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公开(公告)号：CN101349551B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200710152668.8
申请日：2007-07-20
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明提供了一种轮廓测定设备(12)。该轮廓测定设备(12)包括条纹投影装置(32)，其被配置用以将条纹图样投影到对象(22)上；以及光学单元(34)，其被配置用以捕获由对象(22)调制的失真条纹图样的图像。该轮廓测定设备(12)还包括信号处理单元(60)，其被配置用以处理来自光学单元(34)的所捕获图像，以便从图像中滤除噪声，并获得与对象(22)的制造或修理相关的参数的实时估计。
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公开(公告)号：CN102565071A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110436196.5
申请日：2011-12-16
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01M5/0016 , F03D17/00 , F03D80/50 , G01M5/0033 , G01M5/0091 , G01M11/081 , Y02E10/72
Abstract: 本发明公开一种用于在风力涡轮机的转子叶片上进行外部检查的系统和方法。该系统一般可以包括构造成至少部分地围绕转子叶片的外周边延伸的框架和与框架连接的感测装置。另外，第一间隔臂和第二间隔臂可以从框架延伸。第一间隔臂可以构造成与转子叶片的压力侧表面接触。第二间隔臂可以构造成与转子叶片的吸力侧表面接触。
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公开(公告)号：CN1955720B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200610164124.9
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种使用包括光源(22)和成像传感器(24)的光测量系统(10)来检查物体(12)的方法。该方法包括：从光源发射光，将从光源发射的光分散成衍射图案和干涉图案中的一种，并利用透镜(38)将成图案的光成像到物体上。
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公开(公告)号：CN1955635B
公开(公告)日：2010-11-03
申请号：CN200610160509.8
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
Inventor： K·G·哈丁
CPC classification number: G01B11/254
Abstract: 一种检查物体(12)的方法，包括：从光源(22)发射光(40)，将从光源发射的光投影到物体的表面，将从物体表面反射的光分离为第一图像和第二图像，利用成像传感器接收第一图像和第二图像，并且分析由成像传感器(24)接收的第一和第二图像，以便对物体的至少一部分进行检查。
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公开(公告)号：CN100407299C
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200380109070.0
申请日：2003-11-25
Applicant: 通用电气公司
Inventor： K·G·哈丁
IPC: G11B7/0065
CPC classification number: G11B7/0065
Abstract: 多个全息记录介质(104)一个处于另一之上地设置在光衬底上，并且包含普通静止或运动图像或者诸如表示书写文本的二进制数据的数据组。多个存储地址存取介质(106)交替地插入在多个全息记录介质(104)之间。存储存取介质使一对光束在特定的全息记录介质层处产生干涉图案，读取该层。通过在询问光束内空间扫描干涉图案，或者通过在波长中扫描询问光束，来选择特定的存储存取介质层。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1967141A
公开(公告)日：2007-05-23
申请号：CN200610148527.4
申请日：2006-11-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/255 , G06T7/64 , G06T2207/10028 , G06T2207/30108
Abstract: 提供一种计算机实现的方法、系统和计算机程序代码，用来特征化边折(14)，例如可引起边缘锐度的零件特征和/或几何参数，如在斜面、斜角、倒角和其它零件特征中可能遇到的。该方法能够精确地和一致地确定制造设置、例如，用于特征化边折的任何可应用的集合参数。
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公开(公告)号：CN1955720A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610164124.9
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种使用包括光源(22)和成像传感器(24)的光测量系统(10)来检查物体(12)的方法。该方法包括：从光源发射光，将从光源发射的光分散成衍射图案和干涉图案中的一种，并利用透镜(38)将成图案的光成像到物体上。
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公开(公告)号：CN1955719A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610163907.5
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。
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公开(公告)号：CN1955635A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610160509.8
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
Inventor： K·G·哈丁
CPC classification number: G01B11/254
Abstract: 一种检查物体(12)的方法，包括：从光源(22)发射光(40)，将从光源发射的光投影到物体的表面，将从物体表面反射的光分离为第一图像和第二图像，利用成像传感器接收第一图像和第二图像，并且分析由成像传感器(24)接收的第一和第二图像，以便对物体的至少一部分进行检查。
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公开(公告)号：CN1742325A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200380109070.0
申请日：2003-11-25
Applicant: 通用电气公司
Inventor： K·G·哈丁
IPC: G11B7/0065
CPC classification number: G11B7/0065
Abstract: 多个全息记录介质(104)一个处于另一之上地设置在光衬底上，并且包含普通静止或运动图像或者诸如表示书写文本的二进制数据的数据组。多个存储地址存取介质(106)交替地插入在多个全息记录介质(104)之间。存储存取介质使一对光束在特定的全息记录介质层处产生干涉图案，读取该层。通过在询问光束内空间扫描干涉图案，或者通过在波长中扫描询问光束，来选择特定的存储存取介质层。
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