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公开(公告)号：CN115565578A
公开(公告)日：2023-01-03
申请号：CN202211191120.5
申请日：2022-09-28
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/413 , G11C8/08 , G11C7/12
Abstract: 本发明涉及集成电路设计领域，尤其涉及一种基于极性加固技术的抗辐射SRAM存储单元电路、芯片。本发明的基于极性加固技术的抗辐射SRAM存储单元电路采用NMOS晶体管N7、N8和PMOS晶体管P5、P6配合，并采用双字线WL1、WL2控制。本发明在保证单元抗SEU的情况下，相较于之前的RCPD‑14T单元，本单元在性能表现上存在部分提升，其中包括读延迟、读噪声容限。并且读噪声容限在0.8V‑1.2V工作电压中都有所提升，即本单元稳定性指标得到提升。
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公开(公告)号：CN119311635B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411864014.8
申请日：2024-12-18
Applicant: 安徽大学
IPC: G06F15/78
Abstract: 本发明涉及集成电路设计技术领域，更具体的，涉及一种10T1C‑SRAM存内计算单元及存算电路。本发明在经典的6T‑SRAM的基础上增设了4个NMOS晶体管N4~N7和1个电容C，设计出一种新的10T1C‑SRAM存内计算单元，其继承了6T‑SRAM的数据存储及读写功能，又可以利用N4、N5、N6、N7和C构成计算部来实现存内AND计算和存内XNOR计算。本发明还基于新设计的10T1C‑SRAM存内计算单元，构建出存内计算电路，还可以进行存内1b‑AND MAC计算和存内BNN计算，功能性强、灵活性大。
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公开(公告)号：CN119446218A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202510019409.6
申请日：2025-01-07
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/4097
Abstract: 本申请涉及一种自启动位单元SRAM写辅助的电路结构、存储阵列和SRAM，其中，该电路结构包括：第一反相器和第二反相器，所述第一反相器的输入端与所述第一位线连接，所述第二反相器的输入端与所述第二位线连接；第一NMOS管和第二NMOS管，所述第一NMOS管的栅极与所述第一反相器的输出端连接，所述第一NMOS管的漏极与所述第一位线连接，所述第一NMOS管的源极接地，所述第二NMOS管的栅极与所述第二反相器的输出端连接，所述第二NMOS管的漏极与所述第二位线连接，所述第二NMOS管的源极接地。解决了目前存储阵列外围的写辅助电路会增加SRAM的电路布局难度以及大幅增加电路面积占用的问题。
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公开(公告)号：CN119248225A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411787533.9
申请日：2024-12-06
Applicant: 安徽大学
IPC: G06F7/502 , G06F15/78 , G11C11/412 , G11C11/417
Abstract: 本申请涉及一种五管半加器电路、数字存内计算阵列和静态随机存储器，其中，该五管半加器电路包括：第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第一PMOS管P1和第二PMOS管P2、第三PMOS管P3；第一NMOS管N1的源极与第一PMOS管P1的漏极以及第二PMOS管P2的漏极连接并构成第一节点SUM，第一NMOS管N1的栅极与电压源连接，第一NMOS管N1的漏极接地；第二NMOS管N2的栅极与第三PMOS管P3的栅极连接并构成第二节点D，第一PMOS管P1的源极以及第二PMOS管P2的栅极连接第二节点D；第三PMOS管P3的漏极与第二NMOS管N2的漏极连接并构成第三节点CO，第三PMOS管P3的源极接地；第二NMOS管N2的源极与第一PMOS管P1的栅极以及第二PMOS管P2的源极连接并构成第四节点C。解决了目前的半加器电路结构较为复杂的问题。
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公开(公告)号：CN119091943A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411210019.9
申请日：2024-08-30
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , H10B10/00 , G11C11/418 , G11C11/419 , G11C15/04
Abstract: 本发明属于集成电路技术领域，具体涉及一种10T‑SRAM单元、双通道读与内容寻址的逻辑电路及其芯片。10T‑SRAM单元由P1～P2和N1～N8构成。其中，P1、P2、N1～N4构成6T存储单元，剩余器件构成配置电路。N5和N6的栅极分别连接在6T存储单元中的存储节点Q和QB上；N7和N8的栅极分别接控制信号SL和SR；N5的漏极与N7的源极相连；N8的源极与N6的漏极相连；N5、N6的源极连接在传递信号线TL上，N7、N8的漏极连接在标志信号线ML上。将多个10T‑SRAM阵列排布，同行中相邻单元的TL和ML相连则构成双通道读与内容寻址的逻辑电路。本发明的电路同时具备数据存储，双通道数据读以及内容寻址功能；电路简单却功能强大，可以克服现有电路的效率和功耗缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119068948A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411171601.9
申请日：2024-08-26
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/413 , G11C11/419 , G06F7/50
Abstract: 本申请涉及一种基于6T‑SRAM的多位相乘相加运算电路及其控制方法，该电路包括多个6T‑SRAM单元、控制单元和计算单元；多个6T‑SRAM单元并联设置且分别采用不同字线控制，多个6T‑SRAM单元的第一端连接同一第一局部位线，多个6T‑SRAM单元的第二端连通同一第二局部位线；计算单元包括第五至第八PMOS管、第七至第十NMOS管；第五PMOS管的源极和第八NMOS管的漏极信号输出节点，第七PMOS管的漏极和第八PMOS管的漏极用于接入不定电平信号，第九NMOS管的栅极和第十NMOS管的栅极为信号输入节点；第五PMOS管的栅极和第八NMOS管的栅极通过控制单元分别连接第二局部位线和第一局部位线，控制单元用于实现开关控制。将存储单元和计算单元配置在一块，实现了存内计算，大大提高了运算速度。
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公开(公告)号：CN118280408B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410706157.X
申请日：2024-06-03
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , G11C11/417
Abstract: 本发明属于静态随机存储器领域，具体涉及一种具有施密特结构的混合型14T‑SRAM单元及其对应的SRAM电路和存储芯片。14T‑SRAM单元由4个P型TFET晶体管，8个N型TFET晶体管，以及2个NMOS管构成。其中，本发明通过8个TFET晶体管构成施密特反相器，两个反相器构成存储单元中的锁存结构。由于锁存结构采用施密特反相器设计，可以提高单元的保持和读噪声容限。方案中采用了打断锁存结构的方式，提高了单元的写速度和写噪声容限；采用漏极电压始终不低于源极电压的NTFET作为传输控制管，消除TFET的正向偏置电流，降低电路的静态功耗。此外，本发明还对部分晶体管在单元内和阵列中进行复用，以提升电路集成度。
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公开(公告)号：CN118351913A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410777479.3
申请日：2024-06-17
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/419 , G11C11/412
Abstract: 本发明涉及集成电路设计技术领域，更具体的，涉及一种14T‑TFET‑SRAM单元电路、模块及阵列。本发明的单元电路包括6个PTFET晶体管P1~P6、8个NTFET晶体管N1~N8。本发明充分利用了低电压下TFET晶体管具有更好开关特性和更低的亚阈值摆幅的优势，添加了P1、P2作为写辅助管，大大提高了单元电路的写能力；通过电路设计，使得传输管N1、N2、N3、N4的漏极电压始终不低于源极电压，不仅提高了单元电路的写能力，而且消除了TFET器件的正向偏置电流，降低了单元电路的静态功耗，增大单元电路的噪声容限。本发明解决了现有TFET‑SRAM单元写噪声容限较低、静态功耗大的问题。
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公开(公告)号：CN118132034A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410243339.8
申请日：2024-03-04
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明属于集成电路领域，具体涉及一种乒乓式乘法单元，一个基于乒乓式乘法及重构加法器树的存内计算电路，及其对应的CIM芯片。乒乓式乘法单元将原存算电路中的存储阵列按列划分左右两部分，并利用2个与门以及1个二选一选择器实现根据不同的控制信号；选择其中一个存储阵列中存储的数据作为权重，与Input端口输入的数据相乘，输出乘法运算结果；并允许未被选中的存储阵列在逻辑运算过程中更新权重。存内计算电路则在SRAM的基础上增加乒乓乘法模块、加法器组、数据输入单元、回写单元，以及模式控制模块；进而实现多比特数之间的乘法与乘累加运算。本发明解决现有存算电路无法同步计算和权重更新，不适用于神经网络处理的问题。
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公开(公告)号：CN115050406A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210983745.9
申请日：2022-08-17
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/413 , G11C7/12 , G11C7/06 , G11C5/14
Abstract: 本发明属于集成电路技术领域，具体涉及一种SRAM存储器的位线泄漏电流补偿电路，集成位线泄漏电流补偿电路的功能模块，采用该功能模块的数据存储电路及其存储器。位线泄漏电流补偿电路用于连接在SRAM存储器中的存储阵列和灵敏放大器SA之间；存储阵列与两组位线对连接，两组位线对包括主位线对BL、BLB和辅助位线对BL1、BLB1。位线泄漏电流补偿电路包括四组PMOS管对：P0和P1、P2和P3、P4和P5、P6和P7，以及四个电容：C0、C1、C2、C3。本发明提供的存储器中包括存储阵列、位线对、位线泄漏电流补偿电路和灵敏放大器。其中存储阵列由8T SRAM存储单元构成。解决了现有SRAM存储器存在的因位线漏电流导致的数据读取错误，以及读操作延迟较高，数据读取速率不足的问题。
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