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公开(公告)号：CN110988512A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911015025.8
申请日：2019-10-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及微波器件测试技术领域，公开了一种微波器件测试系统和微波器件测试方法。包括信号源模块，与所述微波器件连接，用于向所述微波器件提供适用于谐波测试的激励信号以激励所述微波器件输出测试信号；测试模块，用于对所述微波器件输出的测试信号进行分析并获取测试结果；转换模块，分别与所述微波器件和所述测试模块连接，所述转换模块与所述微波器件的输出端口相匹配，用于对所述微波器件和测试模块进行转接。所述以波导为输出接口的微波器件通过转换模块将基波与谐波直接传输至测试模块，保证了所述基波与谐波在测试系统中的有效提取与传输，实现对以波导为输出接口的微波器件进行谐波测试，并获得准确稳定的高次谐波分量测试结果。
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公开(公告)号：CN110456189A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201910669976.0
申请日：2019-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种近场屏蔽效能测试装置、系统及方法，利用设置在基板表面上方的微带线和带状线所形成的场线耦合效应，进行电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。同时，由于带状线和微带线均可工作至高频，能够支持高频处电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。基于此，测试人员可将矢量网络分析仪的各端口分别连接至微带线的第一端、带状线的第一端和/或带状线的第二端，使矢量网络分析仪获取到各端口间的耦合传输系数，以分析微带线和带状线间的场线耦合效应，对比加载或未加载待测试样时的场线耦合效应，得到电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的测量结果，即待测试样的近场屏蔽效能测试结果。
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公开(公告)号：CN109884562A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910251451.5
申请日：2019-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种差分磁场检测模块，包括依次堆叠设有多个布线层的PCB板。第一接地层和第二接地层均设有探测孔缝；第一接地层还设有第一共面波导传输线和第二共面波导传输线；第一共面波导传输线的中心导带的第一端用于连接外部信号分析设备；第二共面波导传输线的中心导带的第一端用于连接外部信号分析设备。第一信号层设有第一探测线，第一探测线的第一端连接第一接地层，第一探测线的第二端连接第一共面波导传输线中心导带的第二端。第二信号层设有第二探测线，第二探测线的第一端连接第二接地层，第二探测线的第二端连接第二共面波导传输线中心导带的第二端。PCB板靠近探测孔缝的端面上还设有浮地金属部，浮地金属部用于抑制电场干扰。
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公开(公告)号：CN119575151A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411952853.5
申请日：2024-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/311 , G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种荧光收集装置和发光载体的制备方法。所述荧光收集装置包括：发光载体，包括发光本体和至少一光路调节体，所述发光本体具有氮空位色心，所述光路调节体位于所述发光载体的至少一个表面；激光发射模块，用于发射激光；其中，所述氮空位色心用于在所述激光的激发下产生荧光光子以从所述发光载体表面出射；所述光路调节体用于改变荧光光子的光路路径；荧光探测模块，用于收集所述荧光光子；所述荧光探测模块收集的荧光光子包括至少部分被所述光路调节体改变光路路径的荧光光子。本申请的荧光收集装置能够提高荧光收集效率。
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公开(公告)号：CN119438752A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411477723.0
申请日：2024-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场扫描方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取二维网格中各第一扫描点的电磁场信息，二维网格根据目标扫描区域确定，第一扫描点的个数小于二维网格中的总网格点数；根据各电磁场信息确定各第一扫描点的梯度信息和扫描概率，梯度信息用于表示目标扫描区域中电磁场变化满足预设阈值的方向；根据各梯度信息和扫描概率确定下一次扫描的多个第二扫描点，直至扫描次数满足预设条件；根据二维网格中各扫描点的电磁场信息确定目标扫描区域的电磁场分布。采用本方法能够提高近场扫描的效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114019276B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202111275341.6
申请日：2021-10-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开关于一种近场探头空间分辨率的表征方法、计算机设备及校准件。该方法包括：用磁场探头扫描被测物的zi平面，得到所述被测物磁场探头输出的第一场强数据；用磁场探头扫描微带线校准件的Zj平面，得到所述微带线校准件磁场探头输出的第二场强数据；根据平面波谱变换方式，将所述第一场强数据和第二场强数据变换到平面波谱域；对所述微带线校准件进行仿真得到Zj平面的参考场强数据；根据所述第一波谱域数据、第二波谱域数据和参考场数据计算得到被测物的场强数据；基于所述被测物的场强数据的值表征空间分辨率的场强值。利用本公开方案可以精确的表征出近场探头空间分辨率的值。
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公开(公告)号：CN118604467A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410726246.0
申请日：2024-06-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头。所述电磁场复合探头的探测部分包括：驱动环路和至少两对寄生环路，驱动环路两侧各设置至少两对寄生环路中的至少一对寄生环路，通过利用驱动环路和至少两对寄生环路来探测电磁场信号，通过增加寄生环路数量探测更多的电磁耦合能量，以实现提高电磁场复合探头的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118534380A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410620890.X
申请日：2024-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场检测探头、系统、方法和相关产品。探头包括探测环路、多个连接过孔和多层电路板；探测环路和多个连接过孔均设置于多层电路板中的非接地层；且探测环路中的不同信号线之间通过多个连接过孔连接；探测环路，用于检测电子系统的电磁场形成的射频信号，并将射频信号通过信号线传输到频谱分析设备，以进行电子系统的电磁场测量。采用该探头可提高电磁场检测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN118033502A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410158474.2
申请日：2024-02-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及磁场探测技术领域，特别是涉及一种磁场测量探头和系统。磁场测量探头包括目标测量线圈和测量增强电路；目标测量线圈与增强电路连接；目标测量线圈，用于探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；测量增强电路，用于配合目标测量线圈探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号；其中，第一磁场信号用于生成干扰源的电场分量；第二磁场信号用于生成干扰源的磁场分量。本申请相比起现有技术中控制磁场测量探头进行多次测量，实现分别获取干扰源的电场分量和磁场分量的过程，能够有效的提高获取电场分量和磁场分量的效率，防止在对干扰源进行多次测量时引入机械位置误差，从而导致测量结果出现偏差。
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公开(公告)号：CN118033498A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156445.2
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场测量探头、方法、装置和系统。属于磁场探测技术领域，所述方法包括：包括第一探测电路、第二探测电路和连接器；第一探测电路包括第一差分环路和第一寄生环路。第二探测电路包括第二差分环路和第二寄生环路。其中，第一探测电路用于探测干扰源发射的第一磁场信号；第二探测电路用于探测干扰源发射的第二磁场信号。通过连接器，将第一磁场信号和第二磁场信号传输至外部设备，以供外部设备根据第一磁场信号和第二磁场信号确定干扰源的磁场信息。本申请的磁场测量探头基于第一探测电路和第二探测电路有效提升了干扰源探测时的磁场测量灵敏度和测量精度。
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