  宋丞镐

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G06T11/206 ,  G01N21/95684 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/12 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/34417 ,  G05B2219/35512 ,  G05B2219/37216 ,  G05B2219/37449 ,  G05B2219/45035 ,  G06T11/60 ,  G06T2200/24 ,  Y02P90/22

Abstract: 本发明涉及能够缩短检查时间、提高使用者便利性的基板检查装置。根据本发明一特征的基板检查装置包括：测量单元，其针对包括多个检查区域的检查基板，根据确定的测量顺序，测量多个检查区域，从而获得各检查区域的影像数据；控制部，其包括多个数据处理部及优化模块，所述多个数据处理部执行从测量单元传送的各检查区域的多个影像数据的数据处理，所述优化模块设置多个检查区域的优化的测量顺序及多个数据处理部的优化的数据处理顺序；及用户界面，其显示与通过优化模块而优化的测量顺序及数据处理顺序相关的优化相关信息。

公开(公告)号：CN108072349A

公开(公告)日：2018-05-25

申请号：CN201711145884.X

申请日：2017-11-17

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J.A.萨尔姆 ,  O.巴斯 ,  B.图兰

IPC: G01B21/16 ,  G01B21/32

CPC classification number: G06T7/0004 ,  F01D5/005 ,  F01D5/225 ,  F01D21/003 ,  F05D2260/80 ,  F05D2260/81 ,  F05D2270/80 ,  G01B11/002 ,  G01B11/16 ,  G01B21/16 ,  G01N21/8851 ,  G01N2201/12 ,  G06T7/60 ,  G06T7/70 ,  G06T19/20 ,  G06T2200/04 ,  G06T2200/08 ,  G06T2207/30164 ,  G06T2219/2004 ,  G01B21/32

Abstract: 公开了一种用于虚拟地检查叶片级(154)的系统及方法。系统可包括用于获得叶片级(154)的各个叶片(140)的护罩(134,134A,134B,152)的三维模型(132)的数字化装置(130)。一种计算机系统可包括配置成运行以下过程的至少一个模块：从通过使用数字化装置(130)数字化创建的叶片级(154)的各个叶片(140)的护罩(134,134A,134B,152)的三维模型(132)取得各个护罩(134,134A,134B,152)的多个参考点的几何位置数据；基于几何位置数据和叶片级(154)的已知大小生成叶片级(154)的护罩(134,134A,134B,152)的3D虚拟绘制(150)，三维虚拟绘制(150)包括各个护罩(134,134A,134B,152)的多个参考点的绘制；以及使用三维虚拟绘制(150)检查叶片级(154)。

公开(公告)号：CN106415807B

公开(公告)日：2018-04-10

申请号：CN201580026943.4

申请日：2015-05-11

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： A·V·库尔卡尼

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G06T7/001 ,  G01B21/16 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/9501 ,  G01N23/2251 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/10 ,  G01N2201/12 ,  G01N2223/6116 ,  G06F17/5045 ,  G06T7/60 ,  G06T7/74 ,  G06T2207/30148 ,  H01L21/67288 ,  H01L22/12

Abstract: 本发明提供用于相对于所存储高分辨率裸片图像确定检验数据的位置的方法及系统。一种方法包含：使由检验系统针对晶片上的对准位点获取的数据与关于预定对准位点的数据对准。所述预定对准位点在所述晶片的所存储高分辨率裸片图像的裸片图像空间中具有预定位置。所述方法还包含：基于所述预定对准位点在所述裸片图像空间中的所述预定位置而确定所述对准位点在所述裸片图像空间中的位置。另外，所述方法包含：基于所述对准位点在所述裸片图像空间中的所述位置而确定由所述检验系统针对所述晶片获取的检验数据在所述裸片图像空间中的位置。

公开(公告)号：CN107771280A

公开(公告)日：2018-03-06

申请号：CN201680031346.5

申请日：2016-03-30

Applicant: 美国杰莫洛吉克尔研究所有限公司

Inventor： H·塔卡什

IPC: G01N21/87 ,  G01N21/64 ,  G01N33/38

CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01N21/87 ,  G01N33/381 ,  G01N2021/6471 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0634 ,  G01N2201/068 ,  G01N2201/12

Abstract: 本文提供一种用于评估宝石的荧光特性的设备。设备包括：不透光平台，用于支撑待评估宝石；一个或多个光源，用以提供均匀UV照明和非UV照明；影像捕获组件；和远心透镜，其经定位以将照明宝石的荧光影像提供至影像捕获组件。也提供基于使用此设备所收集的影像的荧光分析的方法。

公开(公告)号：CN107533012A

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201680008920.5

申请日：2016-03-28

Applicant: 日新制钢株式会社

Inventor： 福井圭太 ,  志贺骏介

IPC: G01N21/892

CPC classification number: G01N21/892 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/55 ,  G01N33/20 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2021/8854 ,  G01N2021/8918 ,  G01N2201/12

Abstract: 本发明提供一种熔融镀覆钢板的表面缺陷检查装置及表面缺陷检查方法，在极力不依赖容易产生偏差的表面缺陷的面积、形状等的信息的前提下，对多种表面缺陷高精度地进行分类判定。正反射光摄影部(4)与漫反射光摄影部(5)同时对来自钢板(2)上的摄影对象部位的反射光进行摄影。图像信号处理部(6)将正反射光摄影部(4)摄影所得的正反射图像信号(T1)之中的亮度比规定的阈值低的部位作为表面缺陷部位而抽出。关于与0所抽出的表面缺陷部位对应的部位，对于漫反射光摄影部(5)摄影所得的漫反射图像信号(T2)进行阈值处理，由此对所抽出的所述表面缺陷部位的缺陷种类进行分类判定。