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公开(公告)号:CN101275870A
公开(公告)日:2008-10-01
申请号:CN200810106360.4
申请日:2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法,属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb=Lmax-bak/Ltar;相邻极值差对比度Cmax=∑|Lmax-tar-Lmax-bak|/L组成特征向量输入BP神经网络,对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中,Ltar为四杆靶平均灰度值;Lmax-bak为靶间(背景)灰度极值;Lmax-tar为四杆靶灰度极值;L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器,或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像,处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态,输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别,减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差,具有客观判读和重复性好的特点。
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公开(公告)号:CN100389304C
公开(公告)日:2008-05-21
申请号:CN200610083776.X
申请日:2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪,包括一台通用机算机,一个电机控制箱,一个多光谱光源电控切换台,一个CCD摄像机,一个双频激光干涉仪;一台光电自准直仪;一个长基线分光镜组;一个长基线反射镜组;一个精密转台;一个平面反射镜组;一个数显读数表,一个三维调整台;本发明具有如下显著优点:双频激光干涉测角仪中,采用长基线镜组,使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高;采用测角和定位相分离的方法,容易实现光学角规的高精度测试标定;采用多谱线标定方法,可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值,扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号:CN100381806C
公开(公告)日:2008-04-16
申请号:CN200710063160.0
申请日:2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统,包括:1)光源组件,包括光源和调制盘;2)发射单元,包括平行光管和可换光阑;3)接收单元,包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管;4)控制处理单元,包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏;其特征在于,将发射单元和接收单元做成分体结构,并且各个分体结构都可以独立升降或俯仰调整,满足折轴望远光学系统透过率的测试要求;为提高测量精度,系统采用了双光路方式,在一定程度上排除了光源、探测器、高压电源、放大器等部件的信号漂移,一次100%校准后可以在长时间内进行测量。
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公开(公告)号:CN101067547A
公开(公告)日:2007-11-07
申请号:CN200710100222.0
申请日:2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪,包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7,与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13,依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9,还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点:通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″-10″的测量范围内,测量精度可达到0.02″,极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角,减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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公开(公告)号:CN101275870B
公开(公告)日:2010-07-07
申请号:CN200810106360.4
申请日:2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法,属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb=Lmax-bak/Ltar;相邻极值差对比度Cmax=∑|Lmax-tar-Lmax-bak|/L组成特征向量输入BP神经网络,对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中,Ltar为四杆靶平均灰度值;Lmax-bak为靶间(背景)灰度极值;Lmax-tar为四杆靶灰度极值;L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器,或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像,处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态,输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别,减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差,具有客观判读和重复性好的特点。
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公开(公告)号:CN101271284A
公开(公告)日:2008-09-24
申请号:CN200810100860.7
申请日:2008-02-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种光刻机物镜掩膜照明条件下杂光系数测试装置,属于光电测试技术领域。本发明包括内置在积分球内的光源、放置在积分球出口光路上的掩膜板、掩膜板透射光路上的光刻物镜、以及中继光学系统、带牛角消光管、光电探测器的积分球、信号处理系统。照明光源发出光线经积分球内表面多次反射后从积分球开口射出均匀投射到掩膜板上,经光刻物镜的艾里斑像,被中继光学系统会聚到积分球后端的牛角消光管内全部吸收,其余杂光均被积分球内表面多次反射后,被光电探测器接收,最后由信号处理系统输出光刻物镜的轴上点杂光系数。本发明具有探测信噪比高、精度高,功能强,可用于新研制和使用中的光刻机物镜成像质量的检测、监控与评估。
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公开(公告)号:CN1614378A
公开(公告)日:2005-05-11
申请号:CN200410090673.7
申请日:2004-11-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种无限兼有限共轭光电像分析器,可以实现多种测试功能,具有很高的集成度。由平移台和旋转台构成多维调整系统,可满足测试中的多维调整和折轴测试的需要;该仪器根据被测系统的需要,光电测头具有望远和显微两种功能,望远测头还要适应0视度和多个非0视度试样的测试功能,对望远系统参数的测试可以通过不同视度准直镜与CCD组成的接收系统实现,对照相系统可以通过在像分析器光学系统的物方接口处加接显微物镜来实现。该仪器通过相应的软件可以实现对光学系统所成的像进行采集和分析、图像数据处理,是集光、机、电、算、自动控制为一体的综合装置。
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公开(公告)号:CN119967156A
公开(公告)日:2025-05-09
申请号:CN202510121491.3
申请日:2025-01-26
Applicant: 北京理工大学
IPC: H04N17/00 , H04N23/56 , H04N23/741 , H04N23/74
Abstract: 本发明公开了一种基于白光光源的工业相机平均量子效率测量方法,属于图像传感器性能评估技术领域。首先,使用稳定的白光光源作为光照射系统,通过调节光强以覆盖工业相机的动态范围;然后,将工业相机置于光源照射下并采集多组曝光图像,结合光强标准测量装置记录的入射光强,计算图像信号输出的数字信号均值、噪声方差以及对应情况下的入射光子数;进一步,基于实验数据曲线拟合全局系统增益值,并结合平均量子效率的测量模型确定相机的平均量子效率。通过对比多种白光光源以及不同型号工业相机的测量结果,验证了该方法的准确性和稳定性。该方法测试效率高、操作简便,能够全面反映工业相机在实际应用场景下的光电转换性能。
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公开(公告)号:CN116539909A
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310515002.3
申请日:2023-05-09
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出一种使用650nm光源的成像光幕靶,用于对高速飞行物体的速度和角度测量。光幕靶包括发射650nm波段的LD光源、两个靶面、线阵相机、计算机等,其中两个靶面为矩形轮廓并前后平行放置,且均由准直发射单元、矩阵光纤单元构成,所述的光源在光源箱上阵列,所述的准直发射单元由方管固定架、光束准直器构成;准直发射单元相邻垂直排列,在方管固定架上等间距固定光束准直器,出射网格状的光束阵列,由对应的矩阵光纤单元接收信号,信号经线阵相机采集成像、计算机处理得出被测物飞行的速度和角度信息。本发明具有野外使用寿命长、光能一致性好、可见光束便于调试、后端信号处理简单、抗干扰能力强的优点。
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公开(公告)号:CN101799279B
公开(公告)日:2013-08-28
申请号:CN201010151219.3
申请日:2010-04-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法,属于光学测量领域。首先,测量光纤的衍射波前透过分束棱镜,经显微物镜变换为能覆盖被测大相对孔径球面镜的测量波前,并在被测球面镜表面反射;携带被测球面镜面形信息的反射波前透过显微物镜,经分束棱镜反射后汇聚到参考光纤端面形成测量波前,并与参考光纤自身衍射的参考波前汇合而发生干涉;然后移走被测球面镜,其他光学元件保持不动,在显微物镜焦点处放置平面反射镜,用同样方法测量显微物镜、分束棱镜及参考光纤端面粗糙度所带入的像差。本发明分两步实现,且都利用了接近理想的点衍射球面波作为参考波前,能够实现大相对孔径球面面形的高精度测量。
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