一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN115014251A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210817793.0

    申请日:2022-07-12

    申请人: 重庆大学

    IPC分类号: G01B15/04

    摘要: 本发明属于光学三维测量技术领域,尤其是涉及一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法。该测量装置主要由框架、XY两轴运动机构、激光测距传感器、限位开关、相机和微处理器组成;XY两轴运动机构上安装有移动滑块,XY两轴运动机构用于驱动移动滑块在平面上移动,激光测距传感器安装在移动滑块上;框架顶端安装有第一限位开关,移动滑块上安装有第二限位开关;相机安装于框架顶端,且位于XY两轴运动机构的上方,相机用于拍摄待测物体的数字图像关联法图像;微处理器上安装有SD卡。本发明可测定物体表面的三维形貌和形变,该方法具有成本低、精度高、测量范围大、测点分布均匀等优点,可用于一般物体表面的形貌及形变测量。

    一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN115014251B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202210817793.0

    申请日:2022-07-12

    申请人: 重庆大学

    IPC分类号: G01B15/04

    摘要: 本发明属于光学三维测量技术领域,尤其是涉及一种物体表面三维形貌及形变的测量装置和测量方法。该测量装置主要由框架、XY两轴运动机构、激光测距传感器、限位开关、相机和微处理器组成;XY两轴运动机构上安装有移动滑块,XY两轴运动机构用于驱动移动滑块在平面上移动,激光测距传感器安装在移动滑块上;框架顶端安装有第一限位开关,移动滑块上安装有第二限位开关;相机安装于框架顶端,且位于XY两轴运动机构的上方,相机用于拍摄待测物体的数字图像关联法图像;微处理器上安装有SD卡。本发明可测定物体表面的三维形貌和形变,该方法具有成本低、精度高、测量范围大、测点分布均匀等优点,可用于一般物体表面的形貌及形变测量。