-
公开(公告)号:CN102538955A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110371927.2
申请日:2011-11-10
申请人: 意法半导体(R&D)有限公司
发明人: E·芬德莱
CPC分类号: G06F1/1684 , G01J1/0219 , G01J1/0271 , G01J1/0411 , G01J1/0422 , G01J1/06 , G01J1/4204 , G01J1/4228 , G01J5/0025 , G01J5/025 , G01J5/0265 , G01J5/041 , G01J5/0806 , G01J5/0896 , G01S7/4816 , G01S17/026 , G01S17/36 , H04M1/72569 , H04M2250/12
摘要: 本发明提供了一种辐射传感器,其包括:一个或者多个第一像素和一个或者多个第二像素。第一光学元件设置在第一像素和第二像素之上,并且具有第一视场。第二光学元件设置在一个或者多个第二像素之上,并且具有第二视场。第二光学元件定位在第一光学元件与一个或者多个第二像素之间,其中第一视场基本上比第二视场窄,并且基本上位于第二视场内。
-
公开(公告)号:CN101221088B
公开(公告)日:2011-11-30
申请号:CN200710200033.0
申请日:2007-01-10
申请人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
CPC分类号: G01M11/0285 , G01J1/0411 , G01J1/0425 , G01J1/0488 , G01J2001/0481
摘要: 本发明提供一镜片光穿透率检测装置,其包括:一发出一定波长范围光束的光源装置,其内置一光电感应器用于感应光源装置发出光束的信号强度;一将光束准直且聚焦投射至待测镜片上的聚焦装置;一接收穿透待测镜片光束的积分球;一使待测镜片与聚焦装置及积分球相对移动的移动平台;一包括一感光元件以侦检积分球接收的光束并转为一待比较信号的侦检器,感光元件选自电荷偶合装置及互补金属氧化物半导体之一;一置于光源装置上根据侦检器的侦检范围调节发射出光束的波长范围的滤光调节器,一比较光电感应器感应的信号强度与上述待比较信号强度的处理器,得出待测镜片的光穿透率。本发明还提供一集成有该镜片光穿透率检测装置的镜片组装设备。
-
公开(公告)号:CN102077365A
公开(公告)日:2011-05-25
申请号:CN200980125121.6
申请日:2009-06-25
申请人: 欧司朗光电半导体有限公司
IPC分类号: H01L31/052 , H01L33/00 , H01L31/0224
CPC分类号: G02B19/0028 , F21K9/60 , G01J1/0411 , G01J1/0422 , H01L31/022408 , H01L31/022433 , H01L31/0547 , H01L33/38 , H01L33/58 , H01L2924/0002 , Y02E10/52 , H01L2924/00
摘要: 本发明提出了一种光电子装置(1),其包括带有光学结构(4)的光学装置(3)以及带有接触结构(6)的发射辐射或者接收辐射的半导体芯片(2),光学结构(4)具有多个光学元件(4a),接触结构(6)具有用于电接触半导体芯片(2)的多个接触元件(6a)并且与光学结构(4)垂直间隔,其中在将接触结构(6)投影到光学结构(4)的平面中的情况下接触元件(6a)设置在光学元件(4a)之间的间隙中。
-
公开(公告)号:CN101187705B
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN200710179913.4
申请日:2007-12-19
申请人: 中国科学院空间科学与应用研究中心
IPC分类号: G01M11/00
CPC分类号: G01J1/429 , G01J1/02 , G01J1/0271 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0411 , G01J3/10
摘要: 本发明提供一种用于紫外光学仪器辐射定标的光谱辐照度标准光源,包括一光源部件、升降支架、准直部件和灯室;其中灯室的前端开有一用于输出氙灯辐射的窗口,氙灯电源与氙灯电连接;一圆筒遮光罩的一端口与灯室上的窗口连通、且同心安装,透镜和光栏顺序设置在遮光罩内的氙灯辐射光路上,氙灯处于透镜的焦点位置,光栏位于透镜的另一侧;该准直部件和灯室共同安装在升降支架上。本发明选用的超静氙灯具备短弧氙灯在紫外波段有较强的辐射强度,同时采用高耐用阴极,使得灯的弧点在整个寿命期间几乎没有漂移和波动;该光源可使用在200-2000nm的紫外、可见和近红外波段,特别是对波长小于400nm的紫外波段,由于其辐照度高,可有效提高定标的信噪比。
-
公开(公告)号:CN101997011A
公开(公告)日:2011-03-30
申请号:CN201010266753.9
申请日:2010-08-24
申请人: 株式会社半导体能源研究所
IPC分类号: H01L27/144 , H01L31/0216 , G02F1/133 , H01L27/32
CPC分类号: G01J1/02 , G01J1/0209 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0488 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/513
摘要: 本发明涉及光电检测器和显示器件,入射到光电转换元件的光量在防止来自光透射基板下方的背光的杂散光入射到光电转换元件的同时得到了增加。光阻挡层由在相对光传播方向的一侧相互重叠的覆盖在光透射基板之上的光电转换元件的彩色滤光片与覆盖在相邻像素内的光电转换元件的彩色滤光片来形成。另外,通过在彩色滤光片之上提供微透镜,按常规不被检测到的光被聚集于光电转换元件,并且因此入射到光电转换元件的光量得以增加。
-
公开(公告)号:CN101943601A
公开(公告)日:2011-01-12
申请号:CN201010224930.7
申请日:2010-07-05
申请人: 株式会社电装
发明人: 后藤晃一
CPC分类号: G01J1/02 , B60S1/0837 , G01J1/0204 , G01J1/0214 , G01J1/0271 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0411
摘要: 一种光检测装置(10)包括外壳(20)、第一导光部件(30)和第一受光元件(40)。预定光(6)入射进该导入部件的入射面(31)。该导入部件的射出面(32)射出入射到入射面的光。第一距离(D)限定在射出面的顶点和该导光部件的焦点(F)之间,并且第二距离(d10)限定在射出面的顶点和该受光元件的受光面(41)之间。射出面具有按照第一距离小于第二距离的方式的凸透镜形状。
-
公开(公告)号:CN101821595A
公开(公告)日:2010-09-01
申请号:CN200880106717.7
申请日:2008-09-12
申请人: 波光股份有限公司
CPC分类号: G01J1/4257 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0448
摘要: 根据典型实施方式,用于测量激光束的测量装置包括放大透镜系统,其具有在激光束的光束路径中接连布置并且焦点重合的总共两个透镜(10,12)的,以及像机(74),其布置在两个透镜(10,12)之后在最后透镜(12)的焦点中并且包括从被放大的激光束产生电子图像的电子图像传感器。透镜(10,12)与摄像机(74)一起可沿着光束路径相对测量装置的参照点(46)调整,以便能以此方式找到激光束的光束腰部和确定激光束的直径分布。测量装置还包括适配器(42),其围绕光束路径用于耦接测量装置到提供激光束的激光系统。在这种情况中,适配器(42)形成用于激光系统的停止面(46),该停止面基于激光束的光束轴线(16)轴向地定向,并允许测量装置被原地耦接到激光系统的安装场所。
-
公开(公告)号:CN101769717A
公开(公告)日:2010-07-07
申请号:CN200910138110.3
申请日:2009-04-30
申请人: 株式会社三丰
发明人: 埃里克·H·阿尔滕多夫 , 斯科特·哈西拉 , 马修·D·沃森
CPC分类号: G01B11/0608 , G01J1/0242 , G01J1/0411 , G01N21/8806 , G02B7/32 , G02B7/36 , G02B21/245 , G02B27/0075
摘要: 本发明提供了一种扩大范围的聚焦传感器。所述聚焦传感器包括中继透镜组件以将物镜和所述中继透镜装置之间的平面成像到邻近所述聚焦传感器的聚焦检测装置的入射光孔的平面。在一些实施例中,所述物镜光孔被成像在所述聚焦检测器入射光孔上。在一些实施例中,照明光束穿过所述中继透镜装置并在其通道上被放大以便由所述物镜输出,并且所述反射聚焦检测光束回穿过所述物镜和所述中继透镜装置,并在被输入到所述聚焦检测装置之前被减小。在一些实施例中,所述聚焦检测装置可以包含与高分辨率的Shack-Hartmann聚焦检测器结合的较宽范围的聚焦检测器,以及在其他的实施例中使用了单个延伸范围的Shack-Hartmann聚焦检测器。
-
公开(公告)号:CN101473200A
公开(公告)日:2009-07-01
申请号:CN200780022374.1
申请日:2007-06-13
申请人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人: E·J·梅杰 , R·A·M·希克梅特
CPC分类号: G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0414 , G01J1/32 , G01J2001/4252 , H05B33/0803 , H05B33/0869 , Y02B20/341
摘要: 本发明涉及一种用于测量光的器具和包括这种器具的发光体。这种器具测量来自位于第一位置的第一发光设备的光并包括光传送设备和光传感器,该光传送设备具有至少三个表面:第一表面、第二表面和第三表面。将第一表面布置成用于入射来自该第一位置的光;将第二表面布置成用于在该光传送设备内反射入射光;且将第三表面布置成使输出光入射到该光传感器上。
-
公开(公告)号:CN108575098A
公开(公告)日:2018-09-25
申请号:CN201780008263.9
申请日:2017-02-06
申请人: 德克萨斯仪器股份有限公司
IPC分类号: H01L31/052 , H01L31/0232 , H01L31/103 , G01J1/02 , G01J1/04 , G01J1/42
CPC分类号: H01L31/02327 , G01J1/02 , G01J1/0209 , G01J1/0411 , G01J1/42 , H01L25/167 , H01L31/103
摘要: 在所描述的示例中,集成电路(100)包括基板(102)、光电二极管(110)和菲涅耳结构(120)。光电二极管(110)形成在基板(102)上,并且光电二极管(110)具有p-n结(116)。菲涅耳结构(120)形成在光电二极管(110)上方,并且菲涅耳结构(120)限定定位在p-n结(116)的附近区域内的聚焦区(122)。一方面,菲涅耳结构(120)可以包括充当衍射装置的沟槽图案(132、134、136、138)以用于将入射光子重定向并且集中到聚焦区(124)。另一方面,菲涅耳结构(120)可以包括充当衍射装置的布线图案以用于将入射光子重定向并且集中到聚焦区(122)。又一方面,菲涅耳结构(120)可以包括充当折射装置的透明电介质图案以用于将入射光子重定向并且集中到聚焦区(122)。
-
-
-
-
-
-
-
-
-