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公开(公告)号：CN105482813A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510971202.5
申请日：2015-12-21
Applicant: 南京邮电大学
IPC: C09K11/06 , C07C50/16 , C07D209/86 , H01L51/54
CPC classification number: C09K11/06 , C07C50/16 , C07D209/86 , C09K2211/1011 , C09K2211/1029 , H01L51/0058 , H01L51/0072 , H01L51/50
Abstract: 本发明涉及一类基于蒽醌基团的新型芴类双极性荧光材料及其在有机发光二极管中的应用；该类材料具有D-π-A型或者A-π-A型分子内电荷转移结构，其结构通式如式1所示；该式1所示材料具有双极性载流子传输性质，利用其制备的有机发光二极管发光性能良好，并且材料的合成以及提纯操作简便，产率高，是作为有机发光二极管中黄光到红光材料的理想选择；可以预期，这类材料能够成为具有商业化潜力的有机电致发光材料。
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公开(公告)号：CN103759831B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN104660344A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201510068163.8
申请日：2015-02-09
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/60 , H04B10/116
Abstract: 本发明公开了一种多输入多输出的光通信系统及其信号复原方法。包括光信号发射端和光信号接收端；光信号发射端包括相互连接的光强调制单元、光信号发送单元，光信号发送单元包括相互之间频谱互有重叠但又不完全相同的n个宽带光源，光强调制单元将n路信号分别调制至n个宽带光源生成相应的光调制信号；光信号接收端包括分光器件、光信号接收器、信号处理单元；所述分光器件可令不同频率的入射光经过后形成不同的光强分布，且相同频率的入射光经过分光器件的不同部位所产生的光强角分布也不同；光信号接收器为具有相同频谱响应的n个光探测器所组成的光探测器阵列。本发明能在照明的同时实现大容量信号的传输，且结构简单、实现容易。
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公开(公告)号：CN104166249A
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201410349829.2
申请日：2014-07-22
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/015
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波的光学调制器件，用于对太赫兹波进行调制。该光学调制器件包括由金属层以及附着于所述金属层一侧表面的本征半导体层所构成的复合层，该本征半导体在照射其表面的光强调制下的最大等离子体频率小于调制范围内的太赫兹波的频率；复合层上设置有亚波长孔阵列结构。本发明还公开了一种太赫兹波的光学调制方法，令太赫兹波由光学调制器件的本征半导体层一侧向另一侧发射；通过改变照射在光学调制器件的本征半导体层表面的光强，使得穿过光学调制器件后的太赫兹波的强度随之变化，实现太赫兹波的调制。本发明可在正常温度下实现太赫兹波的强度调制，且调制的频率和幅度范围大、调制速度快，实现成本低。
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公开(公告)号：CN103017901A
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201210475068.6
申请日：2012-11-21
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于变焦透镜的光谱测量方法。本发明方法包括以下步骤：在可调整为n个不同焦距的变焦透镜后固定位置设置一光探测器；将光探测器的可测量频率范围等分为n个频段；事先利用光探测器测得频率为的单色光通过焦距取第j个值时的变焦透镜的探测系数Cij，；利用探测器测量待测入射光通过焦距取第j个值时的变焦透镜后的功率，；通过求解方程组得到待测入射光中频率为的光功率，；然后对进行线性拟合并经光谱辐射定标得到入射光的光谱。本发明还公开了一种基于变焦透镜的微型光谱仪，沿入射光光路依次包括：变焦透镜、光探测器，以及与所述光探测器信号连接的计算分析部件。本发明的测量范围和分辨率较高，且制作简单、成本低廉。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102564586A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201210004166.1
申请日：2012-01-09
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提供一种衍射孔阵列结构微型光谱仪及其高分辨率光谱复原方法，衍射孔阵列结构微型光谱仪基本结构包括：一个构建在基底表面挡光层上的孔径大小不等的微型衍射孔二维阵列；基底材料采用透明材料；在基底的下方对应设有探测阵列芯片，一个衍射孔对应一个探测阵列芯片的像素元；在基底和探测阵列芯片中间有一层遮光板，遮光板把每个CCD像素元的大部分面积遮住，遮光板上有一系列孔径相同的透光孔；每一个衍射孔都正对着一个透光孔，其下是每个CCD像素元。由于入射光通过基底上方的衍射孔后会发生衍射现象，因此下方所对应的CCD像素元能探测到一定的衍射光光功率。因为阵列上的各个衍射孔孔径大小不等，其下方所对应的各个CCD像素元所测得的衍射光光功率大小也不同，对各个CCD像素元所测得数据进行反演就可以得到入射光的光谱信息。
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公开(公告)号：CN101866060B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910259937.X
申请日：2009-12-23
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明公布了一种超分辨率光学成像的装置与方法，该成像装置由基底构成，所述基底上设置凹槽(台阶)，凹槽的深度(台阶的高度)设计，使得通过凹槽(台阶)与通过凹槽边缘(台阶外面)的光程差为成像物体发出光波长的一半。位于凹槽(台阶)正上方的光束投射到凹槽底面(台阶表面)；其它光束一半通过凹槽底面(台阶表面)，一半通过基底边缘，经由凹槽底面(台阶表面)与基底边缘的光束在基底发生自混合干涉相消，取得位于凹槽正上方的光束信息，从而突破衍射极限。本发明体积小，结构简单，实现了超分辨率成像。
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公开(公告)号：CN102096269A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN201110009521.X
申请日：2011-01-18
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/355 , H04B10/155
Abstract: 本发明公布了一种太赫兹表面等离子体波光学调制器及其调制方法，所述调制器包括一个本征半导体晶片、两个平行放置的刀片或者光栅、连续波激光器和调制准直系统以及一个温度控制装置。所述方法采用连续波激光器和调制准直系统发出激光调制信号照射在本征半导体晶片从而改变该本征半导体晶片表面各处的光生载流子数量；通过改变激光调制信号的光强对本征半导体晶片表面所传输的太赫兹表面等离子体波进行调制；两个平行放置的刀片或光栅用于将太赫兹波耦合为太赫兹表面等离子体波以及将调制后的太赫兹表面等离子体波耦合为太赫兹波。本发明制作成本低、能量损耗小，调制频率范围宽，可以实现归零调制，可以实现快速调制。
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公开(公告)号：CN116381439A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310214741.9
申请日：2023-03-08
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种利用态密度曲线评估有机场效应晶体管退化性能的方法，涉及有机半导体器件技术领域。态密度曲线是在器件的传输特性曲线的基础上通过使用有效迁移率以及接触电阻亚阈值斜率等传统参数进行处理后绘制得到的，使用态密度曲线评估器件能够更直观的观察到薄膜层陷阱在能量上的分布，载流子从深陷阱中释放大致需要的能量，器件性能的退化可以通过态密度曲线有效表现出来，因而利用态密度曲线评估器件退化性能是具有较强的可行性与通用性的。
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公开(公告)号：CN109708758B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201811513996.0
申请日：2018-12-11
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提出一种基于干涉效应的成像光谱仪及高空间分辨率成像光谱成像方法；通过控制器件不同控制条件下同一个像素元所探测到的相干光强度互不相同，代入到矩阵方程计算光谱，可通过控制器件输出更多的控制参数实现更高的光谱分辨率；由于阵列式探测芯片上的像素元数量较多，通过对待测目标进行区域划分，每个像素元都可以用来对待测成像区域的不同子单元区域进行光谱测量，因此光谱成像的空间分辨率较高；在使用过程中可通过选择合适的波长转换光学材料，或选择合适的阵列式探测芯片，使得成像光谱仪的频谱测量范围较宽。本成像系统制备工艺简单，不需要光栅等精密光学器件，与传统超光谱成像系统相比，体积较小，成本较低，性能较高。
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