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公开(公告)号：CN117540686A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311604053.X
申请日：2023-11-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种工艺和器件一体化设计控制仿真方法，涉及电子器件工艺和器件一体化技术领域。所述仿真方法包括：获取环境变量并设置工作路径；回显系统名称和版权信息；初始化场数据管理器；向TCL解释执行器注册扩展命令；加载缺省模块；执行仿真任务。将场数据管理器作为连接工艺和器件之间数据的公共类，通过TCL命令和.str文件实现工艺和器件之间的连接控制，从而避免过度设计，提高产品良率，并且大幅度降低芯片设计工艺成本。
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公开(公告)号：CN117540684A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311604021.X
申请日：2023-11-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种基于GP模型的BJT模型参数范围自动化检查方法，涉及双极性结型晶体管技术领域。所述自动化检查方法包括：步骤100、读取模型参数文件和参数取值范围文件；步骤200、判断所述模型参数文件中的前参数取值是否满足位于所述取参数取值范围文件的当前参数对应的错误边界的范围内；步骤300、基于步骤200，分析参数取值是否符合物理要求；对所述模型参数文件中的所有参数依次执行步骤200和步骤300。
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公开(公告)号：CN115640699A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211410719.3
申请日：2022-11-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F113/08
Abstract: 本发明提供了一种氢气杂质缺陷演化仿真方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：构建所述硅基双极型器件的SiO2和SiO2/Si界面结构模型；获取发生总剂量效应时所述硅基双极型器件中缺陷演化的基本物理过程；根据所述基本物理过程，构建对应的计算模型；根据氢分子在所述基本物理过程中的具体情况，获取氢分子的相关参数；根据所述氢分子的相关参数、氢气浓度及所述计算模型，获取所述硅基双极型器件氧化层中氢气杂质缺陷演化的仿真结果。本发明提供的氢气杂质缺陷演化仿真方法、装置、设备及存储介质能够获取准确的定量仿真结果，降低了试验成本，能够对氢气引入对总剂量效应的影响机理的研究提供重要的理论依据。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115248977A
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202210759791.0
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G16C10/00 , C23C16/40 , C23C16/56 , G06F119/14
Abstract: 本发明提供了一种基于化学沉积技术模拟碳化硅单晶表面氧化层生长的方法，涉及半导体材料制备技术领域，具体包括以下步骤：步骤S1：建立单晶碳化硅的模型，在所述模型中所述单晶碳化硅表面增设真空层，运用分子动力学的反应力场使碳化硅原子处于初始状态；步骤S2：加热所述单晶碳化硅至反应温度后，使所述单晶碳化硅在反应温度下平衡，在所述真空层内，重复模拟Si原子和O2分子在所述单晶碳化硅表面上充分反应并沉积的过程，得到沉积在所述单晶碳化硅表面的氧化层；步骤S3：优化所述单晶碳化硅及所述氧化层中的原子位置，得到氧化薄膜，获取所述氧化薄膜的结构数据。本发明能够获得氧化薄膜原子层面结构，且实验成本低，周期短效率高。
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公开(公告)号：CN115186383A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769989.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种将剂量‑深度曲线转换为能谱的方法，属于空间辐射分析技术领域。方法包括：构建单一能谱文件；进行求解，获取剂量‑深度曲线，构建数据集；对数据集进行正向变换，将数据集的最小值、中位数和最大值分别映射至0、0.5和1.0，并将小于中位数的数值放缩到[0，0.5]的区间、将大于中位数的数值放缩到(0.5，1]的区间；构建多层感知机模型；运行多层感知机模型，读取用户想要进行转换的剂量‑深度曲线，输出范围在[0,1]区间的微分能谱数据，对输出的微分能谱数据进行反向变换。本发明先通过构建转换模型，再利用训练好的转换模型读取待转换的剂量‑深度曲线，可实现剂量‑深度曲线到能谱的高效转换。
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公开(公告)号：CN115186382A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769870.X
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15 , G06F30/20 , G06F17/16 , G06F119/12
Abstract: 本发明提供了一种空间环境仿真数据的表征方法，属于航空航天技术领域。所述方法包括：对航天器在空间运行期间的仿真数据进行基于三维空间和二维空间的表征，并以连续的时间变化为基础，根据所述航天器在三维空间和二维空间中的空间环境的表征，绘制空间环境数据瞬时曲线图。本发明从三维空间、二维空间两个维度对航天器空间运行状态及其所处空间环境的仿真数据进行量化表征，通过三维数据确定航天器的空间位置运动状态，通过四维数据确定航天器的姿态，基于航天器运行轨迹的云图分析对航天器空间环境进行表征，使得海量的多元异构数据能够在同一场景中展现，对工程中分析航天器复杂空间环境及提高航天器在轨服役寿命和可靠性均具有重要意义。
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公开(公告)号：CN115169209A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769768.X
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/25
Abstract: 本发明提供了一种空间辐射环境多模型耦合仿真方法、装置及计算机设备，涉及计算机仿真技术领域，仿真方法包括：根据仿真粒度将仿真时间范围划分为连续分布的多个仿真时刻；将每一初始轨道任务参数实例化为一个第一仿真对象，在每一仿真时刻遍历所有第一仿真对象，获取每一第一仿真对象在当前仿真时刻的当前状态参数；根据初始位置和初始轨道任务参数，获取多个空间辐射环境模型初始参数，将每一空间辐射环境模型初始参数实例化为一个第二仿真对象，根据每一第一仿真对象在当前仿真时间的当前状态参数，遍历所有第二仿真对象，计算空间辐射环境模型的量化数据。本发明能够实现多任务轨道与多模型高度耦合同时计算，提高了计算效率。
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公开(公告)号：CN115168997A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210770066.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15 , G06F30/25 , G06F111/10 , G06F113/28 , G06F113/26
Abstract: 本发明提供一种航天器空间辐照防护加固的方法，包括：测量航天器防护层的厚度，并确认所述防护层的材料属性；根据所述厚度和所述材料属性，构建防护层模型；通过蒙特卡罗模拟方法，使用空间粒子照射所述防护层模型，并对穿过所述防护层模型后的粒子角度进行统计分析；根据粒子角度的分布情况，为航天器空间辐照防护加固提供依据。本发明通过构建防护层模型，以不同空间粒子照射防护层模型得到穿过防护层后粒子角度分布结果，并根据此分析结果，对粒子强度较强的范围内进行重点防护，提高防护的针对性，不必对航天器进行整体防护，从而减轻航天器的总重量，不对航天器的发射产生影响。
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