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公开(公告)号：CN102637686B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201210122173.1
申请日：2010-02-24
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: H01L27/249 , G11C13/0007 , G11C2013/0083 , G11C2213/32 , G11C2213/34 , G11C2213/71 , G11C2213/72 , G11C2213/77 , H01L27/0688 , H01L27/101 , H01L27/2409 , H01L27/2418 , H01L27/2436 , H01L27/2454 , H01L45/08 , H01L45/1226 , H01L45/146 , H01L45/1616
Abstract: 本发明提供具备大容量且能够廉价地制作的三维存储器单元阵列的非易失性半导体存储装置。在具备可变电阻元件的双端子型存储器单元的三维存储器单元阵列(1)中，在Z方向上邻接的存储器单元的各一端与分别在X及Y方向上配置多个，且在Z方向上延伸的中间选择线的一个连接，Z方向的相同位置的各存储器单元的另一端与在Z方向上配置多个的第三选择线的一个共通地连接，选择晶体管分别在X及Y方向上配置多个的二维阵列(2)与存储器单元阵列(1)在Z方向上邻接，在X方向上邻接的多个选择晶体管的栅与第一选择线共通地连接，在Y方向上邻接的多个选择晶体管的漏极与第二选择线共通地连接，多个选择晶体管的源极与中间选择线个别地连接，第一选择线与X解码器连接，第二选择线与Y解码器连接，第三选择线与Z解码器连接。
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公开(公告)号：CN102347445B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201110215067.3
申请日：2011-07-29
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L45/00
CPC classification number: H01L45/04 , H01L27/2436 , H01L45/1233 , H01L45/146
Abstract: 本发明实现一种可变电阻元件和具有该可变电阻元件的非易失性半导体存储装置，该可变电阻元件通过抑制伴随成形处理完成的急剧电流，从而降低特性偏差，稳定地进行切换动作。一种非易失性半导体存储装置，将在第一电极(12a)与第2电极(14)之间夹持电阻变化层(13)而成的可变电阻元件(2)用于信息存储中，可变电阻元件(2)在形成切换界面的第一电极(12a)与电阻变化层(13)之间被插入缓冲层(12b)而成。以如下方式选择缓冲层(12b)和电阻变化层(13)的材料，即:缓冲层(12b)与电阻变化层(13)均包含n型金属氧化物而构成，构成缓冲层(12b)的n型金属氧化物的导带底的能量比构成电阻变化层(13)的n型金属氧化物的导带底的能量低。
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公开(公告)号：CN102339636B
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201110198320.9
申请日：2011-07-15
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11C13/0007 , G11C7/1048 , G11C7/12 , G11C13/0004 , G11C13/0026 , G11C13/0038 , G11C13/0069 , G11C2013/0071 , G11C2213/79 , G11C2213/82
Abstract: 本发明涉及半导体存储装置及其驱动方法。在具有存储元件的半导体存储装置的改写中，从公用线侧也施加电压脉冲，故无法高速动作。半导体存储装置具有：存储单元阵列（100），矩阵状排列多个将二端子型的存储元件R和选择用的晶体管Q串连而成的存储单元；第一电压施加电路（101），对位线施加改写电压脉冲；第二电压施加电路（102），对位线及公用线施加预充电电压，其中在存储单元改写时，第二电压施加电路（102）预先将存储单元两端预充电为同一电压后，第一电压施加电路（101）将改写电压脉冲经位线施加在改写对象的存储单元的一端，并且在施加该改写电压脉冲期间，维持第二电压施加电路（102）经公用线对该存储单元另一端施加该预充电电压。
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公开(公告)号：CN102347445A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201110215067.3
申请日：2011-07-29
Applicant: 夏普株式会社
IPC: H01L45/00
CPC classification number: H01L45/04 , H01L27/2436 , H01L45/1233 , H01L45/146
Abstract: 本发明实现一种可变电阻元件和具有该可变电阻元件的非易失性半导体存储装置，该可变电阻元件通过抑制伴随成形处理完成的急剧电流，从而降低特性偏差，稳定地进行切换动作。一种非易失性半导体存储装置，将在第一电极(12a)与第2电极(14)之间夹持电阻变化层(13)而成的可变电阻元件(2)用于信息存储中，可变电阻元件(2)在形成切换界面的第一电极(12a)与电阻变化层(13)之间被插入缓冲层(12b)而成。以如下方式选择缓冲层(12b)和电阻变化层(13)的材料，即:缓冲层(12b)与电阻变化层(13)均包含n型金属氧化物而构成，构成缓冲层(12b)的n型金属氧化物的导带底的能量比构成电阻变化层(13)的n型金属氧化物的导带底的能量低。
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公开(公告)号：CN101371313B
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200780003089.5
申请日：2007-01-09
Applicant: 夏普株式会社 , 独立行政法人产业技术综合研究所
CPC classification number: G11C13/0069 , G11C13/0007 , G11C13/003 , G11C2013/009 , G11C2213/31 , G11C2213/32 , G11C2213/72 , G11C2213/76 , G11C2213/79
Abstract: 提供一种非易失性半导体存储装置，能进行针对电阻特性根据电压施加而变化的可变电阻元件的稳定高速的切换动作。用于向可变电阻元件施加电压的负载电路以能与可变电阻元件串联电连接的方式设置，以负载电路的负载电阻特性可在两种不同特性间切换的方式构成，在可变电阻元件的电阻特性从低电阻状态转移到高电阻状态的情况和从高电阻状态转移到低电阻状态的情况下，选择性地切换负载电路的两种负载电阻特性，根据施加到可变电阻元件和负载电路的串联电路上的改写用电压，对可变电阻元件施加从两种电阻特性的一种向另一种转移所需的电压，可变电阻元件的电阻特性从一种转移到另一种后，施加到可变电阻元件上的电压成为不能根据选择的负载电阻特性从另一种电阻特性向一种电阻特性返回的电压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101685828A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200910178533.8
申请日：2009-09-27
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11C13/0007 , G11C11/005 , G11C13/0004 , G11C13/0011 , G11C13/0033 , G11C14/00 , G11C14/0045 , G11C2211/4016 , G11C2213/31 , H01L27/2436 , H01L27/2454 , H01L27/2472 , H01L45/04 , H01L45/06 , H01L45/085 , H01L45/1233 , H01L45/146
Abstract: 本发明涉及半导体存储装置。提供了一种廉价的高性能非易失性存储器，其能够无限次随机写入和读出。单位存储单元由MISFET(108)和电阻变化元件(113)构成，所述MISFET(108)具有与半导体衬底电隔离的沟道体，所述电阻变化元件具有一端与MISFET的漏极相连的二端子结构。MISFET(108)起易失性存储元件的作用，而电阻变化元件(113)起非易失性存储元件的作用，从而在电源关断之前MISFET(108)中所储存的信息被复制到电阻变化元件(113)，并且在电源接通时电阻变化元件中所储存的信息被传送到MISFET(108)，因而，MISFET(108)被用作能够随机写入和读出的易失性存储器。
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公开(公告)号：CN101681913A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200880015449.8
申请日：2008-04-07
Applicant: 夏普株式会社 , 独立行政法人产业技术综合研究所
CPC classification number: G11C13/0011 , G11C11/5614 , G11C11/5685 , G11C13/0007 , G11C13/0069 , G11C2013/0073 , G11C2013/0083 , G11C2013/009 , G11C2213/32 , G11C2213/34 , G11C2213/51 , G11C2213/56 , G11C2213/77 , H01L27/101 , H01L45/08 , H01L45/1233 , H01L45/146
Abstract: 本发明提供一种能够高速且低功耗地工作的可变电阻元件。在第一电极(11)和第二电极(12)之间具有金属氧化物层(10)，对应于向第一和第二电极间的电应力的施加，第一和第二电极间的电阻可逆地变化，其中，金属氧化物层(10)具有：作为在第一和第二电极间流过的电流的电流密度局部地变高的电流路径的细丝(13)，在第一电极和第二电极内的至少任何的一方的特定电极(11)与金属氧化物层(10)的界面的、至少包含特定电极(11)和细丝(13)的界面附近的一部分，具备：界面氧化物(15)，该界面氧化物作为包含在特定电极中的至少一个元素的氧化物，与金属氧化物层(10)的氧化物不同。
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公开(公告)号：CN100485811C
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200510087650.5
申请日：2005-07-27
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 本发明的非易失性半导体存储装置包括：存储单元选择电路(17)，以行、列或存储单元为单位从存储单元阵列(15)中选择存储单元；读出电压施加电路(22a)，对由存储单元选择电路(17)选出的选择存储单元的可变电阻元件施加读出电压；读出电路(23)，对选择存储单元内的读出对象存储单元检测与该可变电阻元件的电阻值对应流过的读出电流的大小，再读出存储在读出对象存储单元中的信息；读出电压施加电路(22a)将和读出电压反极性的伪读出电压施加给选择存储单元的可变电阻元件。
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公开(公告)号：CN101371313A
公开(公告)日：2009-02-18
申请号：CN200780003089.5
申请日：2007-01-09
Applicant: 夏普株式会社 , 独立行政法人产业技术综合研究所
CPC classification number: G11C13/0069 , G11C13/0007 , G11C13/003 , G11C2013/009 , G11C2213/31 , G11C2213/32 , G11C2213/72 , G11C2213/76 , G11C2213/79
Abstract: 提供一种非易失性半导体存储装置，能进行针对电阻特性根据电压施加而变化的可变电阻元件的稳定高速的切换动作。用于向可变电阻元件施加电压的负载电路以能与可变电阻元件串联电连接的方式设置，以负载电路的负载电阻特性可在两种不同特性间切换的方式构成，在可变电阻元件的电阻特性从低电阻状态转移到高电阻状态的情况和从高电阻状态转移到低电阻状态的情况下，选择性地切换负载电路的两种负载电阻特性，根据施加到可变电阻元件和负载电路的串联电路上的改写用电压，对可变电阻元件施加从两种电阻特性的一种向另一种转移所需的电压，可变电阻元件的电阻特性从一种转移到另一种后，施加到可变电阻元件上的电压成为不能根据选择的负载电阻特性从另一种电阻特性向一种电阻特性返回的电压。
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公开(公告)号：CN100407471C
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN03108292.0
申请日：2003-03-27
Applicant: 夏普株式会社
Abstract: 由可变电阻11-1至11-n构成的加权装置对输入信号进行加权，每个可变电阻由具有包含锰的钙钛矿结构的氧化物制成，该材料在室温下根据施加的脉冲电压的累加次数改变其阻值，并且能够以非易失性方式保持其阻值。然后，加权后的信号输入到运算单元(12)。作为每个可变电阻11-1至11-n的氧化物薄膜根据施加的脉冲电压的累加次数改变其阻值，并且在电源被切断后也能够以非易失性方式保持其阻值。因而，通过根据施加的脉冲电压的累加次数改变加权系数，就能够实现更加类似于人类神经的神经元。
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