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公开(公告)号：CN115186468A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210770273.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供了一种空间综合环境实时量化表征方法、装置及系统，涉及航天航空技术领域。本发明所述的空间综合环境实时量化表征方法，包括：设置仿真参数，其中，所述仿真参数包括仿真开始时刻、仿真结束时刻和仿真步长时间；从所述仿真开始时刻开始到所述仿真结束时刻为止，根据所述仿真步长时间依次累加仿真步长，逐一确定每个仿真时刻的飞行器的空间综合环境；根据所述空间综合环境选取对应的量化表征模型，以确定不同仿真时刻对应的空间综合环境实时量化表征数据。本发明所述的技术方案，可以解决空间综合环境实时量化表征问题，保障飞行安全。
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公开(公告)号：CN115186466A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210768723.0
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种基于插件实现空间环境下航天器性能的模拟方法，涉及航天器仿真计算技术领域，所述模拟方法，包括：确定实现空间环境下航天器性能模拟的应用主程序中待启动的插件；为所述插件创建运行环境，并在所述运行环境中通过接口加载所述插件，以启动所述插件，实现空间环境下航天器性能模拟；或在所述运行环境中通过接口卸载所述插件，以关闭所述插件。本发明通过设置插件，并通过接口加载或卸载所述插件，以启动或关闭所述插件，实现空间环境下航天器性能的模拟计算，计算结果准确且计算高效，稳定性高。
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公开(公告)号：CN115186463A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210762700.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F17/10 , G06F111/08 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种基于器件辐射缺陷演化全过程的跨尺度仿真方法和系统，所述方法包括：定义粒子参数和材料参数，并将其输入模拟系统；根据分子动力学基本原理，建立基于空间入射粒子的分子动力学模型，进行基于分子动力学的空间入射粒子的运动数值模拟，并获取不同时刻空间入射粒子的运动轨迹、速度、能量和在空间器件中的分布信息；采用统计物理学方法统计不同状态下空间入射粒子的运动规律，将空间入射粒子的微观状态和材料的宏观性质相关联，进行跨尺度计算仿真。本发明以单个入射粒子和材料参数为研究对象，对入射粒子在空间器件中产生的跨尺度缺陷演化效应进行模拟仿真，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路。
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公开(公告)号：CN115169454A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769717.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种机器学习力场开发的数据集采样方法，属于机器学习技术领域。所述方法包括：利用初始构象作为训练集，训练得到多个机器学习力场；利用多个力场对材料的标定性质进行分子动力学模拟，获得模拟轨迹；计算模拟轨迹中每个构象的原子受力及平均原子受力；计算每个构象的标准差，根据标准差的大小确定数据集的候选构象；将候选构象作为初始构象重复上述步骤，直至新的候选构象达到设定比例时，完成数据集的采样。本发明具有明确的收敛准则，经过多轮迭代构建收敛的数据集，且数据集大小适中，既包含所有必要的信息，又能够节省计算资源，为构建准确表征材料各项理化性质的机器学习力场提供了必要基础。
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公开(公告)号：CN115169207A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210762692.8
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/25 , G06F17/18 , G06F119/14 , G06F111/10 , G06F113/26
Abstract: 本发明提供了一种基于分子动力学的辐照缺陷演化注量率模拟方法及系统，属于模拟仿真技术领域。所述方法包括：获取单个入射粒子辐照半导体器件产生的PKA的数量；对所述半导体器件进行网格划分，获取每个网格中所述初PKA的数量，建立与所述网格等大小的仿真体系模型；基于所述仿真体系模型，利用分子动力学方法和动力学蒙特卡罗方法对所述网格进行缺陷演化模拟，并获取所述入射粒子标定注量率下所述网格中的缺陷信息；对所有所述网格中的缺陷信息进行汇总，得到所述半导体器件的综合缺陷信息。本发明结合分子动力学和动力学蒙特卡罗方法，实现在不同注量率下整个半导体器件的缺陷演化过程的模拟计算，且计算逻辑清晰，步骤简单易操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115169105A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769647.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种半导体缺陷深能级瞬态谱精确模拟方法，涉及模拟技术领域，本发明通过结合精确缺陷结构设计和模拟手段，精确定义深能级瞬态谱探测实验中观测缺陷的种类及结构，且模拟方法完全基于精确第一性原理杂化泛函获得各物理参数，并在量子力学密度泛函理论框架下构建，可准确预测DLTS缺陷表征实验结果，相比实验手段，本发明能够准确获得缺陷结构的详细信息，且成本低、效率高。
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公开(公告)号：CN115168996A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210769671.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15 , G06F30/23 , G16C60/00 , G06F113/28 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供了一种模拟空间环境下的原子氧通量的计算方法，涉及航天器仿真计算技术领域，所述方法包括将航天器表面剖分为多个多边形网格单元，并读取所述多边形网格单元中的瞬时通量数据；遍历每个所述多边形网格单元中瞬时通量数据；根据每个所述所述多边形网格单元中瞬时通量数据计算当前时刻每个所述多边形网格单元的累积通量，以得到每一时刻中所有所述多边形网格单元的累积通量。与现有技术比较，本发明方法操作简单，能够准确、快速地计算不同材料在不同环境条件下表面的原子氧累积通量和瞬时通量，为优化材料抗空间环境效应能力提供必要的依据，对材料的空间环境协同效应研究具有重大的意义，有着明显的优势和广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN115168993A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210762569.6
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15 , G06F30/25 , G06F17/10 , G06F111/10 , G06F113/28 , G06F113/26
Abstract: 本发明提供了一种基于射线追踪的原子氧或紫外通量的计算方法，涉及航天器仿真计算技术领域，所述计算方法包括：根据航天器的轨道参数计算航天器在轨道各点的原子氧通量影响参数或紫外通量影响参数；将航天器表面剖分为多个多边形网格单元,并设定各个所述多边形网格单元的原子氧通量初始值或紫外通量初始值；计算所述航天器运动轨道每个点上的每个所述多边形网格单元的原子氧通量增加值或紫外通量增加值，最后得到原子氧通量累计值或紫外通量累计值。与现有技术比较，本发明能够大幅度提高计算时间效率，降低成本，为蒙特卡罗模拟方法的计算结果提供校验数据，为航天器表面涂层材料快速筛选提供高效技术手段，有着明显的优势和广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN109557442B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN201811404082.0
申请日：2018-11-23
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 中国空间技术研究院 , 锦州七七七微电子有限责任公司
Abstract: 本发明提供了一种线性电路辐射缺陷提取方法，其包括：步骤100，对线性电路进行分析，确定待分离的分立器件；步骤200，对待分离的所述分立器件进行切割分离；步骤300，测试分离后的所述分立器件电性能，进行筛选；步骤400，从筛选后的所述分立器件中引出电极；步骤500，通过引出的所述电极对所述分立器件进行缺陷测试。本发明所述的线性电路辐射缺陷提取方法，通过切割筛选的方式，对线性电路中的分立器件进行分离，并引出电极，从而可以对线性电路中的分立器件独立地进行缺陷测试，从而丰富现有的低剂量率增强效应的研究，达到更好的研究效果。
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公开(公告)号：CN112951915A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110108176.9
申请日：2021-01-27
IPC: H01L29/78 , H01L29/417 , H01L29/08 , H01L21/336
Abstract: 本发明公开一种功率器件抗单粒子烧毁加固结构极及其制备方法，在半导体功率器件的漏电极区域设置一个N型多缓冲层区结构；在源电极与颈区电极处形成一沟槽并形成金属电极；所述颈区的下方设有集成晶体管；在P型体区与漂移区之间设置N型场截止层。采用本发明的技术方案，可以大大降低半导体功率器件漂移区和衬底同质结处的电场峰值和碰撞电离、减少因碰撞电离导致雪崩倍增而产生的载流子的数量；同时使器件内的电流密度大幅降低，从而降低因电流热效应而产生的热量，使器件的SEB安全工作电压得到了显著提高。
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