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公开(公告)号：CN112595432A
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN202011354823.6
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01K11/32
Abstract: 本发明公开了一种光纤光栅温度测量装置，包括支撑主板，所述支撑主板上设置有温度测量机构，所述支撑主板上还设置有固定机构，所述温度测量机构包括测量主体，所述测量主体内设置有测量腔，所述测量腔的内壁上设置有隔温层，所述测量主体内对称设置有两个连接杆一，所述连接杆一与测量光纤光栅连接，还包括到达传感器，所述到达传感器与测量光纤光栅电性连接，所述到达传感器还与温控传感器电性连接，所述测量主体上还设置有与温控传感器电性连接的温度显示器，本申请中的光纤光栅温度测量装置，可以根据使用者的使用需求同时对多种物品进行检测，并且可以很方便的移动，具有极大的进步。
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公开(公告)号：CN110501279A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910858949.8
申请日：2019-09-11
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明公开了一种多因素综合高原高寒气候环境模拟加速试验装置，包括试验箱体、气压系统、光源系统、温湿度调节系统、循环风系统和控制系统。本发明采用PLC或单片机控制光源的辐射功率和紫总比、气压升降、温度升降、加湿除湿、风速等动作。本发明能够形成一种由光照、气压、温度、湿度和风速五种环境因素综合而成的人工模拟或强化的高原高寒等环境，用于试验并评价材料、零部件及装备的高原高寒气候环境适应性。通过控制部分环境因素，本发明还可以模拟寒区环境、干热环境、热带雨林环境和高空环境等。本发明还可用于开展多项已有标准试验，包括低气压试验、光老化试验、高低温试验、湿热试验等，达到一箱多用的效果。
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公开(公告)号：CN115598157B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202110709363.2
申请日：2021-06-25
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。
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公开(公告)号：CN115598157A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110709363.2
申请日：2021-06-25
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所(CN)
IPC: G01N23/20008 , G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。
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公开(公告)号：CN112461739B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202011255961.9
申请日：2020-11-11
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明提供了用于大型柱状样品的自然环境试验装置及使用方法，包括V形支撑部，其内侧空间用于容纳大型柱状样品，其外壁连接调节机构，采用调节机构控制V形支撑部的张合程度，在V形支撑部内壁设置有多个间隔布置的点状支撑，在V形支撑部内侧空间下部设置有升降机构，升降机构的伸缩杆顶部固定连接托座；使用方法步骤包括：初步调节V形支撑部张开程度，调节升降机构使托座伸至合适高度，将样品搁放在托座上，调节其中一个活动件，使其点状支撑抵靠在大型柱状样品外壁，调节另一个活动件使两个活动件的指针所指示的角度相同；试验结束后拆除。本发明通用性好，稳定性好，承载性能好，灵活性好，结构简单，方便拆卸，便于携带、安装和移动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114486693A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202011250152.9
申请日：2020-11-11
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供了一种自然环境试验用凹型支撑装置及使用方法，装置包括支架，支架上设置有弧形托架，弧形托架内侧用于容纳棒状样品，弧形托架上径向设置有支撑调节杆，支撑调节杆顶端位于弧形托架内侧，所有支撑调节杆轴线的延长线垂直相交于棒状样品的轴线；使用方法的步骤包括：调节两套支架的间距，调节支撑调节杆的伸出量，使所有支撑调节杆顶端组成的弧面与棒状样品的外壁基本重合；将棒状样品搁放在弧形托架内侧的支撑调节杆顶端，检查所有支撑调节杆顶端是否与棒状样品外壁接触，并对未接触的支撑调节杆进行二次调节使其顶端抵靠在棒状样品外壁。本发明通用性喝稳定性好，承重能力强，使用方便。
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公开(公告)号：CN114441426A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111580913.1
申请日：2021-12-22
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种环境效应监测装置及系统，具体包括：至少一个石英晶体谐振器，石英晶体谐振器包括由石英晶体制成的测试体和镀在测试体表面的金属膜；当有多个石英晶体谐振器时，多个石英晶体谐振器中的测试体表面分别镀多种不同金属活性的金属膜；控制模块，用于控制每个石英晶体谐振器在多个测试时间点下工作，并获取每个石英晶体谐振器的测试体在多个不同测试时间点下的多个谐振频率；显示模块，用于在控制模块的控制下，显示控制模块获取的谐振频率数据。本发明实施例提供的方案，结构小巧，方便移动，扩大了环境效应监测范围，能够用于户外环境效应监测；且利用石英晶体谐振器直接振荡测量测试体的谐振频率，能够提高测试效率和测试准确度。
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公开(公告)号：CN113740366A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202010459120.3
申请日：2020-05-27
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01N23/20 , G01N23/20008
Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置，方法步骤包括：采用透射的短波长特征X射线衍射，无损测定样品内部某一方向（h1k1l1）晶面的晶体取向角（ϑ1，κ1），并判定该样品晶面取向角是否超差；在该晶面的（ϑ1，κ1）方向上，平移样品扫描测量被测样品各部位的（h1k1l1）晶面衍射强度及其分布，根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明，解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。
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公开(公告)号：CN113670801A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110776389.9
申请日：2021-07-08
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
Abstract: 本发明提供了直升机连接结构湿热海洋大气环境试验方法，步骤包括：对试验件施加当量1年飞行强度的拉‑拉正弦疲劳载荷；结合直升机服役所在沿海湿热地区实测的最高温度和最大相对湿度对试验件开展湿热试验；结合直升机服役所在沿海湿热地区实测的最高温度和太阳年紫外辐射量极大值对试验件开展紫外/冷凝试验；结合直升机服役所在沿海湿热地区实测的最高氯离子含量及雨水最低pH值对试验件开展盐雾试验；结束后进行性能检测。本发明方案能够有效模拟直升机停放时连接结构早晚多受高湿、腐蚀介质作用，白天受紫外线辐射，飞行过程受疲劳载荷作用的实际情况，能再现湿热海洋大气环境下长期服役的损伤现象和损伤机理，提高了试验的模拟性和有效性。
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公开(公告)号：CN113310611A
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202110784497.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 中国兵器工业第五九研究所
IPC: G01L1/25
Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。
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