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    一种PCB偏孔检测方法
    2.
    发明授权
    一种PCB偏孔检测方法 有权

    公开(公告)号：CN118654609B

    公开(公告)日：2024-11-12

    申请号：CN202411132189.X

    申请日：2024-08-19

    申请人： 广州广合科技股份有限公司

    发明人： 刘宇翔 ,  黄欣 ,  黎钦源 ,  钟根带 ,  曾红

    IPC分类号： G01B15/00 ,  G01B15/04

    摘要： 本发明公开了一种PCB偏孔检测方法，包括：对钻孔进行扫描，获取钻孔形状轮廓；所述钻孔包括圆柱孔段和偏孔孔段；所述圆柱孔段与目标孔重合；根据钻孔的形状轮廓获得圆柱孔段的轴心线和偏孔孔段的轴心线；确定坐标原点，获取偏孔轴心点在坐标系中的位置；所述偏孔轴心点位于偏孔孔段的轴心线上；计算偏孔轴心点的偏移信息，汇总后得出偏孔孔段的偏移信息。本申请提供的一种PCB偏孔检测方法，通过对钻孔进行扫描和三维模型的建立，能够准确计算偏孔孔段的偏移信息，提高了偏孔检测的精度。

    X射线测量装置的校正方法
    3.
    发明授权
    X射线测量装置的校正方法 有权

    公开(公告)号：CN112556611B

    公开(公告)日：2024-10-08

    申请号：CN202010946721.7

    申请日：2020-09-10

    申请人： 株式会社三丰

    发明人： 今正人 ,  真家洋武 ,  佐佐木诚治 ,  宫仓常太

    IPC分类号： G01B15/04

    摘要： 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

    一种单一颗粒物氧化过程的研究系统及其检测方法
    4.
    发明授权
    一种单一颗粒物氧化过程的研究系统及其检测方法 有权

    公开(公告)号：CN118424952B

    公开(公告)日：2024-09-20

    申请号：CN202410868153.1

    申请日：2024-07-01

    申请人： 西华大学 ,  四川启涅科技有限公司

    发明人： 韩伟强 ,  李春杰 ,  叶升 ,  房开涛 ,  罗德前 ,  陆远国

    IPC分类号： G01N5/04 ,  G01N23/04 ,  G01B15/00 ,  G01B15/04 ,  G01N1/22

    摘要： 本发明涉及单一颗粒物氧化过程研究技术领域，公开了一种单一颗粒物氧化过程的研究系统及其检测方法。研究系统包括颗粒物产生模块、颗粒物采集装置和颗粒物检测分析模块；颗粒物产生模块为运行于RCCI工况下柴油机，用于产生颗粒物；颗粒物采集装置用于颗粒物的采集；颗粒物检测分析模块包括场发射透射电子显微镜、高精度天平、耐高温容器、环状水冷夹具、热重分析仪和MIP；在颗粒物对整个氧化过程分析中，通过颗粒物在不同氧化阶段其物理特性变化情况的比较分析，能够更加精确和直观的反映颗粒物氧化活性的变化，为柴油机减排提供了较为完整的数据支持，以及对柴油机相关领域进行更加深入的研究具有重要指导意义。

    针尖状样品承载组件、电子显微镜及其成像方法
    5.
    发明公开
    针尖状样品承载组件、电子显微镜及其成像方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118571733A

    公开(公告)日：2024-08-30

    申请号：CN202310180232.9

    申请日：2023-02-23

    申请人： 长鑫存储技术有限公司

    发明人： 刘传涛 ,  崔慧成

    IPC分类号： H01J37/20 ,  G01B15/04 ,  G01N23/04 ,  H01J37/26 ,  H01J37/28

    摘要： 本公开涉及一种针尖状样品承载组件、电子显微镜及其成像方法，针尖状样品承载组件包括：承载台、内样品杆、外样品杆、主样品杆及第一驱动机构。第一驱动机构驱动主样品杆绕其中心轴线自转，主样品杆同步带动第二齿轮转动，第二齿轮同步带动第一齿轮转动，第一齿轮相应同步带动内样品杆转动，内样品杆转动时能带动承载台转动，承载台相应同步带动其上放置的针尖状样品转动。其中，由于D1：D2≦5/6，这样在主样品杆转动至150°时，便能实现带动内样品杆的转动角度范围达到180°，从而能实现拍摄180°旋转角度下清晰的二维透射电镜图像，得到相互取向已知的系列二维透射电镜图像，使得能够降低数据丢失风险，提高三维图像重构质量。

    多传感器数据融合的高精度三维扫描雷达
    6.
    发明授权
    多传感器数据融合的高精度三维扫描雷达 有权

    公开(公告)号：CN117968588B

    公开(公告)日：2024-08-27

    申请号：CN202410124166.8

    申请日：2024-01-29

    申请人： 夏阳

    发明人： 夏阳

    IPC分类号： G01B15/04 ,  G01S13/00 ,  G01S13/88 ,  G01S7/02

    摘要： 本申请提供了一种多传感器数据融合的高精度三维扫描雷达，包括控制模块和至少两个扫描模块；至少两个扫描模块对应装设在三维扫描雷达内部的至少一个安装面上；每一扫描模块，用于在测量容器内物料表面的三维形态之前，获取并根据对应的参照点云数据确定出所述三维扫描雷达的安装位姿信息；以及，在测量所述容器内物料表面的三维形态过程中，生成对应的物料校准点云数据并上传至控制模块；控制模块，与每一扫描模块建立通讯连接，至少用于接收并根据全部物料校准点云数据，解析出物料精密参数和/或物料表面三维形态精密图。本申请至少能够通过调整每一扫描模块在单个检测周期内的扫描信号个数，平衡整个三维扫描雷达的扫描分辨率和扫描效率。

    一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法
    8.
    发明授权
    一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法 有权

    公开(公告)号：CN115014251B

    公开(公告)日：2024-08-16

    申请号：CN202210817793.0

    申请日：2022-07-12

    申请人： 重庆大学

    发明人： 何杰 ,  靳晓光 ,  李翰林 ,  薛云川 ,  杨忠平 ,  赵茜 ,  汪宇航 ,  杨兵

    IPC分类号： G01B15/04

    摘要： 本发明属于光学三维测量技术领域，尤其是涉及一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法。该测量装置主要由框架、XY两轴运动机构、激光测距传感器、限位开关、相机和微处理器组成；XY两轴运动机构上安装有移动滑块，XY两轴运动机构用于驱动移动滑块在平面上移动，激光测距传感器安装在移动滑块上；框架顶端安装有第一限位开关，移动滑块上安装有第二限位开关；相机安装于框架顶端，且位于XY两轴运动机构的上方，相机用于拍摄待测物体的数字图像关联法图像；微处理器上安装有SD卡。本发明可测定物体表面的三维形貌和形变，该方法具有成本低、精度高、测量范围大、测点分布均匀等优点，可用于一般物体表面的形貌及形变测量。

    物料三维形态测量系统
    10.
    发明授权
    物料三维形态测量系统 有权

    公开(公告)号：CN117629105B

    公开(公告)日：2024-06-25

    申请号：CN202311657444.8

    申请日：2023-12-06

    申请人： 北京锐达仪表有限公司

    发明人： 呼秀山 ,  李圆圆

    IPC分类号： G01B11/24 ,  G01B15/04 ,  G01S13/89 ,  G01S17/894 ,  G01F23/292 ,  G01F23/284

    摘要： 本公开提供了一种物料三维形态测量系统，包括：第一测量装置；第二测量装置；摆动装置，第二测量装置配置在摆动装置上，以使得第二测量装置能够跟随摆动装置的摆动而动作至多个角度以执行微波信号和/或激光信号的发射以及返回信号的接收；主控电路板，主控电路板分别与第一测量装置、第二测量装置和摆动装置通信连接，主控电路板包括：信号采集模块，信号采集模块能够对第一测量装置获得的图像信息和第二测量装置接收的返回信号进行采集以用于生成待测物料的最终三维形态信息；及控制模块，控制模块能够生成摆动控制信号以对摆动装置的摆动进行控制，使得摆动装置能够动作至多个角度。