一种计算相互依存电路网络容错性能的方法

    公开(公告)号:CN115292859A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202210827978.X

    申请日:2022-07-13

    Abstract: 该发明公开了一种计算相互依存电路网络容错性能的方法,相互依存电路网络的容错性、鲁棒性及可靠性领域。大多数依存网络在现实世界中并不脆弱。因此,为了找到更精确的模型来说明实际级联故障的机制,深入确定容错分配与相互依存网络鲁棒性之间的关系,从而解决计算相互依存电路网络容错性能的问题。通过本发明计算的联合电路容错性能,实时改变电路结构或电路中节点能力,最大化联合电路的容错能力,增加联合电路的鲁棒性和稳定性。

    一种基于压缩感知的2D近场合成孔径雷达图像重建方法

    公开(公告)号:CN107817493B

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201711007605.3

    申请日:2017-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于压缩感知的2D近场合成孔径雷达图像重建方法,通过合成孔径雷达探头在2D测量网格区域对被测目标实行随机欠采样,获取远小于2D测量网格区域采样点数量的采集数据,极大提升了数据采集的效率。在建立压缩感知成像模型时,采用l1范数及TV算子作为惩罚函数,使得重建图像具有更加灵敏的先验信息。对压缩感知模型进行图像重建采用一种改进的共轭梯度下降方法,通过预测式线搜索方法计算出的搜索步长及应用光滑函数近似过的压缩感知模型计算出的梯度,估计迭代的下降方向,从而高效高质量地重建出2D测量网格区域大小的雷达图像。

    基于核函数的递归核自适应滤波方法

    公开(公告)号:CN110852451A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201911182352.2

    申请日:2019-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于核函数的递归核自适应滤波算法,其包括S1初始化方差参数、核参数、阶次参数和网络参数;S2、将一组训练数据中的输入信号和期望输出采用核函数映射到高维特征空间中;S3将输入信号在高维特征空间中的映射结果与高维特征空间中的权重向相乘得到当前迭代的输出结果并采用输出结果和期望输出在高维特征空间中的偏差值;S4将输入信号、映射结果、输出结果、期望输出和偏差值输入神经网络,对神经网络进行训练;S5判断所有组训练数据是否均已使用,若是,进入步骤S6,否则选取一组未使用的训练数据,将i累加一次并返回步骤S2;S6利用训练好的核自适应滤波模型对新输入的信号进行滤波。

    一种基于压缩感知的2D近场合成孔径雷达图像重建方法

    公开(公告)号:CN107817493A

    公开(公告)日:2018-03-20

    申请号:CN201711007605.3

    申请日:2017-10-25

    CPC classification number: G01S13/9035

    Abstract: 本发明公开了一种基于压缩感知的2D近场合成孔径雷达图像重建方法,通过合成孔径雷达探头在2D测量网格区域对被测目标实行随机欠采样,获取远小于2D测量网格区域采样点数量的采集数据,极大提升了数据采集的效率。在建立压缩感知成像模型时,采用l1范数及TV算子作为惩罚函数,使得重建图像具有更加灵敏的先验信息。对压缩感知模型进行图像重建采用一种改进的共轭梯度下降方法,通过预测式线搜索方法计算出的搜索步长及应用光滑函数近似过的压缩感知模型计算出的梯度,估计迭代的下降方向,从而高效高质量地重建出2D测量网格区域大小的雷达图像。

    一种模拟电路的故障检测方法

    公开(公告)号:CN103267942B

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201310176039.4

    申请日:2013-05-14

    Abstract: 本发明公开了一种模拟电路故障检测方法。所述方法对标称参数下电路输出响应序列(Sn)进行复互小波变换,提取敏感信息(记为I),得到相对幅度/相位参考值序列(Sr);通过蒙特卡洛仿真得到正常电路输出响应序列,并分别与Sn序列进行复互小波变换,提取I,得到相对幅度/相位仿真值序列(Ss);Ss序列分别与Sr序列进行归一化,得到正常电路输出响应相对幅度/相位值的范围(Ra-p);然后将未知电路实测输出响应序列与Sn序列进行复互小波变换,提取I,得到实测相对幅度/相位值序列(St);对Sr序列与St序列归一化,得到未知电路输出响应相对幅度/相位值(Va-p);最后比较Va-p与Ra-p,确定被测电路是否存在故障。与现有技术相比,本发明的方法的检测精度高,故障覆盖率高。

    一种集成电路的故障检测方法

    公开(公告)号:CN102928768B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201210431203.7

    申请日:2012-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路的故障检测方法。所述检测方法通过蒙特卡洛仿真逐一得到每个元件标称参数容差范围内的输出概率密度函数,并分别与各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算,得到互熵值;互熵值的最大数值者作为电路最大互熵,最小数值者作为电路最小互熵;然后将无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数,与未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数进行运算,得到实测互熵值;最后通过实测互熵值与电路最大互熵和电路最小互熵进行比较,确定被测集成电路是否存在故障。与现有技术相比,本发明要求测试节点少、测试过程简捷、测试成本低、对噪声不敏感。

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