半导体装置
    44.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116438630A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202180075809.9

    申请日:2021-11-04

    Inventor: 中野佑纪

    Abstract: 半导体装置包括:芯片,其具有一方侧的第一主面以及另一方侧的第二主面,且包含设定于上述第一主面的内方部的活性面、以及设定于上述第一主面的周缘部的外侧面;功能设备,其形成于上述活性面侧;突出构造,其包含无机物,且突出设置于上述外侧面侧;以及有机膜,其包覆上述突出构造。

    半导体装置
    49.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN114430861A

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202080066090.8

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 半导体装置包括:芯片;电极,其形成在上述芯片上;无机绝缘层,其包覆上述电极,且具有使上述电极露出的第一开口;有机绝缘层,其包覆上述无机绝缘层,且具有从上述第一开口空出间隔地包围上述第一开口的第二开口,在上述第一开口以及上述第二开口之间的区域使上述无机绝缘层的内周缘露出;以及Ni镀层,其在上述第一开口内包覆上述电极,且在上述第二开口内包覆上述无机绝缘层的上述内周缘。

    半导体装置
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113299755A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110489242.1

    申请日:2016-02-08

    Inventor: 中野佑纪

    Abstract: 本发明的半导体装置包含:半导体层,包含有源部和栅极指状物部;MIS晶体管,被形成于所述有源部,并且,包含栅极沟槽、以及依次沿着所述栅极沟槽的侧面的源极区域、沟道区域和漏极区域;多个第一栅极指状物沟槽,在所述栅极指状物部中由所述栅极沟槽的延长部构成;栅极电极,埋入到所述栅极沟槽和所述第一栅极指状物沟槽中;第二导电型的第一底部杂质区域,被形成于所述第一栅极指状物沟槽的至少底部;栅极指状物,横穿过所述多个第一栅极指状物沟槽,电连接于所述栅极电极;以及第二导电型的电场缓和区域,在相邻的所述第一栅极指状物沟槽之间形成得比所述第一栅极指状物沟槽的底部深。

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