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公开(公告)号：CN101865412B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010194538.2
申请日：2010-06-08
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种用于产生颜色连续可调的均匀面光源的装置，属于光学精密测量技术领域。均匀面光源出射的光入射到连续调色系统，由滤色片底板将入射光分为三束三原色光，红光挡光板、绿光挡光板和蓝光挡光板分别可对相应的一种色光进行遮挡，通过改变三束光的通光面积比例，调节三种色光的光通量比例，从而改变连续调色系统出射光的颜色三刺激值；三种色光经混色系统混合后在第II积分球的出光口输出特定颜色的均匀面光源。本发明提出一种可以独立调节三种色光的连续调色系统，实现出射光颜色的精确调节，具有可以连续调节颜色、输出功率大的优点，可以用于颜色分辨力的测量。
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公开(公告)号：CN101762242B
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN201010001177.5
申请日：2010-01-15
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种光学平面面形的绝对干涉测量方法，属于光学测量技术领域。该方法首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射，折向并透过平板分束镜，与参考光纤衍射并被平板分束镜反射的球面波前汇合而发生干涉；干涉图用标准方法分析和处理；该步测量得到被测平面镜和平板分束镜引入的像差。然后，移除被测平面镜，移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置，从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉；该步测量得到平板分束镜引入的像差；将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差，按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明实现了光学平面的全面形逐点、高精度干涉测量，是一种平面绝对干涉测量方法。
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公开(公告)号：CN101290293B
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200810115601.1
申请日：2008-06-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明属于显微光谱成像技术领域，涉及一种差动共焦拉曼光谱测试方法。该方法融合差动共焦检测方法和拉曼光谱检测方法技术特点，构成一种可实现样品微区光谱检测的测试方法，通过差动共焦技术精确捕捉激发光束聚焦焦点位置，探测对应位置的拉曼光谱，同时采用设计的光瞳滤波器，锐化差动共焦拉曼光谱系统的爱里斑主瓣，改善其微区拉曼光谱探测能力，精确获取包括微区样品光谱信息和位置信息的微区空间光谱信息。本发明显著提高了共焦拉曼光谱显微镜的微区光谱探测能力；具有绝对跟踪零点和双极性跟踪特性，实现几何尺度绝对测量；可广泛应用于生物医学、生命科学、生物物理、生物化学、材料、工业精密检测等技术领域，进行微区几何位置和光谱特性的高精度检测，具有极其重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN101275870B
公开(公告)日：2010-07-07
申请号：CN200810106360.4
申请日：2008-05-12
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种红外热像仪MRTD客观评测方法，属于红外测试领域。该方法将特征量均值对比度和新提出的特征量背景极值对比度Cb＝Lmax-bak/Ltar；相邻极值差对比度Cmax＝∑|Lmax-tar-Lmax-bak|/L组成特征向量输入BP神经网络，对红外热像仪MRTD参数进行客观测量。其中，Ltar为四杆靶平均灰度值；Lmax-bak为靶间(背景)灰度极值；Lmax-tar为四杆靶灰度极值；L为整个区域灰度平均值。本方法使用CCD摄像机拍摄监视器，或通过图像采集卡直接从热像仪视频输出端口采集图像，处理图像获得四杆靶的特征向量及辨别状态，输入BP神经网络进行训练。训练好的网络可对未知四杆靶进行状态辨别，减小用人眼判读产生的主观误差及由于疲劳产生的误差，具有客观判读和重复性好的特点。
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公开(公告)号：CN101271284A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200810100860.7
申请日：2008-02-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种光刻机物镜掩膜照明条件下杂光系数测试装置，属于光电测试技术领域。本发明包括内置在积分球内的光源、放置在积分球出口光路上的掩膜板、掩膜板透射光路上的光刻物镜、以及中继光学系统、带牛角消光管、光电探测器的积分球、信号处理系统。照明光源发出光线经积分球内表面多次反射后从积分球开口射出均匀投射到掩膜板上，经光刻物镜的艾里斑像，被中继光学系统会聚到积分球后端的牛角消光管内全部吸收，其余杂光均被积分球内表面多次反射后，被光电探测器接收，最后由信号处理系统输出光刻物镜的轴上点杂光系数。本发明具有探测信噪比高、精度高，功能强，可用于新研制和使用中的光刻机物镜成像质量的检测、监控与评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105910799A
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201610391473.8
申请日：2016-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0207
Abstract: 本发明属于光电测试技术领域，涉及一种集光、机、电、算及自动控制为一体的无限兼有限共轭寻焦光电像分析器及其实现方法，是光电测试装备的基本构成单元之一。本发明是通过透射光路的高精度共焦定焦实现反射光路目标图像的清晰采集与定焦，通过光电像分析器测量物镜的加入实现有限共轭光学系统参数的测试，通过光电像分析器的平移及旋转实现光学系统轴上、轴外视场和折轴系统光学参数的测量，最终实现无限兼有限共轭目标光学成像系统轴上和轴外视场光学参数的高精度综合测试。本无限兼有限共轭寻焦光电像分析器通过相应测量方法和软件控制，可对光学系统所成的图像进行高精度快速自动采集、分析与处理，进而获得无限兼有限共轭光电仪器的性能参数。
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公开(公告)号：CN102537856A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110439634.3
申请日：2011-12-23
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种光、色复用连续调节装置，属于光学精密测量技术领域。具体包括前法兰盘、三个挡光板、六个滤色片、支撑机构A，支撑机构B、三角支架、后法兰盘。其中，前法兰盘、支撑机构A，支撑机构B、后法兰盘平行紧贴放置，均开有圆形的中心孔，且四个中心孔的圆心同轴、等口径；三角支架位于支撑机构A、支撑机构B的中心孔中；支撑机构A的两个端面均开有3个相同的径向凹槽，用于安装可移出的滤色片；支撑机构B上开有与支撑机构A相同的凹槽，用于安装可移出的档光板。本发明将入射光分成三束不同颜色的色光并可改变它们各自的光通量或只改变入射光的光通量，从而实现大色域范围的连续调色和大动态范围的连续调光。
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公开(公告)号：CN101319884B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200810057900.4
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本发明由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本发明用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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公开(公告)号：CN101319884A
公开(公告)日：2008-12-10
申请号：CN200810057900.4
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本发明由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本发明用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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公开(公告)号：CN100419399C
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200710063161.5
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种统计调制传递函数的随机图案测量方法，采用功率谱相关性来得到传递函数，采用随机条纹测试靶标，或者其它随机图案靶标，随机图案由计算机随机算法生成，不需要扫描机构和精确对准机构，可以在计算机控制下快速得到离散采样成像系统的统计意义上的调制传递函数特性。利用该方法能非常容易地得到大量随机条纹测试图或者其它类型的测试图，便于进行统计意义上的测试，具有很高的灵活性和可操作性；具有平移不变特性，避免了微米级精密的机械扫描；采用高分辨率液晶作为光学分划图形发生器并应用于光学测量；测试过程简单，对人员的专业技术水平要求不高，利于实现计算机自动化测试。
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