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公开(公告)号:CN108920831A
公开(公告)日:2018-11-30
申请号:CN201810718884.2
申请日:2018-06-29
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了高速飞行器罩体高温烧蚀对天线电性能影响的快速计算方法,包括:确定高速飞行器天线罩的材料属性、热边界条件;瞬态热分析仿真天线罩体烧蚀过程;提取某一时刻天线罩整体温度分布与外表面烧蚀形貌;计算该时刻温度分布下的介电常数、损耗角正切;计算天线罩烧蚀后的厚度;计算介电常数、损耗角正切和厚度变化后的透射系数;计算高温烧蚀后天线罩的透射系数;确定理想天线罩-天线系统的电性能函数;建立模型并计算高速飞行器天线罩高温烧蚀后的天线电性能。本发明能够快速有效地计算临近空间飞行过程中高速飞行器天线罩高温烧蚀对天线电性能的影响,为设计和实时补偿等提供理论指导,进而确保高速飞行器制导系统可靠工作。
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公开(公告)号:CN106354910A
公开(公告)日:2017-01-25
申请号:CN201610703168.8
申请日:2016-08-22
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5018
Abstract: 本发明公开了一种面向有源相控阵天线的结构主模态确定方法,包括:1)确定有源相控阵天线的参数,建立天线的有限元模型;2)通过模态分析得到天线固有频率、模态振型;3)天线载荷变形分析;4)计算天线结构模态对应的输出能量;5)根据能量精度要求对天线结构模态进行截断;6)求出截断后模态对应能量所占比重;7)建立截断后模态对应的状态空间方程;8)根据截断后模态的状态空间方程参数计算截断后模态所对应的传递函数的2范数;9)计算截断后模态的综合范数;10)将截断后模态的综合范数从大到小排列进行主模态选取,得到有源相控阵天线的结构主模态。本发明能够指导有源相控阵天线的动力学建模与指向控制,以保障天线服役性能。
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公开(公告)号:CN105718697A
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201610073905.0
申请日:2016-02-02
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5018 , G06F17/5086
Abstract: 本发明公开了一种面向天线指向大型变形抛物面天线面板移动拟合调整方法,包括确定抛物面天线结构方案及促动器初始位置,建立天线结构有限元模型、促动器支撑面板节点;计算天线结构自重变形,提取变形抛物面的节点信息;计算其天线电性能,确定变形抛物面与理想设计面的对应节点,虚拟移动面板;计算反射面拟合均方根误差最小的目标曲面;确定变形抛物面与目标曲面的对应节点,计算促动器调整量;调整面板位置,更新天线结构有限元模型;计算变形抛物面天线指向,判断天线指向是否满足要求得到最优的面板移动拟合调整量。本发明可直接计算得出面向天线指向的促动器调整量,保证了天线工作指向和天线原有焦距。改善了天线反射面精度,综合性能好。
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公开(公告)号:CN116995446A
公开(公告)日:2023-11-03
申请号:CN202310787362.9
申请日:2023-06-30
Applicant: 西安电子科技大学广州研究院
Abstract: 本发明公开了基于开关删减策略的像素阵列天线频率可重构性提升方法,该方法包括:根据像素阵列天线的初始开关数量,通过随机采样法对每个像素阵列天线开关的状态配置数据进行采样,得到每个像素阵列天线开关的配置数据;获取每个像素阵列天线开关配置数据在离散频点处的回波损耗和增益;确定像素阵列天线开关在不同状态下之间的最小可用配置百分比差值的绝对值;设置所述像素阵列天线开关的状态,确定像素阵列天线结构开关最终的数量和位置。通过使用本发明,能够降低了天线结构设计与仿真建模的复杂度,实现了像素阵列天线频率可重构性的提升。本发明作为基于开关删减策略的像素阵列天线频率可重构性提升方法,可广泛应用于天线技术领域。
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公开(公告)号:CN114065580B
公开(公告)日:2022-09-13
申请号:CN202111350875.0
申请日:2021-11-15
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , H01Q3/30 , H01Q23/00 , G06F113/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘法的有源相控阵天线阵面重构方法,包括确定有源相控阵天线结构参数、材料属性、应变传感器和位移预测点布局;建立天线阵面的有限元模型;模拟N种风速下天线阵面的应变场和位移场;提取该风速下的应变传感器和预测点处的模拟值作为对应位置的测量值;构建N种风速下的应变矩阵和预测点对应的位移列向量;构建应变‑位移转换矩阵;计算新风速下天线阵面上预测点位置的计算值;结合预测点理想位置,快速重构变形后的天线形貌。本发明通过测量天线阵面少量位置的应变值,快速计算出天线阵面各位置处的位移值,进而快速重构出变形后天线阵面形貌特征,重构精度较高,为满足天线服役过程中电性能指标要求提供了保障。
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公开(公告)号:CN110083919B
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN201910324583.6
申请日:2019-04-22
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于物性结构电磁参数的引线搭焊互联点性能预测方法,包括:确定引线搭焊互联点的物性参数、结构参数;将引线搭焊互联点的互联结构拆分进行阻抗分析;计算同轴线阻抗,确定电阻、电感、电容值得到微带线阻抗计算公式;将互联点部分依据结构拆分为两部分,并将其等效为微带线进行阻抗计算;推导引线搭焊互联点整体反射系数计算公式;快速给出引线搭焊互联点整体传输性能预测性能。本发明方法可以实现引线搭焊互联点基本参数和传输性能的耦合分析,可用于直接预测互联点基本参数下的信号传输性能,指导引线搭焊互联点的结构设计与优化。
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公开(公告)号:CN112084739A
公开(公告)日:2020-12-15
申请号:CN202010901171.7
申请日:2020-08-31
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06F30/373
Abstract: 本发明公开了一种基于双根金带键合构形的微波组件路耦合传输性能预测方法,包括:确定双根金带键合互联几何、物性和电磁传输参数;构形参数化表征模型;键带等效与感抗计算;分段离散与线性等效;建立互联区域分段传输线等效电路;求解单转移矩阵、双根导纳参量、双根散射参量和双根金带键合互联整体吸收损耗;建立双根金带键合互联构形与信号传输性能路耦合模型。本方法利用耦合模型可实现微波互联结构形态参数到信号传输性能的精准预测,指导高性能微波组件设计与优化,有效提升微波产品研制品质,节约成本,缩短研制周期。
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公开(公告)号:CN109031226B
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN201810966463.1
申请日:2018-08-23
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明公开了一种基于机电耦合的变形有源相控阵雷达探测性能快速评估方法,该方法包括:1)确定有源相控阵雷达的阵列天线阵元类型;2)确定阵列天线的结构参数和电磁工作参数;3)基于阵列天线辐射原理,计算理想天线方向图及天线重要性能参数;4)对雷达天线在某种工作环境载荷下进行结构分析;5)得到阵列天线单元结构位移;6)根据天线结构变形前后雷达主要探测性能分析参数模型,快速确定变形后雷达主要探测性能指标。本发明实现了由于雷达在环境载荷作用下,天线阵面发生结构变形后,雷达探测性能的快速预测与分析方法。
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公开(公告)号:CN108920831B
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN201810718884.2
申请日:2018-06-29
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/15 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了高速飞行器罩体高温烧蚀对天线电性能影响的快速计算方法,包括:确定高速飞行器天线罩的材料属性、热边界条件;瞬态热分析仿真天线罩体烧蚀过程;提取某一时刻天线罩整体温度分布与外表面烧蚀形貌;计算该时刻温度分布下的介电常数、损耗角正切;计算天线罩烧蚀后的厚度;计算介电常数、损耗角正切和厚度变化后的透射系数;计算高温烧蚀后天线罩的透射系数;确定理想天线罩‑天线系统的电性能函数;建立模型并计算高速飞行器天线罩高温烧蚀后的天线电性能。本发明能够快速有效地计算临近空间飞行过程中高速飞行器天线罩高温烧蚀对天线电性能的影响,为设计和实时补偿等提供理论指导,进而确保高速飞行器制导系统可靠工作。
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公开(公告)号:CN110442960A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201910707730.8
申请日:2019-08-01
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种活动引线搭焊电磁传输性能与互联点形态的耦合预测方法,包括:确定活动引线搭焊互联结构参数与物性参数,建立活动引线搭焊互联形态的参数化表征模型,设计活动引线搭焊互联形态参数与电磁传输性能指标的正交试验,计算活动引线搭焊互联形态参数关联强度、活动引线搭焊互联形态参数显著性,确定活动引线搭焊互联形态关键参数并进行关联区间及最佳参数计算,并基于此预测电磁传输性能是否达标。本方法可指导微波组件设计与优化,提升微波产品研制品质。
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