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公开(公告)号：CN104297670B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201410623903.5
申请日：2014-11-07
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路的故障诊断及参数辨识方法。所述方法将器件参数的容差效应，对应为输出响应序列矩阵特征值的扰动，该对应的正确性有代数学相关定理和统计物理基本原理保证，这使该方法中被测电路输出响应特征值的扰动程度，既可作为故障定位的判据，还可以作为器件参数辨识的依据。通过计算器件的最大特征值和最小特征值，以及通过计算器件容差上限的最大、最小特征值，还有器件容差下限的最大、最小特征值，并将上述量进行比较，不仅可实现故障定位，还可实现参数辨识。与现有技术相比，本发明对处理故障诊断中容差特性效果好，故障定位准确，计算效率高，且将故障诊断与故障参数辨识一体化处理、易于工程实施。
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公开(公告)号：CN103267942B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310176039.4
申请日：2013-05-14
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路故障检测方法。所述方法对标称参数下电路输出响应序列（Sn）进行复互小波变换，提取敏感信息（记为I），得到相对幅度/相位参考值序列（Sr）；通过蒙特卡洛仿真得到正常电路输出响应序列，并分别与Sn序列进行复互小波变换，提取I，得到相对幅度/相位仿真值序列（Ss）；Ss序列分别与Sr序列进行归一化，得到正常电路输出响应相对幅度/相位值的范围（Ra-p）；然后将未知电路实测输出响应序列与Sn序列进行复互小波变换，提取I，得到实测相对幅度/相位值序列（St）；对Sr序列与St序列归一化，得到未知电路输出响应相对幅度/相位值（Va-p）；最后比较Va-p与Ra-p，确定被测电路是否存在故障。与现有技术相比，本发明的方法的检测精度高，故障覆盖率高。
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公开(公告)号：CN102928768B
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201210431203.7
申请日：2012-11-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种集成电路的故障检测方法。所述检测方法通过蒙特卡洛仿真逐一得到每个元件标称参数容差范围内的输出概率密度函数，并分别与各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算，得到互熵值；互熵值的最大数值者作为电路最大互熵，最小数值者作为电路最小互熵；然后将无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数，与未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数进行运算，得到实测互熵值；最后通过实测互熵值与电路最大互熵和电路最小互熵进行比较，确定被测集成电路是否存在故障。与现有技术相比，本发明要求测试节点少、测试过程简捷、测试成本低、对噪声不敏感。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104483620B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201410796474.1
申请日：2014-12-18
IPC: G01R31/28 , G01R31/3193
Abstract: 本发明公开了一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法。所述故障诊断方法利用熵信息对被测电路参数敏感的特性，利用拉格朗日乘数法导出被测电路输出响应的概率密度函数，然后利用最大似然法，估计得到被测电路输出的Rényi熵定义公式中的自由参数α，最后利用概率密度函数和自由参数α，计算得到被测电路输出的Rényi熵，利用对应于未知故障电路输出和无故障电路输出的Rényi熵之间的差异，完成故障诊断。与现有技术相比，本发明在噪声中诊断参数型故障效果好，鲁棒性强，且只需单测点，对电流信号和电压信号皆适用，计算复杂度低。
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公开(公告)号：CN104483620A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410796474.1
申请日：2014-12-18
IPC: G01R31/28 , G01R31/3193
Abstract: 本发明公开了一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法。所述故障诊断方法利用熵信息对被测电路参数敏感的特性，利用拉格朗日乘数法导出被测电路输出响应的概率密度函数，然后利用最大似然法，估计得到被测电路输出的Rényi熵定义公式中的自由参数α，最后利用概率密度函数和自由参数α，计算得到被测电路输出的Rényi熵，利用对应于未知故障电路输出和无故障电路输出的Rényi熵之间的差异，完成故障诊断。与现有技术相比，本发明在噪声中诊断参数型故障效果好，鲁棒性强，且只需单测点，对电流信号和电压信号皆适用，计算复杂度低。
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公开(公告)号：CN104297670A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410623903.5
申请日：2014-11-07
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路的故障诊断及参数辨识方法。所述方法将器件参数的容差效应，对应为输出响应序列矩阵特征值的扰动，该对应的正确性有代数学相关定理和统计物理基本原理保证，这使该方法中被测电路输出响应特征值的扰动程度，既可作为故障定位的判据，还可以作为器件参数辨识的依据。通过计算器件的最大特征值和最小特征值，以及通过计算器件容差上限的最大、最小特征值，还有器件容差下限的最大、最小特征值，并将上述量进行比较，不仅可实现故障定位，还可实现参数辨识。与现有技术相比，本发明对处理故障诊断中容差特性效果好，故障定位准确，计算效率高，且将故障诊断与故障参数辨识一体化处理、易于工程实施。
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公开(公告)号：CN103267942A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310176039.4
申请日：2013-05-14
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路故障检测方法。所述方法对标称参数下电路输出响应序列（Sn）进行复互小波变换，提取敏感信息（记为I），得到相对幅度/相位参考值序列（Sr）；通过蒙特卡洛仿真得到正常电路输出响应序列，并分别与Sn序列进行复互小波变换，提取I，得到相对幅度/相位仿真值序列（Ss）；Ss序列分别与Sr序列进行归一化，得到正常电路输出响应相对幅度/相位值的范围（Ra-p）；然后将未知电路实测输出响应序列与Sn序列进行复互小波变换，提取I，得到实测相对幅度/相位值序列（St）；对Sr序列与St序列归一化，得到未知电路输出响应相对幅度/相位值（Va-p）；最后比较Va-p与Ra-p，确定被测电路是否存在故障。与现有技术相比，本发明的方法的检测精度高，故障覆盖率高。
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公开(公告)号：CN102928768A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210431203.7
申请日：2012-11-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种集成电路的故障检测方法。所述检测方法通过蒙特卡洛仿真逐一得到每个元件标称参数容差范围内的输出概率密度函数，并分别与各元件标称参数下被测集成电路的输出概率密度函数进行运算，得到互熵值；互熵值的最大数值者作为电路最大互熵，最小数值者作为电路最小互熵；然后将无故障被测集成电路的实测输出概率密度函数，与未知故障被测集成电路的实测输出概率密度函数进行运算，得到实测互熵值；最后通过实测互熵值与电路最大互熵和电路最小互熵进行比较，确定被测集成电路是否存在故障。与现有技术相比，本发明要求测试节点少、测试过程简捷、测试成本低、对噪声不敏感。
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