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公开(公告)号：CN104483516B
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201410789632.0
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明公开了一种发光器件测试转换夹具，包括由上至下的旋盖(1)、压紧板(2)、限位板(3)、电气连接板(4)和底座(5)；旋盖(1)与底座(5)螺纹配合；旋盖(1)上设计有上透光孔(6)以便于光强测试；压紧板(2)用于压紧发光器件；限位板(3)用于放置被测试器件；电气连接板(4)上设计有两个电极接触片(10)，与被测发光器件的电极在压力下形成电气导通，在两个电极接触片(10)上分别引出管脚引线(12)，从而转换为有引线封装形式。本发明可以根据器件的不同尺寸任意更换限位板，解决了表面贴装式封装向有引线封装的转换，使现有专用测试设备可以继续使用，节省了大量的成本。
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公开(公告)号：CN104485297A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410790981.4
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L21/66
CPC classification number: H01L22/30
Abstract: 本发明的Pill封装光敏器件测试转换夹具，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)，通过定位孔与定位螺钉、押紧平垫与托板螺母的配合设计，将压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)四个板定位在一起。本发明通过四个板对被测器件的限位、压紧，将原来仅适用于带引脚光电器件的测试适配器整体转换为适用于pill封装的光电器件的测试适配器，解决了pill封装光电器件的测试问题，使现有专用测试设备可以继续使用，节省了大量的成本，同时，通过被测器件表面电极集电极c与簧片电极(15)的紧密接触，减少了接触电阻，提高了测试效果。
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公开(公告)号：CN104465904A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410794915.4
申请日：2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H01L33/00
CPC classification number: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种Piil式封装光电器件老炼转换器，包括从上到下依次安置的压紧板(1)、限位板(2)、中间板(3)和电气连接板(4)。本发明将整个转换器设计为压紧板、限位板、中间板和电气连接板四层，在每层板上进行相应的改进，通过对被测器件的限位、压紧等，将原仅适用于带引脚光电器件的老炼板整体转换为适用于pill封装的光电器件老炼板，解决了pill封装光电器件的老炼问题。同时，本发明将封装转换夹具设计与老炼电路板设计合二为一，同时实现了封装转换与老炼功能，每次更换器件只需对整板进行操作，极大提高了效率。
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公开(公告)号：CN103698682A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310714296.9
申请日：2013-12-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26 , G05B19/042
CPC classification number: Y02P90/265
Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。
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公开(公告)号：CN114236417B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202111459528.1
申请日：2021-12-02
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种电源类器件老炼结温监测装置，测温传感器单元用于采集被测器件的温度；驱动电路单元用于向测温传感器单元提供驱动电压和采集命令，同时向温度显示单元提供驱动电压及必需的转换信号；温度显示单元用于将采集到的温度信号通过LED显示；超温报警处理单位用于根据检测的温度值结合用户设置的温度上限值，判断检测的温度值是否在合理范围之内；电源及信号总线用于为各单元工作提供工作电源和信号传输通道；中央控制单元用于接收其他单元的反馈信号，同时向各单元发送控制信号，协调各单元工作；系统电源单元用于提供总电源；系统保护单元用于对各单元的工作电压、电流情况进行监控，避免各单元因过压、过流导致的系统工作异常情况。
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公开(公告)号：CN117852588A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311783926.8
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06N3/0464 , G06N3/048
Abstract: 本发明公开了一种基于深层残差神经网络的AI芯片测评参数确定方法，包括：设计深层残差神经网络FDNet，对该深层残差神经网络FDNet进行训练得到浮点模型，并得到目标分类任务下的测评参数；将浮点模型进行量化得到定点模型，将定点模型部署于硬件板卡，通过在硬件板卡上的推理得到目标分类任务下的测评参数；得到的浮点模型和定点模型得到的测评参数，用于对使用深层残差神经网络FDNet时AI芯片的应用性能进行评价。本发明可以适用于多种宇航数据集，鲁棒性强。
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公开(公告)号：CN114818415A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210333444.1
申请日：2022-03-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F30/23 , H01L21/67 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 一种SiP工艺可靠性评估试验载体的特性表征方法，通过PFMECA分析SiP产品的关键工艺，根据风险要素分析关键结构，从而确定试验载体的需要包含的工艺域，再基于失效物理方法或定性分析方法确定试验载体的特性表征参数数值，能够通过制造用于验证SiP生产工艺的试验载体，代替用于考核验证的SiP样品，以减少生产远大于需求量的SiP样品的花费，从而降低SiP产品的成本。
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公开(公告)号：CN110824211B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201911019093.1
申请日：2019-10-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: H03K3/02
Abstract: 本发明公开了一种信号源系统，包括：基准信号源模块，用于产生精密基准信号；滤波电路模块，用于对精密基准信号进行滤波处理，输出滤波处理后的单路精密基准信号；多通道信号模块，用于将滤波处理后的单路精密基准信号转换为20通道的异频信号，并传输给信号驱动模块；信号驱动模块，用于根据信号源输出要求，将接收到的20通道的异频信号转化为20通道的独立异频信号；控制模块，用于对输出的20通道的独立异频信号进行总体控制或分体控制。本发明公开的信号源系统具有信号功能全面、信号质量可控、信号源使用方便、且成本低等优点。
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公开(公告)号：CN111124769A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911055491.9
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种嵌入式TDP RAM模块测试电路，包括N个结构相同的测试单元、时钟信号、地址信号、第一数据输入信号、第二数据输入信号、数据输出信号、写使能信号、第一使能信号、第二使能信号、选择器控制信号与寄存器控制信号；每个测试单元包括被测存储器、3选1选择器模块和寄存器模块；每个被测存储器包括2组完全独立的数据读写总线端口：总线端口A与总线端口B。本发明提供的是一种通用的模块化测试电路设计，当需要进行大量TDP RAM测试时，只需将测试单元进行逻辑复制后再顺序级联即可。
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