-
-
公开(公告)号：CN119915319A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202411367714.6
申请日：2024-09-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： T·S·库克
Abstract: 本发明公开了具有屏蔽结构的感应式编码器，其包括：标尺，该标尺包括周期性标尺图案；和检测器部分，该检测器部分被配置为相对于该周期性标尺图案沿测量轴方向移动。该检测器部分包括：场生成部分，该场生成部分被配置为生成变化的磁通量；和感测部分，该感测部分包括一个或多个感测元件集合并且被配置为提供检测器信号，这些检测器信号对由该周期性标尺图案提供的对该变化的磁通量的局部影响作出响应，其中每个感测元件集合耦接到传感器通孔集合。该检测器部分还包括：多个屏蔽结构SST，其中每个屏蔽结构SST邻近传感器通孔集合定位并且包括多个屏蔽通孔，并且在每个屏蔽结构中，一个或多个屏蔽回路由通过导体部分耦接在一起的该多个屏蔽通孔形成。
-
公开(公告)号：CN119779111A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411359276.9
申请日：2024-09-27
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 井上友人
IPC: G01B5/00
Abstract: 本发明涉及一种校准数据获取方法、检验量规、存储介质和计算机程序产品。该校准数据获取方法包括：第一保持步骤，用于利用量规移动设备(50)将设置有多个待检查部(71)的检验量规(70)保持在第一姿势；第一测量步骤，用于通过利用三维测量设备(10)测量多个待检查部(71)之间的距离来获取第一距离数据；第二保持步骤，用于在第一测量步骤之后，利用量规移动设备(50)将检验量规(70)保持在第二姿势；第二测量步骤，用于通过利用三维测量设备(10)测量第二姿势的检验量规(70)的多个待检查部(71)之间的距离来获取第二距离数据；以及生成包括第一距离数据和第二距离数据的校准数据的步骤。
-
公开(公告)号：CN115707934B
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202210997391.3
申请日：2022-08-19
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01D5/347
Abstract: 提供了一种编码器，即使标尺通过绕与接收表面正交的轴线旋转而相对于接收单元以倾斜方式设置，也能抑制精度劣化。编码器1包括标尺2和检测头3。检测头3包括光源(发射单元)4和光接收单元(接收单元)5。光接收单元包括光接收表面50，将在光接收表面50处接收的光转换成具有两个相位的差分检测信号并输出。光接收表面50包括元件阵列组7，其包括沿正交方向以平行方式设置的四个元件阵列71‑74，每个阵列包括多个光接收元件(接收元件)500。元件阵列组7中的多个元件阵列71‑74布置在(i)在正交方向上从参考位置到正相位信号元件阵列71、72的距离和(ii)在正交方向上从参考位置到负相位信号元件阵列73、74的距离之和对于至少两相位的所有相位都相同的位置处。
-
公开(公告)号：CN119374520A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202410940012.6
申请日：2024-07-15
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/245 , G01B5/00
Abstract: 本发明提供了一种用于测量三维几何形状的测量设备的校准夹具、校准方法和测量系统。该校准夹具(300)用于校准测量设备(10)，该测量设备(10)用于对测量对象的三维几何形状进行测量并且包括用于拍摄测量对象的多个摄像部(132)，该校准夹具包括：多个待测量元件(31)；以及框架部(40)，其附接有多个待测量元件(31)，其中，多个待测量元件(31)各自包括：主体部(32)，其具有预定形状；以及多个标签部(33)，其设置在主体部(32)上，其中，用于识别待测量元件(31)的识别码(36)被示出在各个标签部上。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119245699A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202410876260.9
申请日：2024-07-02
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 桐山哲郎
Abstract: 提供了一种校正值计算方法、程序和装置，该方法包括：极坐标计算步骤，用于针对N个相位角θi和与每个相位角θi相对应的利萨茹半径Ri计算平方半径Ri2；以及校正值计算步骤，用于基于每个相位角θi和平方半径Ri2，至少计算信号X的偏移误差Cx的校正残差ΔCx、信号Y的偏移误差Cy的校正残差ΔCy、信号X和Y的振幅比误差Ka的校正残差ΔKa和信号X与信号Y之间的相位差误差Py的校正残差ΔPy，然后基于校正残差计算校正值。使用每个相位角θi和与每个相位角θi相对应的平方半径Ri2，通过最小二乘法获得近似表达式模型中的系数，并且从获得的系数获得校正残差。
-
公开(公告)号：CN119223129A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202410842334.7
申请日：2024-06-27
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了一种刻度板姿势检验方法、记录介质、刻度板姿势检验设备和计算机程序产品。该刻度板姿势检验方法包括用于从照相机获取与刻度板有关的图像数据的图像数据获取步骤、用于在图像数据中提取第一对比区域和第二对比区域的区域计算步骤以及用于基于明度或颜色来将第一对比区域与第二对比区域进行对比的对比处理步骤。对比处理步骤包括计算第一对比区域和第二对比区域各自中的相邻像素的像素值或亮度值之间的差，以将第一对比区域中的该差的大小与第二对比区域中的该差的大小进行对比。照相机和刻度板之间的相对姿势是基于对比处理步骤中的对比结果来进行检验的。
-
公开(公告)号：CN112304270B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202010744789.7
申请日：2020-07-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明提供一种形状测定装置和形状测定方法。形状测定装置(100)是对包括多个已知形状部和多个未知形状部且已知形状部隔着未知形状部周期性地配置的测定对象进行测定的测定装置。该形状测定装置(100)具备具有能够接触测定对象的触头的仿形测头、使仿形测头移动的移动机构、控制移动机构来实施自主仿形测定的自主仿形测定部(143)、运算仿形测头的移动路径的测定路径计算部(23)以及控制移动机构来使仿形测头沿着移动路径移动并实施设计值仿形测定的设计值仿形测定部(142)，其中，测定路径计算部(23)基于由自主仿形测定部(143)测定出的未知形状部的测定结果和已知形状部的设计数据，来计算针对测定对象的移动路径。
-
公开(公告)号：CN112461165B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202010940511.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
-
公开(公告)号：CN114763981B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202111647870.4
申请日：2021-12-30
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： T.S.库克
IPC: G01B3/20
Abstract: 一种感应式位置编码器包括标尺、检测器和信号处理器。标尺包括沿测量轴(MA)布置的具有空间波长W1的信号调制元件(SME)的周期性图案。检测器包括感测元件和生成变化磁通量的场生成线圈。感测元件包括导电回路，所述导电回路响应于对相邻SME提供的磁通量的局部影响而提供检测器信号。导电回路具有平均MA尺寸，所述平均MA尺寸在空间上滤除三次空间谐波信号分量，并且根据“回路内”移位关系沿MA定位，其中第一和第二相等数量的正极性和负极性回路在相反方向上移位W1/4K(K＝3，5，7，9)。检测器信号中的三次和K次空间谐波分量均减少，同时使用新颖的“布局友好”回路布置来解决长期存在的不利布局问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
1827
records
(took 0.056 seconds)
