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公开(公告)号：CN1825148A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200610039041.7
申请日：2006-03-23
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02B6/02
Abstract: 通体均匀发光光纤涉及利用光纤波导结构中的光散射实现长距离均匀照明的材料及其制备方法，通体均匀发光光纤是由包层(2)、芯层(1)、散射体(3)组成，包层(2)涂覆在芯层(1)的表面外，散射体(3)以一定的密度和深度分布在芯层(1)的表面内，其中包层(2)的折射率大于芯层(1)的折射率，散射体(3)是由不同于芯层(1)折射率的材料构成，包层(2)和芯层(1)构成了圆形的波导结构；散射体(3)在芯层(1)的表面不同位置处具有不同的深度或密度，使光纤不同位置处的传导光衰减系数各不相同，保证散射光光强在光纤表面均匀分布。该光纤侧面散射光强均匀分布，能量利用合理，制备和安装成本低廉。
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公开(公告)号：CN103759831B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN103759831A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201410001178.8
申请日：2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN100383580C
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200610039041.7
申请日：2006-03-23
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02B6/02
Abstract: 通体均匀发光光纤涉及利用光纤波导结构中的光散射实现长距离均匀照明的材料及其制备方法，通体均匀发光光纤是由包层(2)、芯层(1)、散射体(3)组成，包层(2)涂覆在芯层(1)的表面外，散射体(3)以一定的密度和深度分布在芯层(1)的表面内，其中包层(2)的折射率大于芯层(1)的折射率，散射体(3)是由不同于芯层(1)折射率的材料构成，包层(2)和芯层(1)构成了圆形的波导结构；散射体(3)在芯层(1)的表面不同位置处具有不同的深度或密度，使光纤不同位置处的传导光衰减系数各不相同，保证散射光光强在光纤表面均匀分布。该光纤侧面散射光强均匀分布，能量利用合理，制备和安装成本低廉。
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公开(公告)号：CN102721670A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210216218.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明公开了一种半导体等离子体频率测量方法。本发明首先将两个金属刀片平行设置在待测半导体表面上方，然后向其中一个刀片刃口与待测半导体表面之间的狭缝发射宽频电磁波，在待测半导体表面激发出表面等离子体波，并利用设置在另一刀片外侧的光谱分析装置接收耦合出的电磁波；通过调整宽频电磁波频率以及两个刀片的间距，使得光谱分析装置刚好不能接收到入射宽频电磁波的全部频率信号，记录下此时光谱分析装置所能探测到的最大频率值；将该最大频率值乘以，即为待测半导体的等离子体频率。本发明方法利用表面等离子体波在半导体表面的传播特性对半导体等离子体频率进行准确实时地测量，具有实现成本低、对半导体无损伤、测量范围广等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103063299B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN102721670B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210216218.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01N21/25
Abstract: 本发明公开了一种半导体等离子体频率测量方法。本发明首先将两个金属刀片平行设置在待测半导体表面上方，然后向其中一个刀片刃口与待测半导体表面之间的狭缝发射宽频电磁波，在待测半导体表面激发出表面等离子体波，并利用设置在另一刀片外侧的光谱分析装置接收耦合出的电磁波；通过调整宽频电磁波频率以及两个刀片的间距，使得光谱分析装置刚好不能接收到入射宽频电磁波的全部频率信号，记录下此时光谱分析装置所能探测到的最大频率值；将该最大频率值乘以，即为待测半导体的等离子体频率。本发明方法利用表面等离子体波在半导体表面的传播特性对半导体等离子体频率进行准确实时地测量，具有实现成本低、对半导体无损伤、测量范围广等优点。
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公开(公告)号：CN103063299A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN102736273A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210216216.2
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/01
Abstract: 本发明公开了基于表面等离子体波传输距离的电磁波温度调制方法。在本征半导体平板表面上方设置两个相互平行的金属刀片：第一刀片和第二刀片；从第一刀片的外侧向该刀片的刃口与本征半导体平板的间隙处发射频率小于本征半导体等离子体频率的电磁波，在本征半导体平板表面激发沿着本征半导体平板表面传输的表面等离子体波；保持第一刀片与第二刀片之间的距离不变，通过调整本征半导体平板的温度，使得所述表面等离子体波在本征半导体平板表面的传输距离发生变化，第二刀片刃口处耦合出的电磁波的强度随之发生变化，从而实现电磁波的调制。本发明具有温度范围小、调制速度快、硬件结构简单、易于实现等优点，可实现宽频电磁波的归零及非归零调制。
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公开(公告)号：CN203719769U
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201320843415.6
申请日：2013-12-19
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/433
Abstract: 本实用新型公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。利用本实用新型进行光谱测量时，首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合，并经光谱辐射定标，得到待测入射光的光谱。相比现有技术，本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。
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