膜前驱体蒸发系统和使用方法

    公开(公告)号:CN101384749B

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN200780005070.4

    申请日:2007-01-16

    CPC classification number: C23C16/4481

    Abstract: 本发明描述了与高传导率蒸汽传输系统(40)相耦合的多盘膜前驱体蒸发系统(1),其用于通过增大膜前驱体的暴露表面积来增大沉积速率。多盘膜前驱体蒸发系统(50)包括一个或多个盘(340)。每个盘被配置为支撑并保持例如固态粉末形式或固态片形式的膜前驱体(350)。另外,每个盘被配置为在加热膜前驱体的同时提供膜前驱体上方的载气的高传导率流动。例如,载气在膜前驱体上方向内流动,并且竖直地向上经过可堆叠盘内的流动通道(318),并经过固态前驱体蒸发系统中的出口(322)。

    真空处理装置
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102332391A

    公开(公告)日:2012-01-25

    申请号:CN201110204655.7

    申请日:2011-07-13

    CPC classification number: H01L21/67173 H01L21/67736

    Abstract: 本发明提供一种真空处理装置,所解决的课题在于:当在多个处理区域中对各个基板进行真空处理时,一边抑制装置整体的覆盖区轨迹,一边抑制基板移载所需要的时间,使其变短。在负载锁定室(2a、2b)之间,将三个处理单元(11)和搬送组件(12)按照从上游一侧向下游一侧的顺序气密地排列在一列上。另外,配置用于从上游一侧向各个处理单元(11)内移载晶片(W)的晶片搬送装置(24),并将用于从下游一端的处理单元(11)向负载锁定室(2b)移载晶片(W)的晶片搬送装置(24)设置在搬送组件(12)内。而且,同时进行从负载锁定室(2a)向上游端的处理单元(11)移载晶片(W)、从下游端的处理单元(11)向负载锁定室(2b)移载晶片(W)、和从上游一侧的处理单元(11a)向下游一侧的处理单元(11)移载晶片(W)。

    基板载置机构和基板处理装置

    公开(公告)号:CN101802257B

    公开(公告)日:2011-08-24

    申请号:CN200880106580.5

    申请日:2008-09-03

    Abstract: 本发明涉及一种载置有被处理基板的基板载置机构,具备:加热板(21),其具有被处理基板载置面(21a),埋设有将被处理基板(W)加热至膜堆积的成膜温度的加热体,并具备具有宽径部(94b)和窄径部(94a)的第一升降销插通孔(81a);调温套,其被形成为至少覆盖被处理基板载置面(21a)以外的表面的,温度为不足成膜温度的非成膜温度,具备具有宽径部(92b)和窄径部(92a)的第二升降销插通孔(81c);具备能够插通宽径部(94b)的盖部(93b)和能够插通宽径部(94b)和窄径部(94a)双方的轴部(93a)的第一升降销(24b-1);具备能够插通宽径部(92b)的盖部(91b)和能够插通宽径部(92b)和窄径部(92a)双方的轴部(91a)的第二升降销(24b-2)。

    包括可置换可堆叠盘的固态前驱体传输系统

    公开(公告)号:CN101065515B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200580040912.0

    申请日:2005-10-03

    CPC classification number: C23C16/4481 C23C16/16

    Abstract: 本发明描述了用于与高传导率蒸汽传输系统相耦合的多盘固态前驱体蒸发系统(50、150、300、300’)的可置换前驱体盘,其用于通过增大固态前驱体的暴露表面积来增大沉积速率。多盘固态前驱体蒸发系统(50、150、300、300,)被配置为耦合到薄膜沉积系统(1、100)的处理室(10、110),并且包括基座盘(330)以及一个或多个可堆叠上部盘(340)。每个盘(330、340)被配置为支撑并保持例如固态粉末形式或固态片形式的膜前驱体(350)。另外,每个盘(330、340)被配置为在加热膜前驱体(350)的同时提供膜前驱体(350)上方的载气的高传导率流动。例如,载气在膜前驱体(350)上方向内流动,并且垂直地向上经过可堆叠盘(370、370’)内部的流动通道(318),并经过固态前驱体蒸发系统(50、150、300、300’)中的出口(322)。

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