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公开(公告)号:CN110174634B
公开(公告)日:2021-09-07
申请号:CN201910439443.3
申请日:2019-05-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种负载牵引测量系统及测量方法,测量系统包括矢量网络分析仪、源端阻抗调配器、负载端阻抗调配器、源端双定向耦合器和负载端双定向耦合器;源端阻抗调配器的第一端用于连接源端信号源,源端阻抗调配器的第二端连接源端双定向耦合器的第一端,源端双定向耦合器的第二端连接第一探针;负载端阻抗调配器的第一端用于连接负载端信号源,负载端阻抗调配器的第二端连接负载端双定向耦合器的第一端,负载端双定向耦合器的第二端连接第二探针;源端双定向耦合器的第三端和第四端、负载端双定向耦合器的第三端和第四端分别连接矢量网络分析仪的四个内部接收机的端口。本发明不受阻抗调配器机械重复性的影响,提高测试准确度。
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公开(公告)号:CN111983539A
公开(公告)日:2020-11-24
申请号:CN202010707691.4
申请日:2020-07-21
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供了一种在片S参数测量系统校准方法,该方法包括:采用未校准的在片S参数测量系统测量LRRM校准标准的直通标准、匹配负载、两个反射标准,得到直通原始转移参数矩阵、匹配负载的阻抗测量值、两个反射标准的阻抗测量值;根据直通原始转移参数矩阵、匹配负载的阻抗测量值、两个反射标准的阻抗测量值、以及预设的参量转换关系式确定八项误差模型和误差网络的比例关系;基于比例关系对直通原始转移参数矩阵进行修正,得到修正后的转移参数矩阵,并根据开关项修正方法以及修正后的转移参数矩阵对在片S参数测量系统进行校准。本发明提供的在片S参数测量系统校准方法能够实现在片S参数的准确测量。
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公开(公告)号:CN111983312A
公开(公告)日:2020-11-24
申请号:CN202010717525.2
申请日:2020-07-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC: G01R23/20
Abstract: 本发明适用于微波、毫米波测试技术领域,提供了一种噪声参数的确定方法及终端设备,该方法包括:获取阻抗调配器内部探针位置以及每个探针位置对应的第一源阻抗值;根据确定的最佳源反射系数估计值、幅度参数列表、相位参数列表以及最大幅度值,计算第二源阻抗值;根据每个第二源阻抗值,确定第一源阻抗值对应的源阻抗点中与每个第二源阻抗值对应的源阻抗点距离最近的源阻抗点为目标源阻抗点;确定每个目标源阻抗点对应的目标源阻抗值对应的内部探针位置;根据每个目标源阻抗值对应的内部探针位置,计算噪声参数。本发明减少了用于计算噪声参数的待测量参数的数量,大大提高测量效率,降低了噪声参数的计算复杂度,且计算的噪声参数的准确度高。
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